說(shuō)實(shí)話，只要說(shuō)要做一款軟件來(lái)做上位機(jī)，對(duì)于我們大部分工程師來(lái)說(shuō)都會(huì)覺(jué)得為難。當(dāng)然大家會(huì)說(shuō)我們有wincc，組態(tài)王等，如果客戶要求用相機(jī)，用控制卡呢？然后我們會(huì)說(shuō)找個(gè)軟件工程師來(lái)做就好了，要知道軟件不是每個(gè)自動(dòng)化公司都有的。

所以我一直都有想學(xué)習(xí)一下C++的想法，也確實(shí)看了一些視頻，但是隨著學(xué)習(xí)的深入發(fā)現(xiàn)要記的東西真的很多，而且一些復(fù)雜的函數(shù)看著就頭大。剛好最近跟一個(gè)軟件合作一個(gè)項(xiàng)目，軟件是用ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)做的。看到他在那改程序，程序的框架怎么看著和PLC 的功能塊語(yǔ)言那么相似，最重要的這個(gè)軟件所有的函數(shù)都是編輯成塊直接拖出來(lái)用就好了。然后就在網(wǎng)站上找了一些資料學(xué)習(xí)下，發(fā)現(xiàn)這個(gè)確實(shí)比C++好學(xué)多了，希望更多的工程師都來(lái)學(xué)習(xí)下這個(gè)，讓更多的設(shè)備都用ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)來(lái)做上位機(jī)，大家也都能升職加薪。

看到這里大家可能會(huì)說(shuō)，怎么聽(tīng)著和LabVIEW有點(diǎn)相似呢？是的，ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)可以說(shuō)是中國(guó)人自己的LabVIEW。它比LabVIEW更好學(xué)，最快只需要15分鐘便可搭建一整套自動(dòng)化測(cè)試方案，通本文本指令拖拽連接直接組建測(cè)試過(guò)程，僅需知道測(cè)試流程即可搭建完成。而LabVIEW對(duì)設(shè)計(jì)者需要有編程開(kāi)發(fā)能力，這里小白還是推薦ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)。

其他方面當(dāng)然也有很多優(yōu)于LabVIEW的地方，比如免費(fèi)的高級(jí)算子服務(wù)、可視化自定義測(cè)試報(bào)告、高效快捷的自定義測(cè)試報(bào)告修改功能、平臺(tái)自有的數(shù)據(jù)洞察功能可進(jìn)行多工位數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)匯總分析等都很是適合新手上手。

下面來(lái)給大家看看ATECLOUD的常見(jiàn)應(yīng)用有哪些，大家可以看看是否可以幫助到自己呢~

ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)可用于儀器程控、電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、多通道數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)、電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、LCR自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、其他根據(jù)用戶需求非標(biāo)定制的測(cè)試項(xiàng)目方面。

下面是ATECLOUD的一些實(shí)例，供大家參考：

◆基于ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)，軟件控制數(shù)字萬(wàn)用表實(shí)現(xiàn)電壓采集及卷積函數(shù)計(jì)算

根據(jù)用戶提供的卷積函數(shù)，可以計(jì)算出第N秒的卷積值去做信號(hào)分析。ATECLOUD平臺(tái)可對(duì)測(cè)試記錄進(jìn)行保存、可更改采集時(shí)長(zhǎng)等參數(shù)。

上傳卷積函數(shù)

◆軟件遠(yuǎn)程控制示波器，實(shí)現(xiàn)示波器數(shù)據(jù)采集分析

在很多電子工程師的工作中，需要遠(yuǎn)程控制示波器來(lái)進(jìn)行高速的數(shù)據(jù)采集分析。這個(gè)可以通過(guò)示波器軟件來(lái)進(jìn)行實(shí)現(xiàn)，您只需要打開(kāi)網(wǎng)站在ATECLOUD平臺(tái)上連接示波器設(shè)備，無(wú)論您是在教育實(shí)驗(yàn)室、設(shè)計(jì)室還是制造車(chē)間內(nèi)工作，都可遠(yuǎn)程控制示波器執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試。它可以讓您靈活選擇工作時(shí)間和工作地點(diǎn)，這樣，您不管身在哪里，都能共享使用設(shè)備開(kāi)展項(xiàng)目工作，最終節(jié)省預(yù)算。ATECLOUD平臺(tái)自帶的功能可以快速開(kāi)發(fā)自定義的自動(dòng)化測(cè)試，捕獲和記錄示波器的測(cè)量數(shù)據(jù)，并導(dǎo)出結(jié)果進(jìn)行離線分析。

◆LCR表測(cè)電容怎么實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)試？ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)幫您解決

基于ATECLOUD平臺(tái)，LCR表測(cè)試電容的容量和損耗，目前在使用是德科技E4980a LCR，可實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)試，可在儀器界面設(shè)置參數(shù)，軟件同步設(shè)置后抓取數(shù)據(jù)。

ATECLOUD學(xué)習(xí)體驗(yàn)地址：https://www.namisoft.com/Atecloud.html

審核編輯：湯梓紅