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FPGA中循環(huán)冗余校驗(yàn)的不同類型

YCqV_FPGA_EETre ? 來源:未知 ? 作者:劉勇 ? 2019-07-29 10:16 ? 次閱讀
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注意:本博文介紹了利用POST_CRC試錯的方法,但總體而言,賽靈思推薦在所有架構(gòu)上使用Soft Error Mitigation (SEM)IP。

SEM IP 提供了一種可用于測試 SEU 檢測與糾正能力的機(jī)制并提供了更強(qiáng)大的調(diào)試能力。

本博文中討論的功能僅受 7 系列器件的支持。

功能

7系列

Kintex? UltraScale? 和 Virtex? UltraScale?

Kintex UltraScale+? 和 Virtex UltraScale+?

Readback CRC/POST_CRC

否,使用 SEM IP 替代

否,使用 SEM IP 替代

賽靈思 FPGA 中循環(huán)冗余校驗(yàn) (CRC) 的不同類型:

1) 一般 CRC 校驗(yàn)在一般比特流加載過程中,CRC 校驗(yàn)利用 CRC 寄存器進(jìn)行。該“CRC 寄存器”的描述詳見《7 系列 FPGA 配置用戶指南》(UG470)。

FPGA 在比特流被加載時計算 CRC 值,然后該值與在比特流加載結(jié)束時預(yù)期的 CRC 值進(jìn)行比較。如果兩個值匹配,則 FPGA 成功加載。

一般情況下默認(rèn)啟用 CRC 校驗(yàn)。比特流屬性為 BITSTREAM.GENERAL.CRC,其中有效選項(xiàng)包括“ENABLE”(啟用)或“DISABLE”(禁用)。

2) 回讀 CRC/POST CRC 校驗(yàn)

POST_CRC 校驗(yàn)在配置 FPGA 之后,設(shè)計運(yùn)行過程進(jìn)行。

一般情況下,比特流 CRC 校驗(yàn)是一種獨(dú)立功能,具有其自己的 CRC 校驗(yàn)寄存器。

POST_ CRC 校驗(yàn)具有用于存儲校驗(yàn)值的不同以上比特流 CRC 的寄存器。

啟用 POST_CRC 校驗(yàn)的目的是什么?

啟用 POST_CRC 校驗(yàn)的目的是檢測單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)。SEU 導(dǎo)致配置存儲器中的數(shù)位翻轉(zhuǎn)。

POST_CRC 可與 FRAME_ECCE2 原語配合使用,以便提供針對此等錯誤的額外功能和更好的可見性。

可利用 FRAME_ECCE2 的輸出監(jiān)控錯誤檢查和糾正(ECC)和回讀 CRC 電路的狀態(tài)。

如需了解更多有關(guān) FRAME_ECCE2 原語的詳細(xì)信息,請參閱《Vivado Design Suite 7 系列 FPGA 和 Zynq-7000 SoC 庫指南》(UG953)。

用戶通常想要測試這種崩潰發(fā)生時的實(shí)例,以便確保此等錯誤被成功檢測到。

測試插入錯誤的一種方法是編輯 PRE_COMPUTED CRC 值。

測試插入錯誤的步驟:

將以下設(shè)置放置在設(shè)計 XDC 中:

set_property POST_CRC ENABLE [current_design]#Enables the Post CRC checkingset_property POST_CRC_SOURCE PRE_COMPUTED [current_design]#Determines an expected CRC value from the bitstreamset_property POST_CRC_ACTION CONTINUE [current_design]#Even if a CRC error is detected, continue CRC checking.#Other options include HALT, CORRECT_AND_CONTINUE and CORRECT_AND_HALTset_property POST_CRC_INIT_FLAG ENABLE [current_design]#Leaves the INIT_B pin enabled as a source of the CRC error signal. Useful especially if FRAME_ECC is not used

如需了解更多有關(guān)這些設(shè)置的詳細(xì)信息,請參閱《Vivado Design Suite 屬性參考指南》(UG912)。

運(yùn)行設(shè)計流程并生成比特流。

在生成了比特流之后,PRE_COMPUTED CRC 的值可在 .bit 文件中校驗(yàn)。

該值會是非零值。

若要確定 PRE_COMPUTED CRC 值在比特流中的哪個位置,可查閱《7 系列 FPGA 配置用戶指南》(UG470)中的示例 7 系列比特流。

若要測試插入錯誤,您就要禁用一般 CRC 校驗(yàn),以便讓比特流成功載入。

切記,如果對位于正常 CRC 覆蓋范圍內(nèi)的比特流進(jìn)行了任何編輯,即會標(biāo)注 CRC 錯誤并阻止比特流加載。

若要禁用一般 CRC 校驗(yàn),您應(yīng)使用以下設(shè)置:

set_property BITSTREAM.GENERAL.CRC DISABLE [current_design]#Disables the general CRC checkingset_property POST_CRC ENABLE [current_design]#Enables the Post CRC checkingset_property POST_CRC_SOURCE PRE_COMPUTED [current_design]#Determines an expected CRC value from the bitstreamset_property POST_CRC_ACTION CONTINUE [current_design]#Even if a CRC error is detected, continue CRC checking.#Other options include HALT, CORRECT_AND_CONTINUE and CORRECT_AND_HALTset_property POST_CRC_INIT_FLAG ENABLE [current_design]#Leaves the INIT_B pin enabled as a source of the CRC error signal.Useful especially if FRAME_ECC is not used

再次運(yùn)行設(shè)計流程并生成比特流。

在生成比特流之后,您應(yīng)觀察 PRE_COMPUTED CRC 的值是否為零。這是禁用 GENERAL.CRC 的結(jié)果,以便進(jìn)行錯誤測試。

由于預(yù)計有前面的非零值,要配置器件并觀察其行為。

INIT_B 引腳的監(jiān)控應(yīng)顯示 CRC 錯誤。

FRAME_ECCE2 也可被用于接收連接到 ILA 上的 FRAME_ECCE2 發(fā)出的輸出信號。然后它將有可能觀察到 CRCERROR。

下文的例化可被用于 FRAME_ECCE2 原語的連接:

然后輸出可被傳輸給 ILA。

當(dāng)器件被編程后,通過校驗(yàn) ILA 上的信號,它應(yīng)有可能查看類似于以下示例的輸出。

例如,由于未找到預(yù)期的非零 PRE_COMPUTED 值,標(biāo)注了 CRCERROR 錯誤。

可以理解的是,大部分用戶都想要測試錯誤檢測,以確定在此等錯誤被檢測到時,將會以某種形式予以報告。該測試可讓用戶堅信,在真實(shí)的情景中,錯誤會被正確檢測并報告。

如上文所述,由于 SEM IP 所提供的能力,賽靈思推薦使用 SEM IP,而不是 POST_CRC。POST_CRC 的功能在較新的架構(gòu)中不受支持。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:如何利用 7 系列 FPGA 中的 POST_CRC 試錯

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    發(fā)表于 09-25 11:22 ?0次下載
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