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關(guān)于漏測Bug你想知道多少

OSC開源社區(qū) ? 來源:OSC開源社區(qū) ? 作者:OSC開源社區(qū) ? 2022-12-02 09:42 ? 次閱讀
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一、背景

漏測Bug是指產(chǎn)品邏輯缺陷在測試過程中沒有被發(fā)現(xiàn)(尤其是測試環(huán)境可以重現(xiàn)的缺陷),上線版本發(fā)布后或者在用戶使用體驗(yàn)后發(fā)現(xiàn)并反饋回來的缺陷。可能造成線上故障或者資損,在對產(chǎn)品測試過程中,自己也難免出現(xiàn)一些Bug的漏測,因此對Bug漏測進(jìn)行一些思考,并進(jìn)行總結(jié)。

二、原因分析

Bug其實(shí)是任何應(yīng)用產(chǎn)品都會有的一個(gè)問題,不是所有的Bug都能被發(fā)現(xiàn),包括資深測試,或多或少的會出現(xiàn)線上缺陷,誰也不能把軟件所有的功能操作、運(yùn)用場景想周全。雖說不能做到完全零缺陷,但是每次發(fā)布的產(chǎn)品,我們需要追求缺陷越來越少,產(chǎn)品質(zhì)量越來越高,減少線上問題的反饋。 為什么會出現(xiàn)缺陷漏測,主要有以下幾點(diǎn):

2.1 需求評審階段,對業(yè)務(wù)需求細(xì)節(jié)理解不明確,設(shè)計(jì)存在不合理,未深入挖掘隱含拓展需求

問題分析

在實(shí)際產(chǎn)品研發(fā)過程中,產(chǎn)品需求其實(shí)處于一個(gè)細(xì)化、優(yōu)化、下鉆過程中,在需求PRD文檔交互文檔輸出進(jìn)行評審時(shí),未能把一些產(chǎn)品細(xì)節(jié)問題、隱含需求暴露出來,而測試用例的編寫是基于PRD、交互文檔以及自己對該需求經(jīng)驗(yàn)理解所涉及測試用例。

改進(jìn)措施

需求評審前,我們應(yīng)該先仔細(xì)閱讀PRD及交互文檔,先形成自己對產(chǎn)品的思考,通過腦圖的方式列出對產(chǎn)品設(shè)計(jì)的疑問點(diǎn),從用戶或者從行業(yè)角度找出產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷點(diǎn)。

需求評審會議中,帶著列出的疑問點(diǎn)向產(chǎn)品、開發(fā)溝通自己對產(chǎn)品的疑惑和質(zhì)疑點(diǎn),多提幾個(gè)為什么?如何實(shí)現(xiàn)?數(shù)據(jù)獲取來源?超出預(yù)期的數(shù)據(jù)怎么處理?緩存處理機(jī)制如何?數(shù)據(jù)保存何處?邏輯由前端處理還是后端服務(wù)?后端服務(wù)邏輯是否跟第三方關(guān)聯(lián)?

需求評審?fù)瓿珊螅凑找欢ǖ墓δ?,將需求拆分成若干大模塊,大模塊拆分成小功能點(diǎn),然后考慮功能點(diǎn)的具體實(shí)現(xiàn)流程,通過思維導(dǎo)圖細(xì)分模塊功能、從頁面、交互、邊界處理、接口邏輯、環(huán)境配置等維度進(jìn)行梳理需求,盡可能挖掘隱含可拓展需求點(diǎn),然后進(jìn)行一次測試組內(nèi)需求評審和技術(shù)復(fù)盤,讓協(xié)作成員一起補(bǔ)充隱含需求,使得產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷盡早且最大化地暴露出來。

在后期技術(shù)評審時(shí),探討邏輯交互以及上下游數(shù)據(jù)走向和消息發(fā)送流轉(zhuǎn),串聯(lián)技術(shù)側(cè)疑問點(diǎn)。

2.2 測試用例覆蓋不全面,場景出現(xiàn)遺漏

問題分析

在測試用例設(shè)計(jì)過程中,容易出現(xiàn)思維受限或者需求盲區(qū),我們不可能完全覆蓋用戶使用的所有場景,編寫測試用例的時(shí)不可能把所有的場景都能想周全,把所有的場景下的情況都寫成測試用例去模擬、去覆蓋這也是不太現(xiàn)實(shí)的。

