作者：泰克科技 使用長(zhǎng)電纜或電容夾頭的測(cè)試設(shè)置會(huì)增加測(cè)試儀器輸出的電容，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確或不穩(wěn)定。當(dāng)輸出或掃描直流電壓并測(cè)量異常靈敏的低電流時(shí)，能觀察到這種效應(yīng)。為了應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，泰克為吉時(shí)
2020-02-17 09:27:57
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NI推出新的PXI SMU系列產(chǎn)品，適用于自動(dòng)化半導(dǎo)體測(cè)試。全新的NI PXIe-4143 SMU每秒取樣率為600，000，具有4個(gè)通道，堪稱通道密度最高的SMU，非常適合多針腳半導(dǎo)體待測(cè)裝置的平行測(cè)試，并且
2012-09-14 10:46:231646 的容性觸摸屏技術(shù)方便直觀使用。此技術(shù)能讓學(xué)習(xí)曲線短并讓工程師和科學(xué)家更輕松地創(chuàng)造、更聰明地工作而且更快速地學(xué)習(xí)。2450是一款適合所有人的通用SMU，特別適于分析當(dāng)今現(xiàn)代縮微半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)
2020-05-30 15:21:58
本文旨在對(duì)4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測(cè)試過(guò)程中會(huì)遇到的一些挑戰(zhàn)進(jìn)行分析。這些挑戰(zhàn)既有技術(shù)方面的，也有經(jīng)濟(jì)方面的。了解哪些缺陷需要檢測(cè)有助于我們?cè)趯?shí)際的生產(chǎn)環(huán)境中采用更好的測(cè)試
2019-07-18 06:22:43
`寬帶5G設(shè)備的五大測(cè)試挑戰(zhàn)寬帶5G設(shè)備的設(shè)計(jì)工程師和測(cè)試工程師亟需快速、準(zhǔn)確且經(jīng)濟(jì)高效的測(cè)試解決方案來(lái)確保新型芯片設(shè)計(jì)的可靠性。了解寬帶5G IC測(cè)試的最大測(cè)試挑戰(zhàn)及其解決方案。1.波形變得更寬且
2019-08-16 14:03:51
的早期進(jìn)行預(yù)一致性測(cè)試。待機(jī)功率測(cè)量挑戰(zhàn)查看隨時(shí)間記錄的電源輸入側(cè)低待機(jī)功率的示例（圖 1），可以立即看出功率非常失真、峰值和不規(guī)則。它也非常低。例如，如果您在歐洲使用 230 V 輸入測(cè)量 10
2022-08-23 08:00:00
檢測(cè)設(shè)置比較，例如，計(jì)數(shù)值為50表示傳感器接觸；而計(jì)數(shù)值小于50可能表示沒(méi)有接觸。在本例中，當(dāng)用戶接觸傳感器時(shí)，測(cè)量的準(zhǔn)確性和精度與參考時(shí)鐘的頻率有關(guān)，并與在寬廣的容性傳感器數(shù)值范圍上電流源的可重復(fù)性
2019-05-06 09:18:18
南京容向測(cè)試設(shè)備有限公司，專注于EMC測(cè)試。在南京有實(shí)驗(yàn)室基地，實(shí)驗(yàn)室測(cè)試范圍廣泛。覆蓋軍標(biāo)、汽車電子、家電、工業(yè)、醫(yī)療、信息技術(shù)、照明等各個(gè)行業(yè)。有專業(yè)的工程師優(yōu)質(zhì)完成測(cè)試。歡迎有測(cè)試需求的企業(yè)來(lái)我司測(cè)試認(rèn)證。我們會(huì)竭誠(chéng)為您服務(wù)。
2013-08-01 16:58:08
新型序列式測(cè)試儀器測(cè)試技術(shù)指南吉時(shí)利測(cè)試技術(shù)指南-適合電子制造商使用的，測(cè)試成本更低的新型序列式測(cè)試儀器目前，生產(chǎn)線所用的ATE系統(tǒng)可分為大容量、高成本、大機(jī)柜式的測(cè)試系統(tǒng)；采用PC控制的基于慢速
2009-11-04 10:00:03
高速串行總線的特點(diǎn)是什么？測(cè)試高速串行總線面臨哪些挑戰(zhàn)？如何應(yīng)對(duì)這些測(cè)試挑戰(zhàn)？
2021-05-10 07:00:10
小弟正在測(cè)試開(kāi)關(guān)電源的容性負(fù)載，不是很明白，為何AC在90V輸入時(shí)容性負(fù)載為2000uF；而AC輸入110V時(shí)容性負(fù)載為3000uF?還請(qǐng)大神指教!
