lcr測(cè)試儀測(cè)量原理

　　Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUT（DeviceUnderTest）接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓（DUT的Low電位是0），Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。

　　HP4275的測(cè)試端Hp，Hc，Lp，Lc（下標(biāo)c代表current，下標(biāo)p代表Potentail），Guard（接地）的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。

　　提高精度的方法是：1，Hp，Lp，Hc，Lc盡量接近DUT;2，減小測(cè)試電流Ix的回路面積&磁通量（關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable最小化回路面積）;3，使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號(hào)線(xiàn)間的電場(chǎng)連接，雖然會(huì)增加信號(hào)線(xiàn)的對(duì)地電容（對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果），但是會(huì)減少信號(hào)線(xiàn)的互容。

　　Guard與Cable的對(duì)地寄生阻抗（Zhg，Zlg）不影響測(cè)試結(jié)果，電橋平衡時(shí)Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會(huì)被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測(cè)量。

　　lcr測(cè)試儀測(cè)量步驟

　　LCR測(cè)試儀一般用于測(cè)試電感和電容。測(cè)量步驟如下：

　　1、設(shè)置測(cè)試頻率

　　2、測(cè)試電壓或者電流水平

　　3、選擇測(cè)試參數(shù)，比如Z、Q、LS（串聯(lián)電感）、LP（并聯(lián)電感）、CS（串聯(lián)電容）、CP（并聯(lián)電容）、D等

　　4、儀器校準(zhǔn)，校準(zhǔn)主要進(jìn)行開(kāi)路、短路校準(zhǔn)，高檔的儀器要進(jìn)行負(fù)載校準(zhǔn)

　　5、選擇測(cè)試夾具

　　6、夾具補(bǔ)償

　　7、將DUT放在夾具上開(kāi)始測(cè)試

　　LCR測(cè)試儀的主要功能

　　數(shù)字電橋可用于計(jì)量測(cè)試部門(mén)對(duì)阻抗量具的檢定與傳遞，以及在一般部門(mén)中對(duì)阻抗元件的常規(guī)測(cè)量。很多數(shù)字電橋帶有標(biāo)準(zhǔn)接口，可根據(jù)被測(cè)值的準(zhǔn)確度對(duì)被測(cè)元件進(jìn)行自動(dòng)分檔；也可直接連接到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，用于元件生產(chǎn)線(xiàn)上對(duì)產(chǎn)品自動(dòng)檢驗(yàn)，以實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制。80年代中期，通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更高準(zhǔn)確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。

　　電容C，電感L，電阻R是電子工程師在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中最常用的電子元器件。作為常見(jiàn)的小小的被動(dòng)器件，確影響著電路的參數(shù)，也直接牽扯的電子產(chǎn)品的優(yōu)劣。所以對(duì)于每個(gè)元器件（電容/電感/電阻），我們要了解其特性參數(shù)，也需要時(shí)刻準(zhǔn)確測(cè)量到這些參數(shù)。

　　LCR測(cè)試儀就是用來(lái)測(cè)試元器件（電容/電感/電阻）參數(shù)的。在一般情況下，電阻只要測(cè)量其直流電阻值就可以了，這樣可以使用萬(wàn)用表（例GDM-8261A）或者電阻測(cè)試儀（例GOM-802），另外固緯電子LCR-8000G系列也具有直流電阻測(cè)量功能。與普通電阻不同，對(duì)于電感和電容，就需要采用交流方式來(lái)測(cè)量。LCR測(cè)試儀就是采用交流電進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于交流電而言，電壓V與電流I的比值是阻抗Z，直流方式下的電阻R只需用‘大小’來(lái)表示，而阻抗Z確包含了‘大小’和‘相位’兩個(gè)要素，在數(shù)學(xué)上用復(fù)數(shù)和矢量來(lái)表示。