里氏硬度計(jì)是一種測(cè)試器材，其原理是隨著單片技術(shù)的發(fā)展，1978年，瑞士人Leeb博士提出了一種全新的測(cè)硬方法，它的基本原理是具有一定質(zhì)量的沖擊體在一定的試驗(yàn)力作用下沖擊試樣表面，測(cè)量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度，利用電磁原理，感應(yīng)與速度成正比的電壓。

使用

在現(xiàn)場(chǎng)工作中，經(jīng)常遇到曲面試件，各種曲面對(duì)硬度測(cè)試結(jié)果影響不同，在正確操作的情況下，沖擊落在試件表面瞬間的位置與平面試件相同，故通用支撐環(huán)即可。但當(dāng)曲率小到一定尺寸時(shí)，由于平面條件的變形的彈性狀態(tài)相差顯著會(huì)使沖擊體回彈速度偏低，從而使里氏硬度示值偏低。因此對(duì)試樣，建議測(cè)量時(shí)使用小支撐環(huán)。對(duì)于曲率半徑更小的試樣，建議選用異型支撐環(huán)。

要求

一、對(duì)被測(cè)試件的一般要求試件表面應(yīng)潔凈，無(wú)灰塵，無(wú)油污和無(wú)氧化皮。

二、對(duì)試件表面溫度的要求試件表面的溫度不能過(guò)熱，要求溫度小于120℃。測(cè)試zui佳溫度為4℃-38℃。

三、對(duì)試件表面粗糙度的要求試件表面粗糙度應(yīng)滿(mǎn)足下表的要求，試件表面的粗糙度不但影響測(cè)試精度，而且影響沖擊球頭的使用壽命。

沖擊裝置類(lèi)型試件表面粗糙度Ra相當(dāng)于原國(guó)標(biāo)

D DC D+15 E DL2μm6

G7μm4

C0.4μm8

四、對(duì)試件重量的要求

1、對(duì)足夠重的試件不需要支撐，直接進(jìn)行測(cè)試。

2、對(duì)重量不太重的試件，有懸伸部分的試件以及薄壁試件，在測(cè)試時(shí)應(yīng)使用物體支撐，以避免沖擊力引起試件的扭曲、變形和移動(dòng)。

3、對(duì)重量較小的試件，應(yīng)使其與重量大與5kg的支撐體牢牢耦合，要求試件與支撐體表面必須平整、光滑，耦合劑（凡士林，機(jī)油等）用量不宜過(guò)多，測(cè)試方向必須垂直于耦合平面。沖擊裝置與試件重量的關(guān)系見(jiàn)下表：

沖擊裝置類(lèi)型不需固定支撐需固定支撐需耦合

D DC D+15 E DL5kg2kg0.1kg

G15kg5kg0.5kg

C1.5kg0.5kg0.02kg

五、對(duì)試件表面硬化層厚度的要求對(duì)于表面覆有硬化層的試件，為保證測(cè)試精度，要求對(duì)應(yīng)于不同的沖擊裝置試件表面硬化層厚度應(yīng)符合下表規(guī)定：

沖擊裝置類(lèi)型試件表面硬化層小厚度

D DC D+15 E DL0.8mm

G------

C0.2mm

六、對(duì)板材、管壁型試件厚度的要求對(duì)于板材、管材和其它薄片型試件的測(cè)試，為保證測(cè)試精度，要求對(duì)應(yīng)于不同的沖擊裝置試件厚度應(yīng)符合下表

沖擊裝置類(lèi)型被測(cè)試件小厚度

D DC D+15 E DL3mm

G10mm

C1mm

七、對(duì)曲口試件保證測(cè)試精度的要求使用D型沖擊裝置，要求試件曲面半徑大于30mm；使用G型沖擊裝置，要求試件曲面半徑大于50mm。對(duì)不滿(mǎn)足上述要求的球面、柱面和凹面等曲口試件，為保證測(cè)試精度，應(yīng)采用異型支撐環(huán)（選購(gòu)件）。

異型支撐環(huán)有如下規(guī)格：

1、外圓球面：K10-15mm，K14.5-30mm。

2、內(nèi)圓球面：HK11-13mm，HK12.5-17mm，HK16.5-30mm。

3、外圓柱面：Z10-15mm，Z14.5-30mm，Z25-50mm。

4、內(nèi)圓柱面：HZ11-13mm，HZ12.5-17mm，HZ16.5-30mm。

5、特殊外形：UN

八、對(duì)試件表面無(wú)磁性的要求試件表面不能帶有磁性，帶有磁性的試件將影響測(cè)試精度。要求試件剩磁應(yīng)小于4G。

九、對(duì)試件無(wú)振動(dòng)的要求測(cè)試時(shí)，試件所處的四周環(huán)境不應(yīng)有振動(dòng)，否則會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。
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