2013-09-10 09:03:34
的略有差別，但量級(jí)大體相當(dāng)，詳細(xì)的測(cè)試筆記見(jiàn)附件，測(cè)試程序?yàn)閕dle_profile_nonos對(duì)程序稍加修改就可以測(cè)試CC3200的功耗，簡(jiǎn)單總結(jié)如下：
模式條件電流消耗測(cè)試圖DatasheetM4
2018-05-14 06:47:52
大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn)。嵌入式邏輯分析工具無(wú)法滿足通用性要求，外部測(cè)試工具可以把FPGA內(nèi)部信號(hào)與實(shí)際電路聯(lián)合起來(lái)觀察系統(tǒng)真實(shí)運(yùn)行情況。隨著FPGA技術(shù)的發(fā)展，大容量、高速
2019-08-07 07:50:15
本文討論 IC制造商用于克服精度挑戰(zhàn)的一些技術(shù)，并讓讀者更好地理解封裝前和封裝后用于獲得最佳性能的各種方法，甚至是使用最小體積的封裝。
2021-04-06 07:49:54
，基于靜態(tài)電流(IDDQ)的測(cè)試方法被廣泛使用。然而，隨著深亞微米技術(shù)時(shí)代的到來(lái)，總的靜態(tài)漏電流急劇增加，IDDQ測(cè)試技術(shù)受到嚴(yán)峻挑戰(zhàn)，因此，需要尋找新的測(cè)試技術(shù)，而瞬態(tài)電流測(cè)試技術(shù)提供一個(gè)很好的替代或補(bǔ)充。這種測(cè)試方法能夠檢測(cè)傳統(tǒng)測(cè)試和IDDQ測(cè)試所不能檢測(cè)的缺陷。
2019-09-18 07:31:31
IIC總線調(diào)試筆記 1、信號(hào)表示起始信號(hào)，在時(shí)鐘線（SCL）為高的時(shí)候，數(shù)據(jù)線（SDA）產(chǎn)生一個(gè)下降沿即為起始信號(hào)。圖1 起始信號(hào)如圖，即產(chǎn)生了一個(gè)起始信號(hào)?？偩€空閑時(shí)數(shù)據(jù)線和時(shí)鐘線都為高。 數(shù)據(jù)
2015-12-16 23:12:30
IPv6過(guò)渡測(cè)試挑戰(zhàn)技術(shù)論文
2019-09-10 15:18:16
MIMO技術(shù)的無(wú)線區(qū)域網(wǎng)路生產(chǎn)測(cè)試新挑戰(zhàn)是什么？
2021-05-13 06:22:13
回路中已經(jīng)有24V的恒壓源跟負(fù)載（最大電流在2A左右），我想精確調(diào)控回路中的電流。所以想將NI的SMU板卡作為恒流源串進(jìn)回路中，舉例人機(jī)交互界面控制SMU輸出個(gè)0.5A的電流。不知道方案有沒(méi)有可行性，在線等。
2016-06-07 16:54:20
削弱以至于消失，電路和系統(tǒng)的可測(cè)試性急劇下降，測(cè)試成本在電路和系統(tǒng)總成本中所占的比例不斷上升，常規(guī)測(cè)試方法正面臨著日趨嚴(yán)重的測(cè)試困難。PCB可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)要概述在電路的邏輯設(shè)計(jì)完成后，通常是以手工
2018-09-19 16:17:24
之前發(fā)到論壇的PSFB調(diào)試筆記和問(wèn)題石沉大海了目前自己調(diào)試得到了相對(duì)好些的波形，我把調(diào)試筆記傳上來(lái)，定期更新，感興趣的我們一起討論這是目前相對(duì)好些的波形調(diào)試筆記：下面的文章 在我的個(gè)人微信公眾號(hào)里也有的歡迎關(guān)注
2019-07-25 06:50:06
本文討論的是 RFID 通信系統(tǒng)的設(shè)計(jì)師所面對(duì)的測(cè)試挑戰(zhàn)：監(jiān)管測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)一致性和優(yōu)化。
2021-04-09 06:49:58
S32K14x系列MCU時(shí)鐘調(diào)試筆記
2021-11-26 07:40:49
SoC測(cè)試技術(shù)傳統(tǒng)的測(cè)試方法和流程面臨的挑戰(zhàn)是什么？SoC測(cè)試技術(shù)一體化測(cè)試流程是怎樣的？基于光子探測(cè)的SoC測(cè)試技術(shù)是什么？有什么目的？
