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浪涌測(cè)試儀的設(shè)計(jì)及應(yīng)用解決方案

電子設(shè)計(jì) ? 來源:電子工程網(wǎng) ? 作者:電子工程網(wǎng) ? 2021-04-18 10:37 ? 次閱讀
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IEC 60601-1:2006規(guī)定,連接到病人的醫(yī)療設(shè)備必須抗除顫(即,該醫(yī)療設(shè)備可以與除顫器同時(shí)和病人連接,可抵抗除顫器工作時(shí)釋放的高能量而不被損壞)。

IEC 60601-1 包含了對(duì)醫(yī)療設(shè)備的安全通用要求。多年來,這些要求已經(jīng)被加以改進(jìn)而更具包容性。浪涌測(cè)試在很多年前就已經(jīng)被納入IEC 60601-1標(biāo)準(zhǔn),浪涌測(cè)試旨在確保在對(duì)病人施加除顫脈沖后,連接到病人的所有醫(yī)療設(shè)備仍能正常工作。

IEC 60601-2006提出了能量計(jì)量測(cè)試的要求,目的是確保加到病人的除顫脈沖能量被連接到病人的醫(yī)療設(shè)備所消耗的部分不會(huì)超過除顫脈沖總能量的10%??偟膩碇v,能量計(jì)算測(cè)試曾出現(xiàn)在IEC 60601-2-49中,現(xiàn)在已經(jīng)被添加到IEC 60601-1-2006版。在這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中,使用的都是5-kV電容,但許多其它零部件的容值不同。圖1所示為共模和差模測(cè)試中所使用的電路。這些都是IEC 60601-1 第2版中包含的測(cè)試,并且測(cè)試方法和之前相同。圖2所示為能源計(jì)量測(cè)試所使用的電路,這是新增的測(cè)試。

浪涌測(cè)試儀的設(shè)計(jì)及應(yīng)用解決方案

圖1. 用于抗除顫型應(yīng)用部件的單個(gè)病人連接的測(cè)試電壓電路

為了得到準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果,能量計(jì)量測(cè)試要求采用不同的測(cè)試方法以及對(duì)所用的浪涌發(fā)生器做修正。我們發(fā)現(xiàn),用于共模和差模測(cè)試的老發(fā)生器可能已經(jīng)不能夠?qū)δ芰坑?jì)量測(cè)試做適當(dāng)?shù)脑u(píng)估。如果你想知道某個(gè)發(fā)生器是否可用,可以檢查其前面板或后面板,查看其是否在40Ω0和100Ω電阻之間的節(jié)點(diǎn)配置有能量計(jì)量端口(見圖2)。如果發(fā)生器配置有一個(gè)能量計(jì)量端口,那還必須檢查在傳送脈沖前后,端口和地之間的電阻值,確保其電阻值在100Ω標(biāo)稱值的5%以內(nèi)。如果浪涌測(cè)試儀能滿足這兩個(gè)條件,那么可以將其用來做能量計(jì)量測(cè)試。

設(shè)計(jì)用于能量計(jì)量測(cè)試的浪涌發(fā)生器

IEC 60601-1第3版中規(guī)定:在進(jìn)行能源計(jì)量檢測(cè)時(shí),操作人員要做兩次測(cè)試:在被測(cè)設(shè)備與浪涌發(fā)生器斷開的情況下測(cè)試一次;在被測(cè)設(shè)備(DUT)與浪涌發(fā)生器相連的情況下再測(cè)試一次。如果兩次能量計(jì)量測(cè)試的結(jié)果都表明DUT所吸收的脈沖能量在脈沖總能量的10%以內(nèi),那么表明被測(cè)設(shè)備通過了能量計(jì)量測(cè)試。浪涌測(cè)試儀的設(shè)計(jì)人員和技術(shù)人員必須使用特殊的方法以確保讓這項(xiàng)測(cè)試無誤地進(jìn)行。

IEC 60601規(guī)定了能量計(jì)量測(cè)試的線路圖,但沒有規(guī)定要得到什么波形。因此,浪涌測(cè)試儀制造商必須確保浪涌測(cè)試儀自身的準(zhǔn)確性,否則產(chǎn)生波形不準(zhǔn)確。圖3對(duì)沒有連接DUT情況下的能量計(jì)量測(cè)試輸出結(jié)果進(jìn)行了仿真,假定使用了真實(shí)的零部件。