改進(jìn)措施

用例設(shè)計(jì)開始之前,列思維導(dǎo)圖

通過思維導(dǎo)圖列出業(yè)務(wù)流程,前、后端接口邏輯。然后按照PRD和交互文檔,依照UI界面切分成大的功能塊,然后在大功能塊,然后在大功能塊再切成小功能塊,最后到功能點(diǎn),每個(gè)功能點(diǎn)通過UI、基本功能、邊界、內(nèi)存、數(shù)據(jù)、交互、接口邏輯等維度開展用例設(shè)計(jì)導(dǎo)圖,并列出需找產(chǎn)品、開發(fā)確認(rèn)的疑點(diǎn)。

用例設(shè)計(jì)完成后組織用例評審

a. 組織開發(fā)、產(chǎn)品進(jìn)行測試用例評審,并拋出用例設(shè)計(jì)時(shí)的疑問,通過產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)角度、數(shù)據(jù)存儲、用戶、產(chǎn)品體驗(yàn)角度對用例進(jìn)行評審?fù)晟蒲a(bǔ)充。

b. 組織測試組內(nèi)提前預(yù)審測試用例也是非常必須的,對于正式用例評審前會組內(nèi)進(jìn)行預(yù)審,在版本結(jié)束后組織全量用例集合入也會進(jìn)行串講用例,特別是一些經(jīng)驗(yàn)老道或者業(yè)務(wù)熟悉的老司機(jī)們,可以在用例評審上快速的幫忙指出用例的遺漏點(diǎn),有助于測試人員打開思路,盡可能多的覆蓋用戶場景,值得注意的是用例評審上遇到不確定的,應(yīng)立即記錄下來作為待辦項(xiàng),結(jié)束后及時(shí)找相關(guān)人員確認(rèn),避免猜測不確定。

總結(jié)用戶反饋、完善測試用例流程-下鉆測試用例構(gòu)建以有備無患

a. 產(chǎn)品測試發(fā)布上線后,對于用戶反饋的缺陷,如果缺陷是因?yàn)閳鼍霸O(shè)計(jì)不全引起的,我們先分析出現(xiàn)問題的場景是必現(xiàn)還是偶現(xiàn),如果是必現(xiàn),我們可以通過和技術(shù)同學(xué)溝通,確認(rèn)該場景的一些具體復(fù)現(xiàn)步驟,確認(rèn)引入原因,解決方案。

b. 對于線上如果出現(xiàn)缺陷需要對測試用例完善:除了補(bǔ)充該場景case外,考慮一些和該場景相關(guān)聯(lián)的場景,將多種場景下測試用例及時(shí)完善、評審,增加到用例庫中去。

c. 針對線上缺陷分析其具體原因做復(fù)盤總結(jié),關(guān)注線上問題反饋群,及時(shí)發(fā)現(xiàn)問題、定位問題、分析原因,判斷是否為老邏輯引入還是新功能引發(fā)問題,精準(zhǔn)化補(bǔ)充對應(yīng)的用例,針對特別場景補(bǔ)充接口自動化、防資損數(shù)據(jù)狗校驗(yàn)、全量用例集合BVT用例。

2.3 測試階段未嚴(yán)格按照測試用例執(zhí)行

問題分析

按照測試用例執(zhí)行測試,可以讓我們盡可能的不出現(xiàn)遺漏一些測試點(diǎn)。不能因?yàn)槟骋粋€(gè)人或者對某一塊業(yè)務(wù)熟悉簡化其測試用例,不嚴(yán)格按照測試用例來執(zhí)行測試,這樣出現(xiàn)了一些遺漏Bug實(shí)在是不應(yīng)該。

改進(jìn)措施

測試用例不一定能保證所有的場景和功能點(diǎn)都能覆蓋到,但是嚴(yán)格按照測試用例執(zhí)行測試,能最大程度上保證產(chǎn)品質(zhì)量,盡量避免出現(xiàn)缺陷。

養(yǎng)成測試紀(jì)錄習(xí)慣:對于測試阻塞用例、測試Fail用例,應(yīng)該重點(diǎn)關(guān)注并記錄,在回歸測試階段進(jìn)行精準(zhǔn)回歸測試,確保修復(fù)Bug導(dǎo)致關(guān)聯(lián)功能引入的新Bug也能被發(fā)現(xiàn)。

