技術(shù)參數(shù)
主要功能 直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能”表)
功能一覽 聯(lián)鎖、自動(dòng)放電、消除偏移、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW（遠(yuǎn)程控制）
使用溫濕度范圍 0°C～40°C，80% RH或以下（無(wú)結(jié)露）
適合標(biāo)準(zhǔn) 安全性：IEC 61010
EMC：IEC 61326
電源電壓 AC 100 V ～ 240 V
功耗 約180 VA※
※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。
最大額定功率 800 VA
接口 通訊：USB，LAN，EXT. I/O
選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000）
存儲(chǔ)：U盤(pán)
尺寸 305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物）
重量 10.0 kg ± 0.2 kg
附件 電源線，CD-ROM（PDF：使用說(shuō)明書(shū)，通訊使用說(shuō)明書(shū)），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動(dòng)指南
各測(cè)試·功能
直流耐壓測(cè)試 輸出電壓：DC 0.010 kV ～ 8.000 kV（1 V分辨率）
輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）
輸出電流/截止電流：20 mA max
電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg.
最小分辨率：0.001 μA
測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）
電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF
短路電流200 mA 以上
測(cè)試模式W→IR，IR→W，程序測(cè)試
絕緣電阻測(cè)試 輸出電壓：DC 10 V ～ 2000 V（1 V分辨率）
輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）
電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）
精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ
電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格
測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）
電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF
絕緣擊穿電壓測(cè)試 測(cè)試方法：連續(xù)升壓測(cè)試，逐級(jí)升壓測(cè)試
測(cè)量?jī)?nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm）
設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測(cè)，電極間距離，電流上限值
波形顯示功能 波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻
采樣速度：500 kS/s
內(nèi)存容量：512 K words
ARC放電檢測(cè)功能 檢測(cè)方式：監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng)
設(shè)定內(nèi)容：測(cè)試電壓變動(dòng)率1％～50％
存儲(chǔ)功能
波形·圖形
保存到U盤(pán)
保存格式：BMP、PNG、CSV文件
面板保存功能
將測(cè)試條件保存在主機(jī)內(nèi)存中
直流耐壓測(cè)試模式/絕緣電阻測(cè)試模式：最多64個(gè)
程序測(cè)試：最多30個(gè)（最多50步）
絕緣擊穿電壓測(cè)試：最多10個(gè)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
測(cè)量值保存在內(nèi)存，最多32000個(gè)
判定功能（判定輸出） 判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL）
UPPER_FAIL：測(cè)量值＞上限值
PASS：上限值≥測(cè)量值≥下限值
LOWER_FAIL：測(cè)量值＜下限值
注記（*1） 環(huán)境溫度t不足5℃時(shí)加上±(1% rdg.×(5-t ) )
環(huán)境溫度t超過(guò)35℃時(shí)加上±(1% rdg.×(t-35 ) )
