晶體定標與匹配負載駐波比測量
一、實驗目的
1、進一步熟悉掌握三厘米微波測試系統與測量線的使用
2、掌握用駐波測量線校準晶體特性的方法。
3、測量匹配負載的駐波比。
二、實驗內容
1、用駐波測量線校準晶體的檢波特性。
2、用駐波測量線測量場的分布圖形。
3、測量匹配負載的駐波比。

三、實驗原理
晶體二極管是非線性元件，其檢波電流與兩端電壓之間的關系為：
I=K │U│ n
式中n 表征晶體管的檢波規(guī)律：如n=1，I∝│U│稱為線性檢波，當n=2，I∝│
U│2 稱為平方律檢波，然而二極管的檢波特性隨其端電壓大小而變化，當端電壓
較小時，呈現出平方律檢波，端電壓較大時，呈現線性規(guī)律。

圖3-1 晶體二極管檢波特性
圖3－1 所示晶體二極管典型檢波曲線，由圖可見，在U>U1 范圍內近似線性；
U管兩端的電壓變化幅度較大時，n 就不是常數，所以在精密測量中心必須對晶體檢波
律進行定標。
測量線探針在波導中感應的電動勢（即晶體二極管兩端的電壓）與探針所在的處
的電場Ｅ成正比，因而，檢波電流和波導中的場強Ｅ同樣滿足關系式：
I＝K＇×En
故要從檢波電流讀數值決定電場強度的相對值，就必須確定晶體檢波律n。當
n=2，該檢波電流讀數即為相對功率指示值。
實驗室常用的晶體定標方法——駐波法
測量指示器讀數與相對場強關系曲線。
當測量線終端短路時，沿線各點電場分布為：

駐波系數的測量轉化為晶體檢波電流的測量。

圖2-6 測試裝置圖
五、實驗步驟
1、按圖2-6 檢查系統連接裝置。
2、按操作規(guī)程調整信號源，開啟電源預熱。
3、用頻率計校準頻率。
4、將測量線探針插入適當深度，調諧回路，使測量放大器輸出最大。
5、將測量線終端接短路片，調整放大器衰減，當探針處于腹點時，放大器指示為滿量程。

6、將探針由右向左移動，放大器指示器每改變10 個格，記錄一次探針的位置，用交
叉讀數法測波節(jié)點位置。
7、測波腹點左、右下降腹點時指示一半位置記錄下來。
8、測量線終端換匹配負載，測量駐波比，分別測量波腹點電流Imax 和波節(jié)點電流
Imin。
六、實驗報告
1、根據測量探針在不同位置d，指示器讀數作Ｉ～d 曲線。
2、根據測量在直角坐標繪出Ｉ～Ｅ／Ｅn 的曲線。
3、根據測量的半高點距離代入公式求晶體檢波律n。
４、根據測量Ｉmax 值與Ｉmin 值求ρ，與理論值進行比較。
七、實驗前準備：
1、復習測量線和頻率計正確使用。
2、自己設計畫出測量波導波長記錄數據的表格。
3、波節(jié)點用什么方法確定，考慮好實驗步驟，畫好記錄表格。見下圖

八、思考題
1、你所測得晶體校準曲線工作在什么條件下？
2、在什么條件下駐波系數的測量可以轉化為晶體檢波電流的測量？
3、匹配負載的駐波比理論值是多少？你的測量值的相對誤差是多少？