雖然測試流程很規(guī)范,但是軟件質(zhì)量還是不如意。

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2.4 測試環(huán)境、測試資源受限,導(dǎo)致缺陷漏測

問題分析

對于現(xiàn)階段得物的測試環(huán)境問題是及其復(fù)雜的,業(yè)務(wù)系統(tǒng)不是孤立存在的,關(guān)聯(lián)方環(huán)環(huán)相扣,而且關(guān)聯(lián)系統(tǒng)常常出現(xiàn)不穩(wěn)定的情況,另外涉及身份證、銀行卡等稀缺資源的使用有限,往往測試完一個(gè)有效數(shù)據(jù)廢棄一個(gè)有效數(shù)據(jù),所以我們可以盡可能通過mock、還原客戶的實(shí)際環(huán)境問題。

現(xiàn)實(shí)畢竟不是真實(shí)的環(huán)境,由于環(huán)境的差異,可能出現(xiàn)很多意想不到的問題,例如:配置問題、數(shù)據(jù)源問題、以及數(shù)據(jù)同步問題,這些都是可能只在特性的環(huán)境、特定的操作步驟下才會暴露出來,在我們的測試環(huán)境還原不出來,只能基于預(yù)發(fā)環(huán)境或者生產(chǎn)環(huán)境來驗(yàn)證問題,導(dǎo)致質(zhì)量可能出現(xiàn)風(fēng)險(xiǎn)隱患。

改進(jìn)措施

1)引入灰度發(fā)布測試

測試組在預(yù)發(fā)布環(huán)境上進(jìn)行回歸測試,能基本模擬真實(shí)環(huán)境執(zhí)行測試環(huán)境無法測試的用例,又不影響線上用戶的正常使用。

2)生產(chǎn)驗(yàn)證環(huán)節(jié)做好case篩選

首先進(jìn)行生產(chǎn)驗(yàn)證case梳理,生產(chǎn)驗(yàn)證case除了篩選p0+p1級別case進(jìn)行回歸外,還應(yīng)該包含測試環(huán)境mock or 擋板阻塞的測試case,以及后端接口對前端響應(yīng)的case,在生產(chǎn)回歸階段嚴(yán)格按照生產(chǎn)驗(yàn)證case執(zhí)行去覆蓋真實(shí)線上環(huán)境場景。

3)加強(qiáng)后端以及關(guān)聯(lián)方業(yè)務(wù)邏輯的了解

前端不僅需要了解前端與后端接口的交互業(yè)務(wù)邏輯,還需了解后端接口與其它關(guān)聯(lián)方的接口交互邏輯,校驗(yàn)判斷其給的接口數(shù)據(jù)是否正確,對測試環(huán)境測試用例的覆蓋程度有整體的把控度,以確保生產(chǎn)環(huán)境的測試用例覆蓋做到全面性。

2.5 開發(fā)人員引入的新Bug

問題分析

有一些開發(fā)人員只會針對你所提交的Bug中問題的描述步驟解決,并不會去排查該問題有可能涉及的所有點(diǎn),有可能出現(xiàn)解決了這個(gè)問題,而引入了一個(gè)新的問題。一個(gè)不熟悉功能模塊的開發(fā)人員來修復(fù)Bug,因?yàn)闃I(yè)務(wù)不熟悉,考慮不周全導(dǎo)致無意識的引入新的Bug。

改進(jìn)措施

1)代碼review

從代碼管理層面:開發(fā)修復(fù)一個(gè)Bug提交代碼自測通過準(zhǔn)備提測時(shí),開發(fā)團(tuán)隊(duì)提交代碼進(jìn)行代碼review,引入新Bug的可能性概率就會較小,降低風(fēng)險(xiǎn)存在。

2)精準(zhǔn)回歸測試

從測試自我修養(yǎng)層面:在開發(fā)提測后,了解代碼改動點(diǎn),精準(zhǔn)分析改動點(diǎn)對相關(guān)聯(lián)的功能點(diǎn)的影響,將開發(fā)人員修復(fù)的Bug確認(rèn)驗(yàn)證,并將相關(guān)聯(lián)的功能點(diǎn)盡可能的遍歷回歸測試到。

