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如何讓QFN焊接爬錫高度達到50%以上

電子設(shè)計 ? 來源:電子設(shè)計 ? 作者:電子設(shè)計 ? 2020-12-24 17:29 ? 次閱讀
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【序】

QFN器件側(cè)邊裸銅焊盤、SMT焊接后側(cè)邊pad為什么不爬錫或爬錫高度達不到IPC里面的標(biāo)準(zhǔn)要求,這是一個令人糾結(jié)和頭疼的問題。要怎么解決這個問題呢,今天我們就來聊聊這個QFN側(cè)邊焊盤不爬錫、帶來焊盤接觸性虛焊、假焊、功能測試不穩(wěn)定等潛在隱患,且聽高速先生娓娓道來。

【正文】

隨著電子行業(yè)的發(fā)展,PCB的布線程度越來越緊湊、選用的QFN器件也越來越多、QFN器件由于體積小、重量輕、加上杰出的電性能和熱性能,這種封裝特別適合任何一個對尺寸、重量和性能都有的要求的產(chǎn)品應(yīng)用,由于QFN封裝不像傳統(tǒng)的SOIC與TSOP封裝那樣具有鷗翼狀引線,內(nèi)部引腳與焊盤之間的導(dǎo)電路徑短,自感系數(shù)以及封裝體內(nèi)布線電阻很低,所以它能提供卓越的電性能。以32引腳QFN與傳統(tǒng)的28引腳PLCC封裝相比較為例,面積(5mm×5mm)縮小了84%,厚度(0.9mm)降低了80%,重量(0.06g)減輕了95%,電子封裝寄生效應(yīng)也提升了50%,所以非常適合應(yīng)用在手機、數(shù)碼相機、PDA以及其他便攜小型電子設(shè)備的高密度印刷電路板上。

QFN器件的焊盤設(shè)計主要有三種的布局方式:①A底部焊盤設(shè)計;②B底部內(nèi)側(cè)焊盤設(shè)計;③C側(cè)邊焊盤與底部焊盤設(shè)計;

A類和B類側(cè)邊是無法爬錫的、重點關(guān)注C類如何爬錫達到50%以上(如下圖)

按照IPC-A-610的標(biāo)準(zhǔn)QFN側(cè)邊焊盤爬錫要求,分為三個等級如下:

1級為QFN焊盤底部填充錫潤濕明顯;

2級為側(cè)邊焊盤高度的25%;

3級標(biāo)準(zhǔn)為側(cè)邊焊盤高度的50%;

今天我們就來聊聊這個QFN側(cè)邊焊盤不爬錫、將帶來焊盤接觸性虛焊、假焊、功能測試不穩(wěn)定等潛在隱患。從 QFN側(cè)邊焊盤是否爬錫或爬錫高度不滿足50%以上,可以很清晰的設(shè)別焊接品質(zhì),外觀看起來也更加的完美。

審核編輯:符乾江
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