圖2:標(biāo)準(zhǔn)中新給出的電壓模型,用于測(cè)試被傳送的除顫能量。

由于IEC 60601標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了元器件的大小和偏差范圍,因此要得到正確的發(fā)生器輸出波形不需要ISO 17025認(rèn)可校準(zhǔn)。要得到正確的輸出波形,必須對(duì)電感或排阻 (Resistor Bank)進(jìn)行精心設(shè)計(jì)。

配置有一個(gè)100Ω排阻的浪涌測(cè)試儀,有可能它原本能通過ISO 17025校準(zhǔn),但在送出一個(gè)浪涌(尖脈沖)后可能已經(jīng)不在公差范圍內(nèi)。因?yàn)楣β视?jì)算公式中包含了電阻值,若要得到準(zhǔn)確無誤的結(jié)果,就要求電阻器的電阻值在有浪涌通過導(dǎo)致發(fā)熱的情況下也不會(huì)發(fā)生變化。因?yàn)槟芰坑?jì)量測(cè)試要測(cè)試兩次,讓電阻值在測(cè)試期間保持不變,這一點(diǎn)也很重要。

電阻器不管什么時(shí)候用在電路中時(shí)都會(huì)發(fā)熱,電阻器發(fā)熱會(huì)導(dǎo)致其電阻值下降。由此產(chǎn)生電阻值的變化被電阻器制造商定義為溫度系數(shù)。由于受前面通過的浪涌的熱效應(yīng)的影響,電阻值會(huì)發(fā)生變化,從而改變功率測(cè)量結(jié)果。如果電阻器發(fā)熱到一定程度使其電阻值在兩次測(cè)試時(shí)出現(xiàn)大幅變動(dòng),更多的脈沖能量在第二次測(cè)試時(shí)被排阻所消耗,傳送給DUT的能量減少。如果排阻在發(fā)熱后阻值超出允許的偏差范圍,那么這將使得被測(cè)設(shè)備的測(cè)試結(jié)果不能通過測(cè)試。

如果排阻的電阻值不對(duì),那么排阻在傳送脈沖時(shí)發(fā)熱可能會(huì)導(dǎo)致不準(zhǔn)確的能量計(jì)量數(shù)據(jù)。這是因?yàn)槟芰坑?jì)算公式假定電阻值在測(cè)試過程中恒定不變的,然而事實(shí)并非如此。在實(shí)際使用過程中,額定排阻在有脈沖通過時(shí),其電阻值會(huì)發(fā)生<5%的變化,并且在連續(xù)加脈沖的情況下,其電阻值會(huì)發(fā)生5%以內(nèi)的變化。由分配給浪涌測(cè)試儀的占空比來控制5%的脈沖-脈沖精度。為了確保能量計(jì)算的準(zhǔn)確性,筆者建議在測(cè)試前后馬上對(duì)100Ω排阻的阻值進(jìn)行測(cè)量,并取其平均值用作能量計(jì)算公式中的R值。

IEC 60601標(biāo)準(zhǔn)指出,電感器的設(shè)計(jì)也很重要。如果電感在脈沖傳送期間變飽和,那么輸出波形也會(huì)受此影響。但如果電感飽和,這完整的360 J(焦耳)能量仍會(huì)被送出,但波形會(huì)發(fā)生變化。如果電感變飽和,那么輸出波形的上升沿變得更陡峭和持續(xù)時(shí)間更短,這會(huì)使測(cè)試要求變得更加嚴(yán)格。

雖然60601-1特別提到正確電感器設(shè)計(jì)的重要性,但排阻的設(shè)計(jì)對(duì)傳送給被測(cè)設(shè)備的脈沖具有更大的影響。如果使用不合適的排阻,那么送出的功率會(huì)比預(yù)期小得多。與電感飽和情況不同,這會(huì)使得測(cè)試更加苛刻,若使用大小不合適的排阻,其發(fā)熱情況超出預(yù)期,會(huì)導(dǎo)致能量計(jì)量測(cè)試結(jié)果無效。通過下面的能量計(jì)算公式可以看出,發(fā)熱排阻將對(duì)兩次測(cè)試間的能量計(jì)算產(chǎn)生直接影響:

