在電源電路中，橋堆（BridgeRectifier）是將交流電（AC）轉(zhuǎn)換為直流電（DC）的關(guān)鍵器件。它由四個(gè)二極管組成，按特定結(jié)構(gòu)連接成全波整流電路，輸出經(jīng)過(guò)濾波后即可得到穩(wěn)定的直流電壓。然而，在現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用中，工程師常會(huì)遇到橋堆整流輸出電壓異常、波形畸變或不穩(wěn)定等問(wèn)題。這類(lèi)現(xiàn)象不僅影響電源效率，還可能導(dǎo)致后級(jí)電路異常甚至損壞。作為MDD辰達(dá)半導(dǎo)體的FAE，我

在電子電路應(yīng)用中，MDD辰達(dá)半導(dǎo)體三極管作為常見(jiàn)的基礎(chǔ)器件，被廣泛用于放大與開(kāi)關(guān)控制。然而，工程師在測(cè)試與使用中，經(jīng)常會(huì)遇到一個(gè)典型現(xiàn)象：三極管的漏電流（主要指反向漏電流I_CBO、I_CEO）偏大。這種現(xiàn)象輕則帶來(lái)電路功耗上升、靜態(tài)電壓漂移，重則導(dǎo)致器件發(fā)熱、失效甚至影響系統(tǒng)穩(wěn)定性。作為FAE，我們需要幫助客戶(hù)理解其原因并提供優(yōu)化建議。一、漏電流偏大的原因

MDD辰達(dá)半導(dǎo)體三極管在電子電路中廣泛應(yīng)用于放大、開(kāi)關(guān)、調(diào)制等場(chǎng)合。雖然器件本身的性能參數(shù)很重要，但在實(shí)際應(yīng)用中，PCB布局往往直接決定了電路的穩(wěn)定性、速度以及可靠性。很多工程師在調(diào)試時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)：同樣的三極管，換一個(gè)PCB布局，性能差異竟然非常大。這說(shuō)明三極管的PCB布局問(wèn)題不容忽視。下面結(jié)合常見(jiàn)問(wèn)題和優(yōu)化經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行分析。一、三極管PCB布局常見(jiàn)問(wèn)題走線(xiàn)過(guò)長(zhǎng)，寄

在高頻電路設(shè)計(jì)中，半導(dǎo)體器件的寄生參數(shù)往往比靜態(tài)指標(biāo)更為關(guān)鍵。高壓二極管或開(kāi)關(guān)二極管在datasheet中，通常會(huì)標(biāo)注一個(gè)結(jié)電容（Cj）參數(shù)。很多客戶(hù)在初期選型時(shí)容易忽略它，只關(guān)注耐壓、正向電流和反向恢復(fù)時(shí)間。但在實(shí)際的高頻應(yīng)用中，結(jié)電容卻可能直接決定電路的速度和信號(hào)完整性。MDD辰達(dá)半導(dǎo)體在本文將結(jié)合物理機(jī)理和應(yīng)用案例，從FAE角度進(jìn)行分析。一、結(jié)電容的本

在半導(dǎo)體器件的可靠性設(shè)計(jì)中，溫度始終是一個(gè)繞不開(kāi)的話(huà)題。無(wú)論是功率二極管、TVS管還是高壓二極管，其壽命與結(jié)溫（Tj）有著直接關(guān)系?？蛻?hù)常常會(huì)問(wèn)：我的電路中參數(shù)都選對(duì)了，為什么二極管仍然失效？作為MDD辰達(dá)半導(dǎo)體FAE，我們往往會(huì)追溯到一個(gè)核心問(wèn)題——是否有足夠銅箔/散熱片支撐散熱，器件結(jié)溫是否已經(jīng)接近極限。一、結(jié)溫與器件可靠性的關(guān)系結(jié)溫（Tj）是指二極管P

MDD辰達(dá)半導(dǎo)體的開(kāi)關(guān)二極管廣泛應(yīng)用于電源電路、射頻（RF）電路和高速信號(hào)處理等領(lǐng)域，其主要作用是快速導(dǎo)通和關(guān)斷，以保證電路的正常運(yùn)作。然而，開(kāi)關(guān)二極管的性能不僅僅依賴(lài)于選型，還與PCB布局密切相關(guān)。合理的PCB布局能有效減小寄生電感和電容，避免信號(hào)干擾，提升開(kāi)關(guān)效率和可靠性。作為FAE，我們需要幫助客戶(hù)優(yōu)化布局設(shè)計(jì)，以提高電路的整體性能。一、開(kāi)關(guān)二極管的布

在電子電路設(shè)計(jì)中，二極管不僅用作整流和限幅，還常常作為開(kāi)關(guān)元件應(yīng)用在高頻和高速電路里。此類(lèi)二極管被稱(chēng)為開(kāi)關(guān)二極管。它們的核心特性是能夠快速完成導(dǎo)通與關(guān)斷，從而不影響電路的工作速度。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，工程師常常發(fā)現(xiàn)：二極管在電路中表現(xiàn)出開(kāi)關(guān)速度不夠快的問(wèn)題，導(dǎo)致波形畸變、效率下降甚至邏輯錯(cuò)誤。這一現(xiàn)象的背后有多方面的原因。一、反向恢復(fù)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)二極管在從導(dǎo)通狀

在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中，MDD辰達(dá)半導(dǎo)體的靜電二極管是最常用的接口防護(hù)器件。許多工程師在選型時(shí)，往往會(huì)首先關(guān)注器件的ESD等級(jí)，例如標(biāo)稱(chēng)可承受±8kV接觸放電或±15kV空氣放電。似乎只要電壓等級(jí)夠高，器件就能滿(mǎn)足應(yīng)用需求。然而，實(shí)際項(xiàng)目中我們經(jīng)常發(fā)現(xiàn)：即使標(biāo)稱(chēng)等級(jí)很高的ESD管，在實(shí)際應(yīng)用中仍可能失效，導(dǎo)致接口芯片損壞。這說(shuō)明，僅僅依賴(lài)“靜電電壓等級(jí)”來(lái)選型是不

在電子產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，靜電放電（ESD）測(cè)試往往是EMC測(cè)試中的重要環(huán)節(jié)之一。很多客戶(hù)反饋：樣機(jī)在實(shí)驗(yàn)室中按照IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行ESD測(cè)試能夠順利通過(guò)，但產(chǎn)品在實(shí)際使用場(chǎng)景中仍然會(huì)出現(xiàn)接口失效、芯片損壞甚至整機(jī)死機(jī)的情況。這種現(xiàn)象讓工程師感到困惑：既然實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)驗(yàn)證通過(guò)，為什么實(shí)際環(huán)境中仍會(huì)被靜電或浪涌擊壞？一、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試與實(shí)際環(huán)境的差異IEC

MDD穩(wěn)壓二極管（ZenerDiode）作為電子電路中常見(jiàn)的電壓基準(zhǔn)與保護(hù)元件，因其反向擊穿時(shí)能夠提供相對(duì)穩(wěn)定的電壓而被廣泛應(yīng)用。然而，在實(shí)際使用過(guò)程中，穩(wěn)壓管并不是“永不失效”的器件，它也會(huì)出現(xiàn)開(kāi)路、短路或參數(shù)漂移等問(wèn)題。其中，開(kāi)路失效是一種較為典型的失效模式，對(duì)電路功能影響很大。作為FAE，在現(xiàn)場(chǎng)支持客戶(hù)時(shí)，常常需要針對(duì)這種現(xiàn)象進(jìn)行分析和解答。一、什么是