如何操作{射頻探針臺(tái)}TS3000-SE
一、準(zhǔn)備本次測試的DUT和相應(yīng)的探針與電纜，將相應(yīng)的探針擺放完畢，佩戴相應(yīng)的手套、防靜電手環(huán)等。
二、確認(rèn)打開壓縮空氣、真空、電源等廠務(wù)后，按下白色電源鍵開機(jī)。待主機(jī)啟動(dòng)完畢后預(yù)熱1-2分鐘，按下藍(lán)色的reset按鈕。
三、打開軟件進(jìn)入操作界面。
四、初始化：選擇一種模式做初始化。
五、打開探針臺(tái)屏蔽室的艙門，放wafer：把wafer放在chuck上，然后點(diǎn)擊真空開關(guān)或點(diǎn)“start”按鈕自動(dòng)選擇吸附wafer的尺寸。
六、設(shè)置扎針高度（contact值）: 操縱面板上長按ENABLE Z-AXIS 然后按Z-up把chuck升到一定高度(做這個(gè)動(dòng)作之前建議把探針調(diào)到最高防止撞針)。然后調(diào)節(jié)camera的Z軸和適應(yīng)自己的顯微鏡倍率把圖像調(diào)節(jié)清晰（如果是電動(dòng)顯微鏡支架，請?jiān)跈C(jī)臺(tái)面板上選擇顯微鏡后再調(diào)節(jié)Z軸高低）。
lw
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
射頻
+關(guān)注
關(guān)注
106文章
5754瀏覽量
170352 -
初始化
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
50瀏覽量
12103 -
DUT
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
190瀏覽量
12949
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
壓電納米定位技術(shù)在探針臺(tái)應(yīng)用中有多關(guān)鍵？
操作的背后，都離不開一個(gè)核心設(shè)備——探針臺(tái)。 一、探針臺(tái)：微觀世界的測試站 探針
季豐電子推出低高溫手動(dòng)探針臺(tái)設(shè)備
為滿足客戶對低溫測試的要求，季豐電子成功自研了低高溫手動(dòng)探針臺(tái)，目前已在季豐張江FA投入使用，該機(jī)臺(tái)填補(bǔ)了傳統(tǒng)常規(guī)型手動(dòng)探針臺(tái)無法實(shí)現(xiàn)低溫測試環(huán)境的空白。
奕葉探針臺(tái)助力制備2D材料堆疊異質(zhì)結(jié)
hBN-Graphene-hBN是一種由六方氮化硼和石墨烯交替堆疊形成的范德華異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu)。這種結(jié)構(gòu)制備方法分為機(jī)械剝離法和化學(xué)氣相沉淀法。其中化學(xué)氣相沉淀法就需要高溫和特定的環(huán)境。奕葉探針臺(tái)高溫系統(tǒng)
高溫電阻測試儀的四探針法中，探針的間距對測量結(jié)果是否有影響
在高溫電阻測試儀的四探針法中，探針的間距對測量結(jié)果確實(shí)存在影響，但這一影響可以通過特定的測試方法和儀器設(shè)計(jì)來最小化或消除。 探針間距對測量結(jié)果的影響 在經(jīng)典直排四探針法中，要求使用等間
EE-200：ADSP-TS20x TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《EE-200：ADSP-TS20x TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作.pdf》資料免費(fèi)下載
發(fā)表于 01-15 16:16
?0次下載
EE-174：ADSP-TS101S TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《EE-174：ADSP-TS101S TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作.pdf》資料免費(fèi)下載
發(fā)表于 01-15 15:35
?0次下載
微波測量探針
類型、觸點(diǎn)尺寸可選，可通用適配多種探針臺(tái)、探針臂，適用于微波集成電路在片測試、管結(jié)參數(shù)提取、MEMS產(chǎn)品測試及片上天線測試等領(lǐng)域。 編輯 ? 技術(shù)指標(biāo) 微波測量探針 編輯 ? 編輯 審
輻射發(fā)射測試新境界：深入解析TS-RadiMation套件多種操作方法（一）
TS-RadiMation?套件作為輻射發(fā)射測試的得力助手，支持多種測試方法。 多頻段 手動(dòng)模式 電波暗室 固定高度測試 GTEM小室測試 手動(dòng)模式（單頻段） 本文將詳細(xì)介紹如何操作手動(dòng)模式及手動(dòng)
SMU數(shù)字源表連接探針臺(tái)示意圖及注意事項(xiàng)
數(shù)字源表SMU與探針臺(tái)組合用于半導(dǎo)體測試，連接需考慮線纜類型和探針選擇。測試時(shí)需注意探針臺(tái)接地、連接線接地、關(guān)閉光源，小電流測試加屏蔽罩，異
探針頭型怎么選擇尺寸
探針頭型的選擇尺寸是一個(gè)復(fù)雜的過程，需要考慮多個(gè)因素，包括被測點(diǎn)的形狀、大小、間距、測試環(huán)境以及測試要求等。以下是一些選擇探針頭型尺寸的基本原則和步驟： 一、基本原則 測量精度 ：首先，需要明確測試
開爾文探針測試原理是什么
開爾文探針測試（Kelvin Probe Force Microscopy，KPFM）是一種非接觸式表面電勢測量技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)通過測量探針
《圖說本源產(chǎn)品》系列之三：量子芯片“火眼金睛” · 無損探針臺(tái)
臺(tái)”全稱為“無損探針電學(xué)測量平臺(tái)”，是本源量子自主研發(fā)的一款用于超導(dǎo)量子芯片常溫電參數(shù)精密測量的半自動(dòng)化工業(yè)母機(jī)產(chǎn)品，可以在不影響量子比特性能的情況下，實(shí)現(xiàn)量子比
分享：晶圓探針測試中探針臺(tái)的自動(dòng)化控制
NSAT-1000射頻測試系統(tǒng)在ATECLOUD測試平臺(tái)基礎(chǔ)上開發(fā)而成，具有強(qiáng)大的兼容性，可以靈活快速接入設(shè)備，自動(dòng)識別儀器，探針臺(tái)就是其中之一。平臺(tái)會(huì)封裝探針
案例 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試軟件與探針臺(tái)、網(wǎng)分通訊，測量晶圓芯片
北京某科技公司致力于射頻芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售，其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于4G、5G移動(dòng)終端和物聯(lián)網(wǎng)模組等領(lǐng)域。該公司與納米軟件合作，旨在通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀軟件與探針臺(tái)、網(wǎng)分的通訊，完成晶圓芯片S參數(shù)的全自動(dòng)化測試。
工商網(wǎng)監(jiān)
評論