因?yàn)樵谛?zhǔn)過程中可能不會(huì)發(fā)現(xiàn)操作性問題,所以要檢查發(fā)生器的波形。把浪涌發(fā)生器的輸出波形與發(fā)生器的校準(zhǔn)波形進(jìn)行比較,若有任何異常,則應(yīng)在測(cè)試儀投入使用之前對(duì)其進(jìn)行深入檢查。

發(fā)生器的開關(guān)技術(shù)在一定程度上也很重要。在將來自大容量電容的能量切換給被測(cè)設(shè)備時(shí),所用開關(guān)必須讓能量順利通過并提供準(zhǔn)確的波形。固態(tài)開關(guān)是完成這一任務(wù)的最佳途徑,但那些額定值為5 kV的開關(guān)可能價(jià)格有點(diǎn)貴。開關(guān)技術(shù)正在迅速發(fā)展,可能在未來幾年內(nèi)就會(huì)出現(xiàn)適用于5000 - V浪涌測(cè)試儀的經(jīng)濟(jì)型固態(tài)開關(guān)。在此期間,我們有兩類開關(guān)可以使用:機(jī)械式繼電器和真空繼電器。真空繼電器是一類結(jié)構(gòu)特殊的機(jī)械繼電器,其接觸點(diǎn)處在真空中,所以開關(guān)切換時(shí)產(chǎn)生的電弧最小。

筆者對(duì)發(fā)生器中所用的機(jī)械式繼電器和真空繼電器的性能做了評(píng)估,發(fā)現(xiàn)這兩類繼電器在5 kV測(cè)試電壓下,兩者的表現(xiàn)差不多。然而,經(jīng)驗(yàn)表明,如果在400V左右的極低電壓下,使用真空開關(guān)可以明顯提高性能。若在此電壓下進(jìn)行測(cè)試,則使用真空開關(guān)可以改善發(fā)生器的波形。若希望在較低電壓下取得更清楚的波形,則市面上有采用真空開關(guān)作為標(biāo)準(zhǔn)配置或備選配置的發(fā)生器。

關(guān)于占空比

制造商大概已經(jīng)對(duì)抗除顫脈沖型浪涌測(cè)試儀中所用的排阻預(yù)先進(jìn)行了設(shè)計(jì)和測(cè)試,并且其確定的占空比能夠讓其電阻值在連續(xù)測(cè)試的情況下仍維持在IEC 60601-1所規(guī)定的公差范圍內(nèi)。所以用戶應(yīng)確保所有測(cè)試操作都要考慮到占空比,從而確保電阻的阻值在整個(gè)測(cè)試期間都維持在公差范圍內(nèi)。

然而,這一占空比對(duì)能量計(jì)算測(cè)試而言是例外,建議制造商不要在連接DUT的情況下進(jìn)行這項(xiàng)測(cè)試,要等到測(cè)試儀中的排阻完全恢復(fù)之后再進(jìn)行測(cè)試。接下來舉例說明這點(diǎn)。

例1

因?yàn)镮EC 60601-1規(guī)定,在進(jìn)行能量計(jì)量測(cè)試時(shí),先進(jìn)行參考測(cè)試(連接DUT)。若任何排阻發(fā)熱,則意味供被 測(cè)設(shè)備吸收的能量減少。

因此,一個(gè)原本能通過測(cè)試的被測(cè)設(shè)備最后可能會(huì)被錯(cuò)誤地判定為不能通過測(cè)試。例如,假定排阻的阻值在額定偏差范圍內(nèi),且在兩次測(cè)試之間的阻值變動(dòng)為0%―只有理想電阻器可以做到這點(diǎn),或者允許電阻器完全冷卻之后再進(jìn)行下一輪測(cè)試(按IEC 60601-1所希望的):

測(cè)試1(參考測(cè)試,用于查看有多少能量):

? 排阻吸收的能量:360 J

? DUT消耗的能量:不適用(N/A)

? 理論上允許DUT吸收的能量:36 J

測(cè)試2(測(cè)試時(shí)將DUT連上):