2021-04-15 06:16:53
制造工藝，穩(wěn)定控制產(chǎn)品的各種參數(shù)，具有漏電電流小， 擊穿電壓穩(wěn)定，良率高，鉗位電壓低，電容有低容，普容和高容；做回掃型ESD產(chǎn)品性能更優(yōu)，CSP晶圓級(jí)封裝可以提高產(chǎn)品性能。接下來(lái)我們來(lái)分享常規(guī)ESD
2020-07-30 14:40:36
為了滿足USB2.0一致性應(yīng)用的需求，所有的USB2.0設(shè)計(jì)都必須滿足USB IF發(fā)布的USB2.0物理層一致性測(cè)試要求。相對(duì)于比較成熟的PC平臺(tái)USB2.0 主機(jī)測(cè)試技術(shù)而言，基于通信類終端
2019-08-26 08:13:03
USB3.0物理層一致性測(cè)試挑戰(zhàn)是什么？如何進(jìn)行通道去嵌？
2021-05-08 07:27:01
`10 Gbps USB 3.1技術(shù)規(guī)范通過(guò)更有效的數(shù)據(jù)編碼方案，能夠提供比現(xiàn)有5 Gbps USB3.0要高出兩倍多的實(shí)際數(shù)據(jù)速率。同時(shí)新的標(biāo)準(zhǔn)引入了正反可插的Type-C接口，這種數(shù)據(jù)速率的提高和新的接口給物理層的測(cè)試帶來(lái)了更嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。本文檔深入討論電纜連接器的一致性測(cè)試挑戰(zhàn)。`
2015-06-03 15:15:01
dft可測(cè)試性設(shè)計(jì)，前言可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之一：掃描設(shè)計(jì)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之二：標(biāo)準(zhǔn)IEEE測(cè)試訪問(wèn)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之三：邏輯內(nèi)建自測(cè)試可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之四：通過(guò)MBIST測(cè)試寄存器總結(jié)...
2021-07-22 09:10:42
1）pH測(cè)試筆的保養(yǎng)及注意事項(xiàng)此測(cè)試筆出廠時(shí)，已校準(zhǔn)，可直接使用，下列情況須重新校準(zhǔn)： 校準(zhǔn)后已使用（或放置）很長(zhǎng)時(shí)間； 電極使用特別頻繁； 測(cè)量精度要求比較高； 做校正時(shí)，勿重復(fù)使用校正
2018-03-22 09:52:11
通常使用的邏輯測(cè)試筆是由TTL電路或CMOS電路構(gòu)成。這里介紹一種更為簡(jiǎn)單的邏輯電平測(cè)試筆，電路如下圖所示。下圖中P點(diǎn)、N點(diǎn)分別接到集成電路電源的正負(fù)端上，T點(diǎn)為測(cè)試筆的探針。
2021-04-21 06:37:51
首要關(guān)注的焦點(diǎn)。這是特別現(xiàn)實(shí)的問(wèn)題，因?yàn)長(zhǎng)TE代表了無(wú)線接入技術(shù)的一個(gè)重大變化，其實(shí)現(xiàn)和部署都是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。從器件到基站到終端用戶服務(wù)，整個(gè)LTE設(shè)備供應(yīng)鏈對(duì)測(cè)試的需求非常大。從GSM/UMTS自然
2019-06-03 07:06:26
同步源和測(cè)量電壓/電流以提高研發(fā)到自動(dòng)生產(chǎn)測(cè)試等應(yīng)用的生產(chǎn)率。除保留了2601A的全部產(chǎn)品特點(diǎn)外，2601B還具有6位半分辨率、USB 2.0連接性以及能輕松移植**測(cè)試代碼的2400源表SMU軟件指令
2021-11-04 10:17:26
對(duì)使用新型測(cè)試技術(shù)和儀器的幾點(diǎn)忠告
