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RadiSense10系列各向同性場強傳感器的測試方案

廣州虹科電子科技有限公司 ? 來源:廣州虹科電子科技有限公 ? 作者:虹科測試測量 ? 2022-05-18 17:24 ? 次閱讀
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每個寬帶場強傳感器在其頻率范圍內(nèi)都會有一定的頻率響應。如果不校正,這將導致額外的測量偏差(誤差)。在對各向同性場傳感器進行認證校準過程中,會確定此誤差,并將作為分別 X、Y 和 Z 軸的頻率響應校正因子給出。

就目前而言,大多數(shù)這些單獨的 X、Y 和 Z 校正因子必須作為一系列乘數(shù)保存在 EMC 測試軟件的設備驅動程序中。然后,EMC 測試軟件將場傳感器的每個測量值乘以當前頻率的校正因子,以獲得準確的場強值。但是,這種方法存在一些可能導致測量不準確的風險。

大多數(shù) EMC 軟件包使用的其實是平均校正因子(X、Y 和 Z 軸的平均值),然而,每個各向同性電場傳感器在其測量軸(X、Y 和 Z)之間都會存在一些不平衡。在場傳感器校準期間,會測量每個軸的頻率響應,這個測試一般是通過生成具有已知場方向(水平或垂直)和場強的場來進行的:會把場傳感器的三軸分次平行于場強方向放置,從而獲得三個不同的頻率響應圖,RadiSense的典型X-Y-Z軸頻率響應圖如下圖所示。如果場傳感器具有良好的各向同性性能(換句話說,測得值與施加場強的方向無關),三個軸的頻率響應曲線圖之間應該幾乎沒有任何區(qū)別。

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各向同性性能較差和(或)X、Y、Z軸之間不平衡的場強傳感器將在三軸的頻率響應圖之間表現(xiàn)出更大的差異,某競品傳感器的典型X-Y-Z軸頻率響應圖如下

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市面上其它產(chǎn)品常見做法:計算“平均”各向同性頻率響應校正系數(shù)

這些三軸頻響校正系數(shù)圖會被用于計算“平均”各向同性頻率響應校正系數(shù)。這個校正文件現(xiàn)在會包含一個平均的,場傳感器在整個頻率范圍內(nèi)每個校準點的乘法系數(shù)。這個校正系數(shù)文件可以由EMC測試軟件讀取以修正頻率響應。RadiMation設置平均校準系數(shù)時的屏幕截圖如下圖所示。

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應該注意的是,計算平均各向同性頻率響應校正將是一種“折衷”方法,在場強探頭各向同性性能較差或者說軸間性能不平衡的情況下,會造成較大的測量誤差。在電波暗室的實際情況中,各向同性的場強傳感器被用來測量已知極化產(chǎn)生的場,反射會導致場均勻性測量的誤差,最大情況下可能達到產(chǎn)生的場強水平的+6dB。這些反射可能來自任何角度,造成暗室內(nèi)性能的“凹陷”或“缺洞”。一種更好、更準確且更容易的方法是將X、Y和Z軸各向同性的頻率響應圖作為單獨的乘法校正因子應用到場傳感器本身。通過這種方式,由于以下原因造成的誤差可以避免:

1、忘記應用修正系數(shù)。

2、使用錯誤軸的校正系數(shù)。

3、使用另一個探頭(不同的序列號)的校準值。

4、由于使用三軸平均校正系數(shù)而導致的錯誤。

RadiSense 10系列各向同性的場強傳感器可將單個X、Y和Z軸頻率響應圖作為“用戶校正”存儲在場強傳感器內(nèi)。這可以在RadiMation中實現(xiàn):根據(jù)所有三個軸的頻率響應校準數(shù)據(jù)創(chuàng)建一個校準文件(COR),并將該文件存儲在場傳感器內(nèi),如下圖所示。

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通過勾選或取消勾選RadiMation中RadiSense 10設備驅動程序中的復選框,可以啟用或禁用“用戶校正”。

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另外,按RadiCentre觸摸屏上的“用戶校正”按鈕,也可以可啟用或禁用校正功能。

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備注

在進行測量前,應注意將測量頻率發(fā)送到RadiSense 10場傳感器。如果沒有設置正確的頻率,可能會因為校準系數(shù)的應用不正確而導致不準確(錯誤)的測量。RadiMation的RadiSense 10驅動程序中默認使用頻率設置命令。當手動使用探頭時(通過RadiCentre),不論“用戶校正”是開啟還是關閉,用戶必須輸入正確的頻率。要確定RadiSense 10電場探頭內(nèi)是否存儲有任何“用戶校正”數(shù)據(jù),用戶只需在RadiCentre的觸摸屏顯示器上按下用戶修正ON/OFF按鈕,然后檢查測得的電場水平是否會發(fā)生變化。如果讀數(shù)沒有變化,說明場強探頭內(nèi)沒有儲存“用戶校正”數(shù)據(jù)。如果存儲有“用戶校正”數(shù)據(jù),則切換用戶修正ON/OFF按鈕時,讀數(shù)值將發(fā)生變化。如果有疑問或問題,可以將正確的“用戶校正”文件重新存儲到探頭中,從而覆蓋任何先前存儲的“用戶校正”數(shù)據(jù)。當RadiSense 10探頭在使用一年以上后被重新校準時,也可通過這一步驟更新校準參數(shù)。

虹科是在各細分專業(yè)技術領域內(nèi)的資源整合及技術服務落地供應商。在測試測量行業(yè)經(jīng)驗超過17年的高科技公司,虹科與世界知名的測量行業(yè)巨頭公司Marvin Test、Pickering Interface, Spectrum, Raditeq等公司合作多年,提供領域內(nèi)頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺的多種功能模塊,以及自動化測試軟件平臺和測試系統(tǒng),通用臺式信號源設備,高速數(shù)字化儀,EMC和射頻測試方案等。事業(yè)部目前已經(jīng)提供覆蓋半導體、3C、汽車行業(yè)的超過25個大型和超大型自研系統(tǒng)項目。我們的解決方案已在汽車電子、半導體、通信、航空航天、軍工等多個行業(yè)得到驗證。

此外,我們積極參與半導體、汽車測試等行業(yè)協(xié)會的工作,為推廣先進技術的普及做出了重要貢獻。至今,虹科已經(jīng)先后為全國用戶提供了100+不同的解決方案和項目,并且獲得了行業(yè)內(nèi)用戶極好口碑。

原文標題:【虹科白皮書】 如何使用虹科RadiSense電場探頭提高場強測量的準確性

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審核編輯:湯梓紅
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