內(nèi)容簡(jiǎn)介

介紹在QCC512x/QCC302x芯片上如何解決在某些頻段有底噪的問(wèn)題。本文介紹的方法對(duì)QCC304x可能不適用。

測(cè)試工具

MDE：MDE WIN 2.3.2.126

Toolkit：NONE

QACT：NULL

Hardware：QCC5127

Software：ADK_QCC512X_QCC302X_WIN_6.4.2.21 sink

測(cè)試方法

在默認(rèn)sink工程中開啟enable_usb_audio功能，然后燒錄程序到開發(fā)板，將開發(fā)板的usb接入電腦，不播放任何音樂(lè)，用AP測(cè)量qcc5127的spk輸出引腳電平。

以下為原廠提供的一個(gè)測(cè)試文檔中的截圖：

從上圖中可以清楚地看到在8kHz和16kHz附近有兩個(gè)比較高的底噪。

再參考相同文檔中的另一個(gè)截圖，可以看到通過(guò)修改后這兩個(gè)位置的噪音被消除了：

解決方法

在工程文件subsys3_config1.htf.中添加以下內(nèi)容，這里需要對(duì)芯片做一個(gè)區(qū)分。

所以本次測(cè)試選用的qcc5127應(yīng)該選擇第二種方法（如果是QCC3031等芯片，則可以選擇第一種方法），經(jīng)過(guò)測(cè)試，結(jié)果跟原廠文檔描述一致。

補(bǔ)充說(shuō)明，該問(wèn)題并不是每一顆芯片都有，有問(wèn)題的芯片加上補(bǔ)丁后能消除底噪，沒問(wèn)題的自然也不影響。

編輯：jq