2021-04-09 06:06:41
使用空中鼠標(biāo)系統(tǒng)面臨哪些挑戰(zhàn)？如何去克服這些挑戰(zhàn)？
2021-05-10 07:26:42
2612B方案二：線性電源+8位半吉時(shí)利萬(wàn)用表2002方案三：線性電源+吉時(shí)利皮安表6400系列方案一：雙通道源表實(shí)現(xiàn)電源供電和低電流信號(hào)采集 KeithleySMU2600B 系列系統(tǒng) SMU 儀器是業(yè)界
2020-03-04 14:13:35
登場(chǎng)。在這些日新月異的技術(shù)革新背后，怎樣簡(jiǎn)化從設(shè)計(jì)到產(chǎn)品量產(chǎn)驗(yàn)證測(cè)試環(huán)節(jié)，并且確保這些產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用時(shí)始終都能正常工作呢？答案將在LitePoint 5月系列研討會(huì)中為您揭曉。 在此次研討會(huì)中，除了
2019-04-22 13:43:31
如何克服ACS測(cè)試系統(tǒng)和SMU的可靠性測(cè)試挑戰(zhàn)？
2021-05-11 06:11:18
如何DigRF技術(shù)進(jìn)行測(cè)試？DigRF技術(shù)生產(chǎn)測(cè)試的挑戰(zhàn)有哪些？
2021-04-15 06:05:31
如何去實(shí)現(xiàn)并行SMU-per-pin ACS集成測(cè)試系統(tǒng)？
2021-05-07 06:05:38
TD-LTE、FDD-LTE和LTE-Advanced(LTE-A)無(wú)線技術(shù)使用了幾種不同的多種輸入多路輸出(MIMO)技術(shù)。鑒于MIMO系統(tǒng)的復(fù)雜性正在日益提高，因此相關(guān)的測(cè)試方法也將更具挑戰(zhàn)性。那么，如何選擇LTE系統(tǒng)測(cè)試方法，存在哪些挑戰(zhàn)？
2019-02-28 11:18:42
，并且使用環(huán)境相對(duì)極端，為保證較長(zhǎng)的使用壽命，相比3C電池在一致性上要求高的多，因此電池在分容中要求的電流精度較高，目前按照市場(chǎng)要求，保持0.02%的要求是電池測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)商面臨的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，為了爭(zhēng)取更高
2022-11-07 08:08:07
，并且使用環(huán)境相對(duì)極端，為保證較長(zhǎng)的使用壽命，相比3C電池在一致性上要求高的多，因此電池在分容中要求的電流精度較高，目前按照市場(chǎng)要求，保持0.02%的要求是電池測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)商面臨的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，為了爭(zhēng)取更高
2022-11-07 06:30:41
對(duì)使用新型測(cè)試技術(shù)和儀器的幾點(diǎn)忠告隨著半導(dǎo)體制造商向65納米技術(shù)轉(zhuǎn)移并展望更小節(jié)點(diǎn)，嚴(yán)峻的測(cè)試挑戰(zhàn)也開(kāi)始浮出水面?，F(xiàn)在，工藝開(kāi)發(fā)工程師們必須放棄由硅、二氧化硅、多晶硅和鋁材料構(gòu)成的良性世界，而將
2011-09-06 15:51:36
小白求助，求ADS1118的調(diào)試筆記
2021-11-18 07:31:05
家里有幾十個(gè)筆記本電池不知道買些什么工具 軟件來(lái)測(cè)試好壞 求大神們指點(diǎn)
2016-06-20 17:22:38
）WLAN標(biāo)準(zhǔn)（如802.11g）的期待。伴隨新的效能要求而來(lái)的是，所使用的生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)必須克服新的挑戰(zhàn)，才能確保產(chǎn)品符合品質(zhì)及效能要求的目標(biāo)。而最值得關(guān)注的一點(diǎn)，則是有無(wú)可能在發(fā)射器和接收器的數(shù)目變成兩倍、三倍、甚至四倍，而且規(guī)格要求更嚴(yán)格的情形下，依然把測(cè)試成本控制在802.11a/g系統(tǒng)的水準(zhǔn)？
