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內(nèi)存泄漏的檢測(cè)方法

如意 ? 來(lái)源:CSDN ? 作者:Owenlzy126 ? 2020-06-20 11:01 ? 次閱讀
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內(nèi)存泄露(Memory leak)指的是,在程序中動(dòng)態(tài)申請(qǐng)的內(nèi)存,在使用完后既沒(méi)有釋放,又無(wú)法被程序的其他部分訪問(wèn)。內(nèi)存泄露是在開(kāi)發(fā)大型程序中最令人頭疼的問(wèn)題,以至于有人說(shuō),內(nèi)存泄露是無(wú)法避免的。其實(shí)不然,防止內(nèi)存泄露要從良好的編程習(xí)慣做起,另外重要的一點(diǎn)就是要加強(qiáng)單元測(cè)試(Unit Test),而valgrind就是這樣一款優(yōu)秀的工具。

(1):程序發(fā)生內(nèi)存泄露的條件及各種情況:

a: 內(nèi)存申請(qǐng)忘記釋放(malloc,free();new,delete);

b:申請(qǐng)內(nèi)存大小不正確((char*)malloc(0));

c:free()函數(shù)使用不正確(int a[];free(a)釋放了棧區(qū)參數(shù));

d:一段內(nèi)存釋放多次(1個(gè)malloc,多個(gè)free());

(2):檢測(cè)程序是否發(fā)生內(nèi)存泄露:

方法有二:

a:模仿用戶長(zhǎng)時(shí)間使用設(shè)備;

b:針對(duì)某個(gè)具體的測(cè)試用例。

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