? 從測(cè)試1我們知道,測(cè)試儀產(chǎn)生360 J的能量

? 電阻值在兩次測(cè)試之間發(fā)生的變化:0Ω

? 測(cè)試儀輸出功率的變化:0J

? 理論上允許DUT消耗的能量(假定與測(cè)試1相同):36 J

? 理論上允許排阻消耗的最大能量:360J - 36 = 324J

? 測(cè)試儀實(shí)際輸出的能量:360J

? 允許DUT消耗的實(shí)際能量(實(shí)際的角度):36 J

? 允許DUT消耗的實(shí)際能量:360J - 36 = 324J

依據(jù)這些數(shù)據(jù),允許DUT消耗的10%能量很好計(jì)算。如果排阻吸收的能量小于324J,則DUT不能通過測(cè)試,因?yàn)樗盏哪芰砍^了傳送功率的10%,因此,不符合IEC 60601-1的要求。

例2

在本例中,排阻在測(cè)試之間發(fā)熱了,因此其電阻值在第二次測(cè)試時(shí)減小了5%。第一次測(cè)試的測(cè)試結(jié)果和例1中的測(cè)試結(jié)果相同。

測(cè)試1(參考測(cè)試,看看有多少能量可供吸收):

? 排阻消耗的能量為:360 J

? 被測(cè)設(shè)備消耗的能量為:N/A

? 理論上允許DUT消耗的能量為:36 J

但在進(jìn)行第二次測(cè)試時(shí),發(fā)熱排阻的阻值下降了5%(仍在IEC 60601-1規(guī)定的偏差范圍內(nèi))。問題是,仍用試驗(yàn)1的數(shù)據(jù)來計(jì)算測(cè)試結(jié)果,設(shè)計(jì)人員仍假設(shè)排阻消耗360 J能量,讓我們看看情況是否真是這樣。

測(cè)試2(測(cè)試時(shí)連接DUT):

? 從測(cè)試1得知,測(cè)試人員假定測(cè)試儀產(chǎn)生360 J的能量

? 電阻在兩次測(cè)試之間發(fā)生變化:-5%Ω。

? 測(cè)試儀傳送功率發(fā)生變化:-18J

? 理論上允許DUT消耗的能量(在測(cè)試1):36 J

? 理論上允許排阻消耗的最大能量:360J - 36 = 324 J

? 測(cè)試儀實(shí)際送出的功率:342 J

? 實(shí)際允許DUT消耗的能量(實(shí)際上):34.2 J

? 實(shí)際允許DUT消耗的能量:342J -34.2J = 307.8 J

這一結(jié)果表明,由排阻發(fā)熱(5%的偏差在標(biāo)準(zhǔn)允許的范圍內(nèi)),測(cè)試中允許DUT吸收的能量有一半被被測(cè)試儀自身消耗了。在測(cè)試2,送出的總能量不是360 J,而是342 J,輸出的變化是因?yàn)橥耆且驗(yàn)殡娮枳儫帷2僮魅藛T沒辦法知道這個(gè),因此,他假設(shè)通過測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)為(360J × 0.9)= 324 J。

然而,在這種情況下真正的測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)為(342J × 0.9)= 308J。如果測(cè)試結(jié)果在308和324 J之間,那么很可能會(huì)錯(cuò)誤地得出被測(cè)設(shè)備產(chǎn)能通過此次能量計(jì)算測(cè)試的結(jié)論。因此,如果在一輪測(cè)試之后不等排阻完全冷卻就進(jìn)行下一輪測(cè)試,那么原本符合標(biāo)準(zhǔn)要求的被測(cè)設(shè)備也可能得到被判定不能通過此次測(cè)試的結(jié)果。

基于這些結(jié)論,技術(shù)人員應(yīng)采用能量計(jì)量端口來測(cè)量排阻,然后應(yīng)等到排阻完全從第一次測(cè)試中恢復(fù)過來之后再進(jìn)行第二次測(cè)試。請(qǐng)記住,測(cè)試2的結(jié)果配置有一個(gè)符合要求的電阻庫,所以我們的目標(biāo)不是要擔(dān)心測(cè)試儀是否符合要求,而是確保排阻的阻值完全恢復(fù)到最初的電阻值之后,再開始第二次測(cè)試。這樣做可以確保有占脈沖能量10%的富裕能量供DUT吸收。

