chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

BGA焊接可靠性評價指引方案

新陽檢測中心 ? 來源:新陽檢測中心 ? 作者:新陽檢測中心 ? 2022-06-13 14:33 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

日常分析中,經(jīng)常出現(xiàn)由于BGA焊接可靠性導致的工程、市場失效問題,或檢出存在焊接可靠性風險的問題。鑒于BGA焊接的隱蔽性,造成失效對象品的風險較難預測,因此需要從源頭便開始科學有效地評價,這也利于后續(xù)的回流工藝標準化管理,進一步為產(chǎn)品的質(zhì)量保駕護航?;诖耍玛枡z測中心分享這篇技術(shù)文章,供各位討論學習。

BGA焊接評價提案背景

pYYBAGKm2P2ANAI9AAWx46nqR38328.png

焊點成型、焊接面積、焊點開裂以及焊接強度方面存在的問題可能會帶到批量階段,對量產(chǎn)的品質(zhì)穩(wěn)定性造成影響。

poYBAGKm2lqAcH6dAAB9r8XqKVA183.jpg

從上表對常規(guī)BGA的評價方法的分析可見,BGA焊接的關(guān)鍵要素僅集中于枕焊分析,缺乏焊點的整體可靠性確認,特別是焊接IMC層的分析缺失,對現(xiàn)行回流工藝參數(shù)的評價并沒有實際性的指導意義。

BGA工藝可靠性評價提案

pYYBAGKm2lqAFynjAABJ6Td9x_s684.jpg

通過全面的分析,可以準確地判斷是否有焊接質(zhì)量隱患,現(xiàn)行回流工藝是否是最優(yōu)狀態(tài)。

poYBAGKm2lqAD1Q0AADALvm_wGo437.jpgpoYBAGKm2lqAAFVBAADIfn-NlPo441.jpgpYYBAGKm2lqAbjXMAADi-DYY7rw699.jpg

BGA評價方法說明

1.BGA染色試驗

poYBAGKm2lqAK-cBAAEH0cIQdN0632.jpg

BGA染色試驗:

  • 可以直觀的分析焊球剝離后,斷面的狀態(tài);
  • 缺陷清晰呈現(xiàn),避免觀察失誤;
  • 有效焊接面積可檢測;

2.斷面金相分析

pYYBAGKm2lqAZkcMAACBCZUIOV0915.jpg

切片斷面分析:

  • 可以直觀的分析焊點的坍塌成型狀態(tài);
  • 缺陷清晰呈現(xiàn),并可做進一步的深入分析;
  • 焊點微小開裂可有效檢測;

3.IMC層分析(SEM)

poYBAGKm2lqABMTUAADEeywIsj4418.jpg

切片斷面分析:

通過SEM分析,可以確認焊接IMC層形成的狀態(tài)是否良好。由于IMC層的形成和回流溫度、時間有直接的關(guān)系,可以通過IMC層的狀態(tài)分析現(xiàn)行設(shè)定的回流溫度是否合適。

焊接的實質(zhì)是金屬之間形成合金層,因此合金層的質(zhì)量決定了焊點的質(zhì)量。IMC層需滿足的條件則有:①IMC層需連續(xù)、致密;②IMC層的厚度1.0μm-3.5μm。

4.IMC層分析(EDS)

pYYBAGKm2lqAFynjAABJ6Td9x_s684.jpgpYYBAGKm2luAP1b6AABaJ1WvhB8226.jpgpoYBAGKm2luAOAN9AABaa_jRR9o740.jpgpYYBAGKm2luAU8o3AAB8NzG52iU933.jpg

IMC層EDS分析:

通過合金層金屬成分分析,可以判斷合金金屬元素構(gòu)成比例,從而推算出合金結(jié)構(gòu),如上圖(Cu6Sn5(良性IMC)、 Cu3Sn(惡性IMC) ),進而判斷回流工藝的適合性。

總結(jié)

通過科學有效的分析,將BGA焊接存在的顯性問題與隱性問題呈現(xiàn)出來,并為BGA提供可靠的焊接工藝,保障其穩(wěn)定生產(chǎn)。

審核編輯:符乾江

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 元器件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    113

    文章

    4871

    瀏覽量

    97318
  • BGA封裝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4

    文章

    121

    瀏覽量

    18962
  • 失效分析
    +關(guān)注

    關(guān)注

    18

    文章

    239

    瀏覽量

    67415
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    GT-BGA-2000高速BGA測試插座

    芯片快速替換。產(chǎn)品特性易拆裝設(shè)計:GT-BGA-2000 使用了容易更換的旋轉(zhuǎn)插座蓋設(shè)計,這種設(shè)計使得用戶可以方便的安裝使用和拆卸 BGA 器件,提高了開發(fā)測試的效率。高可靠性:該產(chǎn)品通過嚴格的質(zhì)量
    發(fā)表于 08-01 09:10

