美國高精度非接觸式測厚儀，采用白光干涉原理，可快速測量12μm－80mm透光材料的厚度，精度為0．1μm，測單層和多層厚度（20層），可選多探頭配置，內(nèi)部自校準，NIST追溯。

工作原理

該光學探頭將1310nm不可見紅外光通過透明、半透明或有色材料反射回OptiGauge，并將每個內(nèi)部表面的反射發(fā)送回OptiGauge， 在OptiGauge中，先進的軟件以易于操作的圖形界面提供實時分析。

主要特點

? 測量范圍 12 μm －16 mm

? 精度±0．1 μm

? 單層和多層測量

? 探針靈活配置

? 連續(xù)內(nèi)部校準

? NIST追溯

? 臺式或機架安裝

典型應用

? 醫(yī)療— 球囊、導管（管壁、內(nèi)徑、外徑）

? 玻璃— 汽車、浮板、平板、電子顯示、光學 （厚度、內(nèi)層）

? 眼科 — 隱形眼鏡、人工晶狀體 （CT， SAG）

? 工業(yè) — 薄膜、涂層、包裝、粘合劑、阻擋層 （厚度）

OptiGauge? 核心單元

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