邏輯電平探測(cè)器電路圖
邏輯電平測(cè)試器的原理
由圖1可知，邏輯信號(hào)電平測(cè)試器電路由五部分組成：輸入電路、邏輯狀態(tài)判斷電路、音響電路、發(fā)音電路和電源。
邏輯電平探測(cè)器電路
電路如下圖所示，這種邏輯探測(cè)器，可探測(cè)TTL、CMOS高低電平及不確定電平。D1亮表示高電平，D2亮表示低電平，D3亮表示不確定電平（TTL在0.8V～2.0V之間，CMOS在3.5V～1.5V之間），D4亮表示探測(cè)點(diǎn)電壓變化。電路如下圖所示。IC1是電壓比較器，通過開關(guān)K設(shè)置不同的電壓基準(zhǔn)，a處為TTL，b處為CMOS。T1、T2、T3用來驅(qū)動(dòng)D1、D2、D3，使之點(diǎn)亮。IC2組成一個(gè)單穩(wěn)態(tài)電路，以使T4驅(qū)動(dòng)D4。該探測(cè)器的輸入阻抗為330kΩ。
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探測(cè)器
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用于光波導(dǎo)系統(tǒng)的均勻性探測(cè)器
提供了均勻性探測(cè)器，可以進(jìn)行所需的研究。在本文件中，我們將演示可用的選項(xiàng)以及如何操作均勻性探測(cè)器。
**案例演示 **
**均勻性探測(cè)器
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**探測(cè)器功能：相干參數(shù) **
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