另一種保持精確度的方法是,進(jìn)行這兩輪測(cè)試時(shí),在每次測(cè)試前后都測(cè)量排阻的阻值,并將這兩組平均電阻值用于功率的計(jì)算。然后,操作人員正常仿真每次測(cè)試的等效電阻值。雖然這種方法能修正電阻在實(shí)際使用中不可避免的,,現(xiàn)實(shí)世界電阻的不可避免的整合效應(yīng),但I(xiàn)EC標(biāo)準(zhǔn)不支持這種方法。

因此,最安全辦法是等待排阻在測(cè)試間隔完全恢復(fù)。

最后,IEC 60601-1中規(guī)定的測(cè)試順序很重要。首先在斷開DUT的情況下進(jìn)行參考測(cè)試,然后連上DUT進(jìn)行測(cè)試。如果打亂這個(gè)測(cè)試順序,或者不等排阻完全恢復(fù),那么原本不能通過這項(xiàng)測(cè)試的DUT可能因?yàn)槔擞繉?dǎo)致測(cè)試儀內(nèi)部的排阻發(fā)熱而能通過該測(cè)試。

計(jì)算機(jī)接口

浪涌測(cè)試在很短的時(shí)間內(nèi)將大量的電壓和電流加到被測(cè)設(shè)備。這一能量很難被測(cè)試儀和DUT完全吸收。一部分脈沖能量將通過電源線回流,并且有可能影響到實(shí)驗(yàn)室的其它設(shè)備。

若有任何設(shè)備連接到浪涌測(cè)試儀,那么情況還將惡化。在很多情況下,計(jì)算機(jī)被用于浪涌測(cè)試儀的控制和數(shù)據(jù)采集。筆者所處的特殊環(huán)境包括很多臺(tái)正在進(jìn)行開發(fā)、測(cè)試和校準(zhǔn)的浪涌測(cè)試儀。所以依據(jù)經(jīng)驗(yàn)提供以下觀點(diǎn):

? 正在進(jìn)行的浪涌測(cè)試時(shí),附近的個(gè)人計(jì)算機(jī)往往會(huì)發(fā)生問題。即使沒有直接連接到浪涌測(cè)試儀的計(jì)算機(jī)也會(huì)遇到這些問題,電涌抑制器作用不大。如果實(shí)驗(yàn)室有浪涌測(cè)試儀和計(jì)算機(jī),建議給浪涌測(cè)試儀單獨(dú)使用一條電力線。這樣做有助于解決重啟問題,但除此之外目前沒有什么別的可以長(zhǎng)期改善電腦使用環(huán)境的辦法。建議用戶將實(shí)驗(yàn)室的電腦工作站做為消耗品來對(duì)待。經(jīng)常把數(shù)據(jù)備份到服務(wù)器,不要在這臺(tái)計(jì)算機(jī)上儲(chǔ)存任何數(shù)據(jù)。

?當(dāng)浪涌測(cè)試設(shè)備連接到專用電源線時(shí),在浪涌測(cè)試設(shè)備之間使用USB連接最好。另一種選擇是使用混合連接方案,采用USB連接到電腦和采用強(qiáng)健的RS - 232連接到測(cè)試設(shè)備。

結(jié)論

IEC 60601-1規(guī)定要進(jìn)行浪涌測(cè)試,以檢測(cè)連接到病人的醫(yī)療設(shè)備的抗除顫脈沖接口。浪涌試驗(yàn)設(shè)計(jì)看似簡(jiǎn)單,但I(xiàn)EC 60601-1中沒有給出波形,必須小心謹(jǐn)慎以確保正確的輸出。操作人員必須遵循制造商的規(guī)范仔細(xì)地計(jì)算占空比,但能量計(jì)量測(cè)試要求使用更嚴(yán)格的準(zhǔn)則,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性。

IEC 60601-1:2006中新增的能量計(jì)量測(cè)試給浪涌測(cè)試儀的設(shè)計(jì)人員也帶來了重大挑戰(zhàn)。不過,如果依從這篇文章的指導(dǎo),可以根據(jù)新要求對(duì)設(shè)備制造商(生產(chǎn)的醫(yī)療設(shè)備)做出準(zhǔn)確的判斷。