    基于硅基異構(gòu)集成的BGA互連可靠性研究

    Grid Array, BGA)焊點的高度、球徑和節(jié)距較大,對組件層級互連結(jié)構(gòu)的可靠性風險認識不足,同時難以實現(xiàn)高密度BGA 失效預測。
    的頭像 發(fā)表于 07-18 11:56 ?1735次閱讀
    基于硅基異構(gòu)集成的<b class='flag-5'>BGA</b>互連<b class='flag-5'>可靠性</b>研究

    關(guān)于LED燈具的9種可靠性測試方案

    LED燈具的可靠性試驗,與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場,因此無法簡單地沿用傳統(tǒng)燈具的測試方法。那么,LED燈具需要進行哪些可靠性試驗呢?標準名稱:LED
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?508次閱讀
    關(guān)于LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b>測試<b class='flag-5'>方案</b>

    PCBA 工程師必看!BGA 焊接質(zhì)量如何決定整塊電路板的 “生死”?

    位于封裝底部,具備更高的連接密度和散熱性能,廣泛應用于高性能設(shè)備如智能手機、計算機和汽車電子。然而,BGA焊接質(zhì)量的好壞直接關(guān)系到PCBA板的功能表現(xiàn)和可靠性。 BGA
    的頭像 發(fā)表于 05-14 09:44 ?680次閱讀

    提供半導體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    、低成本的可靠性評估,成為工藝開發(fā)的關(guān)鍵工具,本文分述如下: 晶圓級可靠性(WLR)技術(shù)概述 晶圓級電遷移評價技術(shù) 自加熱恒溫電遷移試驗步驟詳述 晶圓級可靠性(WLR)技術(shù)概述
    發(fā)表于 05-07 20:34

    IGBT的應用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?1818次閱讀
    IGBT的應用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    BGA封裝焊球推力測試解析:評估焊點可靠性的原理與實操指南

    成為評估焊接質(zhì)量的重要手段。科準測控小編將詳細介紹BGA焊球推力測試的原理、標準、儀器及測試流程,幫助工程師和研究人員掌握科學的測試方法,確保產(chǎn)品的可靠性。 一、檢測原理 BGA焊球推
    的頭像 發(fā)表于 04-18 11:10 ?1094次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>封裝焊球推力測試解析:評估焊點<b class='flag-5'>可靠性</b>的原理與實操指南

    詳解晶圓級可靠性評價技術(shù)

    隨著半導體工藝復雜度提升,可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加加速應力,實現(xiàn)快速、低成本的可靠性評估,成為工藝開發(fā)的
    的頭像 發(fā)表于 03-26 09:50 ?1086次閱讀
    詳解晶圓級<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>評價</b>技術(shù)

    BGA焊盤設(shè)計與布線

    BGA(BallGridArray)封裝因其高密度引腳和優(yōu)異的電氣性能,廣泛應用于現(xiàn)代電子設(shè)備中。BGA焊盤設(shè)計與布線是PCB設(shè)計中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),直接影響焊接可靠性、信號完整
    的頭像 發(fā)表于 03-13 18:31 ?1332次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>焊盤設(shè)計與布線

    芯片可靠性測試:性能的關(guān)鍵

    在芯片行業(yè),可靠性測試是確保產(chǎn)品性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。金鑒實驗室作為專業(yè)的檢測機構(gòu),提供全面的芯片可靠性測試服務(wù),幫助企業(yè)在激烈的市場競爭中保持領(lǐng)先。預處理(Preconditioning,PC)預處理
    的頭像 發(fā)表于 03-04 11:50 ?878次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>測試:性能的關(guān)鍵

    半導體集成電路的可靠性評價

    半導體集成電路的可靠性評價是一個綜合的過程,涉及多個關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評價技術(shù)概述、
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?920次閱讀
    半導體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>評價</b>

    BGA芯片的焊接技術(shù)與流程

    隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,BGA芯片因其高集成度和高性能而廣泛應用于各種電子產(chǎn)品中。然而,BGA芯片的焊接技術(shù)要求較高,需要專業(yè)的知識和技能。 1. BGA芯片
    的頭像 發(fā)表于 11-23 11:43 ?2855次閱讀

    如何進行BGA封裝的焊接工藝

    隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,BGA封裝因其高集成度和高性能而廣泛應用于各種電子產(chǎn)品中。然而,BGA封裝的焊接工藝相對復雜,需要精確控制以確保焊接質(zhì)量和產(chǎn)品的
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:37 ?3393次閱讀

    機械應力和熱應力下的BGA焊點可靠性

    BGA(球柵陣列封裝)是一種常見的集成電路封裝技術(shù),它具有接觸面積大、信號傳輸效率高等優(yōu)點。然而,BGA焊點位于器件底部,不易檢測和維修,而且由于BGA功能高度集成,焊點容易受到機械應力和熱應力
    的頭像 發(fā)表于 11-06 08:55 ?1389次閱讀
    機械應力和熱應力下的<b class='flag-5'>BGA</b>焊點<b class='flag-5'>可靠性</b>

    無鉛焊接可靠性

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《無鉛焊接可靠性.pdf》資料免費下載
    發(fā)表于 10-16 10:50 ?5次下載