信號完整性的測試手段很多，涉及的儀器也很多，因此熟悉各種測試手段的特點，以及根據(jù)測試對象的特性和要求，選用適當(dāng)?shù)臏y試手段，對于選擇方案、驗證效果、解決問題等硬件開發(fā)活動，都能夠大大提高效率，起到事半功倍的作用。表1：信號完整性測試手段分類。

　　信號完整性的測試手段

　　信號完整性的測試手段主要可以分為三大類，如表1所示。表中列出了大部分信號完整性測試手段，這些手段既有優(yōu)點，但是也存在局限性，實際上不可能全部都使用，下面對這些手段進(jìn)行一些說明。

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　　1.波形測試

　　波形測試是信號完整性測試中最常用的手段，一般是使用示波器進(jìn)行，主要測試波形幅度、邊沿和毛刺等，通過測試波形的參數(shù)，可以看出幅度、邊沿時間等是否滿足器件接口電平的要求，有沒有存在信號毛刺等。由于示波器是極為通用的儀器，幾乎所有的硬件工程師都會使用，但并不表示大家都使用得好。波形測試也要遵循一些要求，才能夠得到準(zhǔn)確的信號。

　　首先是要求主機和探頭一起組成的帶寬要足夠?；旧蠝y試系統(tǒng)的帶寬是測試信號帶寬的3倍以上就可以了。實際使用中，有一些工程師隨便找一些探頭就去測試，甚至是A公司的探頭插到B公司的示波器去，這種測試很難得到準(zhǔn)確的結(jié)果。

　　其次要注重細(xì)節(jié)。比如測試點通常選擇放在接收器件的管腳，如果條件限制放不到上面去的，比如BGA封裝的器件，可以放到最靠近管腳的PCB走線上或者過孔上面。距離接收器件管腳過遠(yuǎn)，因為信號反射，可能會導(dǎo)致測試結(jié)果和實際信號差異比較大;探頭的地線盡量選擇短地線等。

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　　圖1：常見的硬件設(shè)計流程。

　　最后，需要注意一下匹配。這個主要是針對使用同軸電纜去測試的情況，同軸直接接到示波器上去，負(fù)載通常是50歐姆，并且是直流耦合，而對于某些電路，需要直流偏置，直接將測試系統(tǒng)接入時會影響電路工作狀態(tài)，從而測試不到正常的波形。

　　2.眼圖測試

　　眼圖測試是常用的測試手段，特別是對于有規(guī)范要求的接口，比如E1/T1、USB、10/100BASE-T，還有光接口等。這些標(biāo)準(zhǔn)接口信號的眼圖測試，主要是用帶MASK(模板)的示波器，包括通用示波器，采樣示波器或者信號分析儀，這些示波器內(nèi)置的時鐘提取功能，可以顯示眼圖，對于沒有MASK的示波器，可以使用外接時鐘進(jìn)行觸發(fā)。使用眼圖測試功能，需要注意測試波形的數(shù)量，特別是對于判斷接口眼圖是否符合規(guī)范時，數(shù)量過少，波形的抖動比較小，也許有一下違規(guī)的情況，比如波形進(jìn)入MASK的某部部分，就可能采集不到，出現(xiàn)誤判為通過，數(shù)量太多，會導(dǎo)致整個測試時間過長，效率不高，通常情況下，測試波形數(shù)量不少于2000，在3000左右為適宜。

　　目前有一些儀器，利用分析軟件，可以對眼圖中的違規(guī)詳細(xì)情況進(jìn)行查看，比如在MASK中落入了一些采樣點，在以前是不知道哪些情況下落入的，因為所有的采樣點是累加進(jìn)去的，總的效果看起來就象是長余暉顯示。而新的儀器，利用了其長存儲的優(yōu)勢，將波形采集進(jìn)來后進(jìn)行處理顯示，因此波形的每一個細(xì)節(jié)都可以保留，因此它可以查看波形的違規(guī)情況，比如波形是000010還是101010，這個功能可以幫助硬件工程師查找問題的根源所在。

　　3.抖動測試

　　抖動測試現(xiàn)在越來越受到重視，因為專用的抖動測試儀器，比如TIA(時間間隔分析儀)、SIA3000，價格非常昂貴，使用得比較少。使用得最多是示波器加上軟件處理，如TEK的TDSJIT3軟件。通過軟件處理，分離出各個分量，比如RJ和DJ，以及DJ中的各個分量。對于這種測試，選擇的示波器，長存儲和高速采樣是必要條件，比如2M以上的存儲器，20GSa/s的采樣速率。不過目前抖動測試，各個公司的解決方案得到結(jié)果還有相當(dāng)差異，還沒有哪個是權(quán)威或者行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

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　　圖2：兩種電纜的差分傳輸損耗(上)和差分近端串?dāng)_(下)。

　　4.TDR測試

　　TDR測試目前主要使用于PCB(印制電路板)信號線、以及器件阻抗的測試，比如單端信號線，差分信號線，連接器等。這種測試有一個要求，就是和實際應(yīng)用的條件相結(jié)合，比如實際該信號線的信號上升沿在300ps左右，那么TDR的輸出脈沖信號的上升沿也要相應(yīng)設(shè)置在300ps附近，而不使用30ps左右的上升沿，否則測試結(jié)果可能和實際應(yīng)用有比較大的差別。影響TDR測試精度有很多的原因，主要有反射、校準(zhǔn)、讀數(shù)選擇等，反射會導(dǎo)致較短的PCB信號線測試值出現(xiàn)嚴(yán)重偏差，特別是在使用TIP(探針)去測試的情況下更為明顯，因為TIP和信號線接觸點會導(dǎo)致很大的阻抗不連續(xù)，導(dǎo)致反射發(fā)生，并導(dǎo)致附近三、四英寸左右范圍的PCB信號線的阻抗曲線起伏。