2019-08-08 07:29:54
之一的毫米波技術(shù)已成為目前標(biāo)準(zhǔn)組織及產(chǎn)業(yè)鏈各方研究和討論的重點(diǎn)，毫米波將會(huì)給未來(lái)5G終端的實(shí)現(xiàn)帶來(lái)諸多的技術(shù)挑戰(zhàn)，同時(shí)毫米波終端的測(cè)試方案也將不同于目前的終端。本文將對(duì)毫米波頻譜劃分近況，毫米波終端技術(shù)實(shí)現(xiàn)挑戰(zhàn)及測(cè)試方案進(jìn)行介紹及分析。
2021-01-08 07:49:38
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:58 編輯
求硬件測(cè)試筆試題，最好帶答案，謝謝了。
2013-01-04 08:41:08
過(guò)去，汽車電子系統(tǒng)很少采用容性傳感器，因?yàn)樗鼈儽徽J(rèn)為難以控制、難以讀出、容易老化且易受溫度影響。另一方面，容性傳感器具有制造成本適中、外形尺寸簡(jiǎn)單和功耗低等有吸引力的特性，這就為它們的使用提供了動(dòng)力。隨著新型測(cè)量技術(shù)的出現(xiàn)，汽車中容性傳感器的使用數(shù)量急劇增加。
2020-03-19 07:56:42
能：數(shù)字萬(wàn)用表 (DMM)、電源、實(shí)際電流源、電子負(fù)載、脈沖發(fā)生器。在緊湊型外形中的一臺(tái)緊閉同步儀器集成上述所有儀器。 即使具有多種功能，SMU 的精度并未受到影響。 事實(shí)上，由于測(cè)量?jī)x器具有通用性
2020-02-12 11:38:19
電源調(diào)試筆記 – 二階補(bǔ)償系統(tǒng)仿真R2=12K 這里是筆誤
2021-12-31 08:00:28
。由于AC測(cè)試不會(huì)給容性負(fù)載充電，從開(kāi)始施加電壓到測(cè)試結(jié)束電流讀數(shù)保持一致。因此，由于不存在監(jiān)視電流讀數(shù)所要求的穩(wěn)定化問(wèn)題，也就不需要逐漸升高電壓。這意味著，除非被測(cè)產(chǎn)品感應(yīng)到突然施加的電壓，操作員可以
2015-08-31 18:58:04
(CMRR)、電源抑制比 (PSSR) 和放大器開(kāi)環(huán)增益 (Aol)。本文我們將探討輸入偏置電流的兩種測(cè)試方法。選擇哪種方法要取決于偏置電流的量級(jí)。我們將介紹器件測(cè)試過(guò)程中需要考慮的各種誤差源。本系列
2018-09-07 11:04:42
很多技術(shù)大咖將深入探討和展示當(dāng)下最具創(chuàng)新性的測(cè)試技術(shù)，幫助企業(yè)搶占5G先機(jī)，從容應(yīng)對(duì)無(wú)線測(cè)試技術(shù)所帶來(lái)的挑戰(zhàn)！熱門議題：*5GmmWave OTA測(cè)試*5GmmWave 波束成形測(cè)試*802.11ax
2018-11-16 11:39:12
隨著智能無(wú)線設(shè)備和電動(dòng)汽車的快速發(fā)展，鋰電池的市場(chǎng)需求越來(lái)越廣，生產(chǎn)制造效率也越來(lái)越高，由于節(jié)能減排的需要，鋰電池化成也正大量采用能量回饋的形式，實(shí)現(xiàn)節(jié)能環(huán)保。想知道如何更準(zhǔn)確地進(jìn)行化成分容測(cè)試
2019-07-19 08:43:39
阿南的ARM入門調(diào)試筆記 第一章 開(kāi)發(fā)工具與調(diào)試環(huán)境第二章 我的第一個(gè)實(shí)驗(yàn)第三章 點(diǎn)亮我的LED第四章 鍵盤輸入第五章 模擬量輸入第六章 RS232串口通信第七章 串口DMA控制實(shí)驗(yàn)第八章 中斷控制
2014-03-19 14:36:39
TensION電壓測(cè)試筆適用AC & DC靜電消除器及靜電產(chǎn)生設(shè)備的檢測(cè)使用、非接觸感應(yīng)亮燈顯示模式、操作非常安全和便捷。操作時(shí)無(wú)需接觸到靜電設(shè)備的發(fā)射極(離子針)，只要依據(jù)不同設(shè)備的工作電壓測(cè)量
