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長春光機所紅光Micro-LED光電特性研究獲進展

MEMS ? 來源:MEMS ? 作者:MEMS ? 2022-04-25 15:52 ? 次閱讀
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Micro-LED具有優(yōu)越的性能,應(yīng)用于微型顯示器、可見光通信、光學生物芯片、可穿戴設(shè)備和生物傳感器等領(lǐng)域。目前,Micro-LED顯示的技術(shù)挑戰(zhàn)是如何獲得高分辨率和高像素密度。像素尺寸縮小、芯片的周長面積比增大,導(dǎo)致側(cè)壁的表面復(fù)合增多,非輻射復(fù)合速率變大,從而致使光電效率下降。器件制備過程中的ICP刻蝕,加重了側(cè)壁缺陷。另外,對于磷化Micro-LED,在較高的驅(qū)動電流下,熱刺激LED的多量子阱有源區(qū)和電子阻擋層中的注入電子泄漏到LED結(jié)構(gòu)的P側(cè),導(dǎo)致效率下降,即efficiency droop現(xiàn)象。因此,LED的散熱性能對于磷化LED頗為重要。

中國科學院長春光學精密機械與物理研究所應(yīng)用光學國家重點實驗室梁靜秋研究團隊使用晶圓鍵合和襯底轉(zhuǎn)移技術(shù),制備五種像素尺寸(最小尺寸為10μm)的硅襯底AlGaInP紅光Micro-LED以探究其尺寸效應(yīng)。研究采用低損傷刻蝕技術(shù)減小LED芯片側(cè)壁缺陷;采用散熱性能更好的硅襯底代替GaAs襯底,改善LED芯片的散熱性,且避免GaAs襯底對紅光的吸收。實驗結(jié)果表明,隨著尺寸的減小,Micro-LED芯片的外量子效率下降,但可承受的最大電流密度增加,高注入電流下散熱性改善,且中心波長隨注入電流的偏移減小。

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圖1 硅襯底上垂直結(jié)構(gòu)紅光Micro-LED的制備工藝流程

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圖2(a)不同芯片尺寸下的電流-電壓特性;(b)不同芯片尺寸的電流密度-電壓特性;(c)電壓和電流密度與芯片尺寸的關(guān)系;(d)不同芯片尺寸下理想系數(shù)對電流密度的影響

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圖3(a)不同尺寸Micro-LED的電致發(fā)光圖像;(b)不同芯片尺寸的光輸出功率特性

相關(guān)研究成果以Size effects of AlGaInP red vertical Micro-LEDs on silicon substrate為題,發(fā)表在Results in Physics上。研究工作得到國家重點研發(fā)計劃、吉林省科技發(fā)展計劃及長春光機所應(yīng)用光學國家重點實驗室自主基金等的支持。

審核編輯 :李倩

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原文標題:長春光機所紅光Micro-LED光電特性研究獲進展

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