　　5.時序測試

　　現(xiàn)在器件的工作速率越來越快，時序容限越來越小，時序問題導(dǎo)致產(chǎn)品不穩(wěn)定是非常常見的，因此時序測試是非常必要的。測試時序通常需要多通道的示波器和多個探頭，示波器的邏輯觸發(fā)或者碼型和狀態(tài)觸發(fā)功能，對于快速捕獲到需要的波形，很有幫助，不過多個探頭在實際操作中，并不容易，又要拿探頭，又要操作示波器，那個時候感覺有孫悟空的三頭六臂就方便多了。邏輯分析儀用做時序測試并不多，因為它主要作用是分析碼型，也就是分析信號線上跑的是什么碼，和代碼聯(lián)系在一起，可以分析是哪些指令或者數(shù)據(jù)。在對于要求不高的情況下，可以用它來測試，它相對示波器來說，優(yōu)勢就是通道數(shù)多，但是它的劣勢是探頭連接困難，除非設(shè)計的時候就已經(jīng)考慮了連接問題，否則飛線就是唯一的選擇，如果信號線在PCB的內(nèi)層，幾乎很難做到。

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　　圖3：仿真傳輸眼圖(上：電纜A，下：電纜B)。

　　6.頻譜測試

　　對于產(chǎn)品的開發(fā)前期，這種測試應(yīng)用相對比較少，但是對于后期的系統(tǒng)測試，比如EMC測試，很多產(chǎn)品都需要測試。通過該測試發(fā)現(xiàn)某些頻點超標(biāo)，然后可以使用近場掃描儀(其中關(guān)鍵的儀器是頻譜儀)，例如EMCSCANER，來分析板卡上面具體哪一部分的頻譜比較高，從而找出超標(biāo)的根源所在。不過這些設(shè)備相對都比較昂貴，中小公司擁有的不多，因此通常情況下都是在設(shè)計時仔細(xì)做好匹配和屏蔽，避免后面測試時發(fā)現(xiàn)信號頻譜超標(biāo)，因為后期發(fā)現(xiàn)了問題，很多情況下是很難定位的。

　　7.頻域阻抗測試

　　現(xiàn)在很多標(biāo)準(zhǔn)接口，比如E1/T1等，為了避免有太多的能量反射，都要求比較好地匹配，另外在射頻或者微波，相互對接，對阻抗通常都有要求。這些情況下，都需要進(jìn)行頻域的阻抗測試。阻抗測試通常使用網(wǎng)絡(luò)分析儀，單端端口相對簡單，對于差分輸入的端口，可以使用Balun進(jìn)行差分和單端轉(zhuǎn)換。

　　傳輸損耗測試，對于長的PCB走線，或者電纜等，在傳輸距離比較遠(yuǎn)，或者傳輸信號速率非常高的情況下，還有頻域的串?dāng)_等，都可以使用網(wǎng)絡(luò)分析儀來測試。同樣的，對于PCB差分信號或者雙絞線，也可是使用Balun進(jìn)行差分到單端轉(zhuǎn)換，或者使用4端口網(wǎng)絡(luò)分析來測試。多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準(zhǔn)，使用電子校準(zhǔn)件可以大大提高校準(zhǔn)的效率。

　　8.誤碼測試

　　誤碼測試實際上是系統(tǒng)測試，利用誤碼儀，甚至是一些軟件都可做，比如可以通過兩臺電腦，使用軟件，測試連接兩臺電腦間的網(wǎng)絡(luò)誤碼情況。誤碼測試可以對數(shù)據(jù)的每一位都進(jìn)行測試，這是它的優(yōu)點，相比之下示波器只是部分時間進(jìn)行采樣，很多時間都在等待，因此漏過了很多細(xì)節(jié)。低誤碼率的設(shè)備的誤碼測試很耗費時間，有的測試時間是一整天，甚至是數(shù)天。

　　實際中如何選用這上述測試手段，需要根據(jù)被測試對象進(jìn)行具體分析，不同的情況需要不同的測試手段。比如有標(biāo)準(zhǔn)接口的，就可以使用眼圖測試、阻抗測試和誤碼測試等，對于普通硬件電路，可以使用波形測試、時序測試，設(shè)計中有高速信號線，還可以使用TDR測試。對于時鐘、高速串行信號，還可以抖動測試等。

　　另外上面眾多的儀器，很多都可以實現(xiàn)多種測試，比如示波器，可以實現(xiàn)波形測試，時序測試，眼圖測試和抖動測試等，網(wǎng)絡(luò)分析儀可以實現(xiàn)頻域阻抗測試、傳輸損耗測試等，因此靈活應(yīng)用儀器也是提高測試效率，發(fā)現(xiàn)設(shè)計中存在問題的關(guān)鍵。

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　　圖4：實際應(yīng)用測試(上：電纜A，下：電纜B)。