2021-12-22 17:55:38
妙用邏輯電平測(cè)試筆電路及制作
2009-04-14 10:24:01
7 相序測(cè)試筆電路及制作
2009-04-14 10:28:383 迷你邏輯型測(cè)試筆電路及制作
2009-04-14 10:48:388 SimcoionTensION靜電測(cè)試筆TensION靜電測(cè)試筆TensION靜電測(cè)試筆，用來(lái)檢測(cè)交流及直流靜電消除及靜電產(chǎn)生產(chǎn)品是否有效工作。無(wú)需與實(shí)際設(shè)備接觸，提供了一種安全簡(jiǎn)便
2022-10-12 15:06:06
具有存貯功能的邏輯測(cè)試筆電路圖
2009-04-07 09:15:28623 
簡(jiǎn)易邏輯測(cè)試筆電路圖
2009-05-19 13:35:562543 
數(shù)字邏輯測(cè)試筆電路圖
2009-05-19 13:44:05960 
發(fā)射功率測(cè)試筆的制作
本人從1981年就從事無(wú)線電通信的維修工作。根據(jù)二十多年來(lái)的工作實(shí)踐，自制了一些檢測(cè)工具，其中有一種行之有效的手持
2009-12-27 16:38:011267 
泰克專家支招 解決測(cè)試挑戰(zhàn)以克服LED照明應(yīng)用瓶頸
近日，第二屆亞太LED技術(shù)論壇峰會(huì)在深圳和寧波相繼舉辦。深圳和華南地區(qū)在中國(guó)LED照明產(chǎn)業(yè)的重要位置自然
2010-04-12 09:45:18386 為了克服以上LTE測(cè)試挑戰(zhàn)，安捷倫提出了一個(gè)完整的LTE測(cè)試解決方案，為研發(fā)型和生產(chǎn)性的終端廠家提供了兩套方案。
2012-04-09 11:27:56780 
邏輯測(cè)試筆原理圖都是值得參考的設(shè)計(jì)。
2016-05-11 17:00:4713 阿南《AT91SAM7S64調(diào)試筆記》
2017-01-08 14:27:4923 pH測(cè)試筆的保養(yǎng)及注意事項(xiàng) 此測(cè)試筆出廠時(shí)，已校準(zhǔn)，可直接使用，下列情況須重新校準(zhǔn)： 校準(zhǔn)后已使用（或放置）很長(zhǎng)時(shí)間； 電極使用特別頻繁； 測(cè)量精度要求比較高； 做校正時(shí)，勿重復(fù)使用校正緩沖液
2017-09-25 10:04:102 ARM入門調(diào)試筆記
2017-10-13 14:26:1211 基于KUN-TC35調(diào)試筆記
2017-10-16 08:19:5013 針對(duì)快速增長(zhǎng)的3D傳感市場(chǎng)，美國(guó)泰克公司（Tektronix）將四條20瓦SMU通道封裝在每個(gè)1U尺寸的機(jī)架槽上以實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)機(jī)架最大化。
2018-05-29 15:03:033925 本邏輯測(cè)試筆．僅用一塊NE555時(shí)基集成塊和外圍少量的元件組成。這種測(cè)試筆可用于對(duì)數(shù)字電路中的高低信號(hào)電平和脈沖信號(hào)的有無(wú)進(jìn)行判別。
2019-10-13 10:32:007120 
Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀模塊為擁有高測(cè)試連接電容、不穩(wěn)定低電流測(cè)量的應(yīng)用提供了理想的解決方案。
2019-11-13 09:33:421315 扭力試驗(yàn)機(jī)PS-2205S測(cè)試筆記本轉(zhuǎn)軸單體扭矩：筆記本轉(zhuǎn)軸的可靠性直接關(guān)乎筆記本的質(zhì)量，日常開(kāi)合，轉(zhuǎn)軸扭力保持，耐過(guò)壓，壽命等等都是筆記本成本綜合測(cè)試中極其重要的一項(xiàng)，使用扭力試驗(yàn)機(jī)
2020-03-16 16:17:161805 本文探討了4201-SMU和4211-SMU可以進(jìn)行穩(wěn)定的弱電流測(cè)量的多種應(yīng)用實(shí)例，包括測(cè)試：平板顯示器上的OLED像素器件、長(zhǎng)電纜MOSFET傳遞特點(diǎn)、通過(guò)開(kāi)關(guān)矩陣連接的FET、卡盤上的納米FET I-V測(cè)量、電容器泄漏測(cè)量。