責(zé)任編輯:gt

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    `回收二手網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀 回收WIFI測(cè)試儀極致匯 WIFI測(cè)試儀 WT-160“極致匯 WIFI測(cè)試儀
    發(fā)表于 06-25 10:37

    WiMAX測(cè)試儀設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)

    移動(dòng)的WiMAX?測(cè)試儀解決方案
    發(fā)表于 11-06 09:26

    臺(tái)達(dá)自動(dòng)化注射針刺穿力測(cè)試儀解決方案

    臺(tái)達(dá)自動(dòng)化注射針刺穿力測(cè)試儀解決方案 摘 要:本文主要介紹臺(tái)達(dá)產(chǎn)品在醫(yī)用注射針刺穿力試的應(yīng)用。 關(guān)鍵詞:注射針 刺
    發(fā)表于 06-12 14:55 ?917次閱讀
    臺(tái)達(dá)自動(dòng)化注射針刺穿力<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b><b class='flag-5'>解決方案</b>

    臺(tái)達(dá)自動(dòng)化注射針刺穿力測(cè)試儀解決方案

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    發(fā)表于 06-20 13:30 ?699次閱讀
    臺(tái)達(dá)自動(dòng)化注射針刺穿力<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b><b class='flag-5'>解決方案</b>

    ADI脈沖氧化測(cè)試儀解決方案

    ADI脈沖氧化測(cè)試儀解決方案
    發(fā)表于 02-07 17:01 ?11次下載

    PMU測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與研究

    的開發(fā)和研究。pmu測(cè)試儀能夠準(zhǔn)確測(cè)量pmu裝置的動(dòng)態(tài)性能,統(tǒng)計(jì)誤差,通信規(guī)約等性能。首先介紹了pmu裝置的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試方法,然而是測(cè)試儀的硬件結(jié)構(gòu),動(dòng)態(tài)向量數(shù)據(jù)的兩個(gè)分析方案,最后是
    發(fā)表于 08-29 21:29 ?4次下載
    PMU<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>的設(shè)計(jì)與研究

    耐壓測(cè)試儀使用方法_耐壓測(cè)試儀選用測(cè)試

    本文主要介紹了耐壓測(cè)試儀使用方法及耐壓測(cè)試儀的選用測(cè)試。
    發(fā)表于 12-19 10:04 ?5229次閱讀

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    本文首先介紹了耐壓測(cè)試儀原理,其次闡述了耐壓測(cè)試儀結(jié)構(gòu)組成,最后闡述了耐壓測(cè)試儀測(cè)試時(shí)間。
    發(fā)表于 12-19 10:23 ?8843次閱讀

    溫度測(cè)試儀工作原理_溫度測(cè)試儀怎么使用

    本文主要介紹了溫度測(cè)試儀工作原理及土壤溫度測(cè)試儀使用方法。
    發(fā)表于 02-28 10:10 ?5737次閱讀

    航空機(jī)箱布線測(cè)試及線束測(cè)試儀方案

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    發(fā)表于 08-17 11:17 ?38次下載

    韌性測(cè)試儀詳解

    韌性測(cè)試儀的研發(fā)制造也是需要根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求來的,不同類型的針檢驗(yàn)其韌性性能的原理會(huì)有所不同,因此韌性測(cè)試儀只是注射針韌性測(cè)試儀、縫合針韌性測(cè)試儀、麻醉針韌性
    的頭像 發(fā)表于 04-09 10:15 ?2308次閱讀
    韌性<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>詳解

    薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀的常見問題及解決方案

    薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀在薄膜生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié)起著關(guān)鍵作用,用于檢測(cè)薄膜存在的針孔、裂紋等電弱點(diǎn)缺陷。然而在實(shí)際使用過程中,可能會(huì)遇到各種問題影響檢測(cè)效率與準(zhǔn)確性。以下為薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀常見問題及對(duì)應(yīng)
    的頭像 發(fā)表于 05-29 13:26 ?433次閱讀
    薄膜電弱點(diǎn)<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>的常見問題及<b class='flag-5'>解決方案</b>