2019-12-09 15:03:391737 
源測(cè)量單元（SMU）是一種可以提供電流或電壓，并測(cè)量電流和電壓的儀器。SMU用來(lái)對(duì)各種器件和材料進(jìn)行I-V表征，是為測(cè)量非常靈敏的弱電流，同時(shí)提供或掃描DC電壓而設(shè)計(jì)的。但是，在擁有長(zhǎng)電纜或其他高電容測(cè)試連接的測(cè)試系統(tǒng)中，某些SMU可能不能在輸出上容忍這樣的電容，從而產(chǎn)生有噪聲的讀數(shù)和/或振蕩。
2020-10-09 09:39:231390 我們每天購(gòu)買和使用的產(chǎn)品比幾年前復(fù)雜得多。物聯(lián)網(wǎng)、技術(shù)融合、語(yǔ)音控制以及更多的趨勢(shì)正在推動(dòng)設(shè)備功能越來(lái)越強(qiáng)，隨之而來(lái)的是測(cè)試團(tuán)隊(duì)的壓力越來(lái)越大。 上一次您遇到一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試范圍要求是什么時(shí)候？不包含
2020-10-30 03:18:54135 ，泰克將推出一系列關(guān)于光通信測(cè)試的技術(shù)文章，本篇為第一講，為您講解關(guān)于無(wú)源器件的 PD 暗電流測(cè)試問(wèn)題。本文作者是來(lái)自泰克代理商“柯泰測(cè)試”的一位工程師朋友段工，他偶然聽(tīng)見(jiàn)幾個(gè)搞光電的小伙伴在掰扯 PD 暗電流以及如何測(cè)試的問(wèn)題，正好想
2020-10-30 04:00:12748 一些問(wèn)題待解決。本文從測(cè)試工程師的角度來(lái)討論這些挑戰(zhàn)。不過(guò)在討論用戶端設(shè)備（UE）設(shè)計(jì)和測(cè)試的技術(shù)挑戰(zhàn)之前，先從更廣闊的視野來(lái)看看一些潛在問(wèn)題。
2021-06-24 17:28:232103 我們的新型電流鉗表CP系列基于霍爾效應(yīng)，這些新型的電流鉗表采用了新型專利的磁感應(yīng)線圈，可以更好地抵御外部磁場(chǎng)的干擾，最終可以得到更加優(yōu)質(zhì)的測(cè)試結(jié)果。
2021-07-22 10:13:58592 華為2021開(kāi)發(fā)者大會(huì)HarmonyOS測(cè)試技術(shù)與實(shí)戰(zhàn)-軟件棧對(duì)測(cè)試的挑戰(zhàn)
2021-10-23 14:14:261010 
S32K14x系列MCU時(shí)鐘調(diào)試筆記
2021-11-18 16:51:0245 調(diào)試筆記--keil 測(cè)量周期小技巧
2021-12-01 15:21:0311 python通過(guò)繼電器控制車機(jī)電源通斷，實(shí)現(xiàn)重啟壓力測(cè)試筆記需配合logger日志記錄和relayControl繼電器控制方法使用。 # coding:utf-8"""author:yutao函數(shù)
2023-05-04 11:40:010 SMU 在單個(gè)儀表內(nèi)集成了電流源、電壓源、電流表和電壓表，可以通過(guò)液晶屏或者上位機(jī)軟件在各功能之間輕松轉(zhuǎn)換。區(qū)別于傳統(tǒng)的直流電源，SMU可以在四個(gè)象限獨(dú)立完成IV測(cè)試。SMU還具有各種保護(hù)措施
2022-11-08 14:42:23690 
摘要：我在2022年時(shí)設(shè)計(jì)了“邏輯電平測(cè)試筆“，針對(duì)常用的3.3V和5V的TTL電平進(jìn)行快速測(cè)量，在當(dāng)時(shí)我就決定了做一款”升級(jí)版“。時(shí)間轉(zhuǎn)眼來(lái)到了2023年，我對(duì)這支測(cè)試筆的構(gòu)想在腦中逐漸完善，在”CW32生態(tài)社區(qū)“的支持下我決定將這一設(shè)計(jì)變?yōu)閷?shí)物。
2023-10-18 10:31:24619 
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