3)找開發(fā)聊聊開發(fā)是如何修復(fù)這個(gè)功能

跟開發(fā)聊實(shí)現(xiàn)很容易從開發(fā)的設(shè)計(jì)中你可以把握到測試的注意點(diǎn),并記錄體現(xiàn)在用例中。例如A開發(fā)曾經(jīng)用某種方式做了B功能,出現(xiàn)了某個(gè)Bug,現(xiàn)在B功能用了同樣方式實(shí)現(xiàn),那么極有可能之前的Bug還會出現(xiàn)在C功能。

4)覆蓋率的實(shí)踐和應(yīng)用

增加開發(fā)冒煙執(zhí)行代碼覆蓋率,根據(jù)覆蓋率數(shù)據(jù)分析有那些冒煙用例未覆蓋到,是方法未覆蓋到、還是類未覆蓋到或者是異常邏輯的校驗(yàn)未回歸到,用開發(fā)自測和覆蓋率的方式降低其新Bug的引入。

2.6 探索性測試環(huán)節(jié)欠缺

問題分析

我們發(fā)現(xiàn)的很多Bug都不是按測試用例執(zhí)行發(fā)現(xiàn)出來的,都是在測試過程中隨意測試發(fā)現(xiàn)的,而這些步驟在測試用例中并未體現(xiàn),我們的測試用例不可能覆蓋所有的場景。

改進(jìn)措施

1)準(zhǔn)入測試通過后進(jìn)行ET測試

在測試準(zhǔn)入測試完成進(jìn)入SIT測試階段:一般來說,ET測試是最容易發(fā)現(xiàn)Bug的,所以在測試準(zhǔn)入測試完成進(jìn)入SIT測試階段,先進(jìn)行一輪探索性測試,使的大部分的Bug先在測試前期暴露出來,讓Bug累計(jì)數(shù)量達(dá)到一定的峰值,盡早發(fā)現(xiàn)Bug,質(zhì)量越高。

2)UAT測試之前進(jìn)行組內(nèi)ET測試

SIT測試進(jìn)入尾聲,UAT測試之前組織一次組內(nèi)ET測試,讓組內(nèi)不同的測試用不同的測試方式,測試思維,測試經(jīng)驗(yàn),測試習(xí)慣進(jìn)行探索測試,能發(fā)現(xiàn)一些由于思維定勢局限原因?qū)е侣y的Bug、詭異的Bug或者使用不合理的地方。

3)精準(zhǔn)化測試

精準(zhǔn)測試的測試用例聚類分析功能,可以有效地發(fā)現(xiàn)“測試的錯(cuò)誤”。例如一個(gè)用例執(zhí)行步驟錯(cuò)誤,它的聚類結(jié)果必然會發(fā)生變化,管理者通過系統(tǒng)分析的結(jié)果就可以發(fā)現(xiàn)并糾正這一類的錯(cuò)誤,而之前可能需要在現(xiàn)場回歸反復(fù)的確認(rèn)。

精準(zhǔn)測試的核心技術(shù)要點(diǎn)是測試用例與代碼的追溯技術(shù)。這項(xiàng)技術(shù)簡單來說就是當(dāng)功能執(zhí)行完成以后對應(yīng)的整體代碼執(zhí)行情況就會立即產(chǎn)生,即當(dāng)點(diǎn)擊一個(gè)測試用例,就立即追蹤到對應(yīng)的代碼和模塊。

精準(zhǔn)測試測試漏洞分析功能,適用于敏捷測試。它可以基于程序靜態(tài)數(shù)據(jù)和動態(tài)運(yùn)行數(shù)據(jù),自動分析軟件缺陷最高風(fēng)險(xiǎn)的位置,引導(dǎo)首先對于高風(fēng)險(xiǎn)的模塊完成覆蓋,在有限時(shí)間內(nèi)完成最具有風(fēng)險(xiǎn)的模塊的覆蓋測試。

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三、對于開發(fā)角度側(cè)思考

3.1 自測背景

開發(fā)人員做好自測,非常必要,也是大趨勢。前期都是開發(fā)自測,后期才是用戶體驗(yàn)方面的測試。從成本和時(shí)間上分析,Bug越晚發(fā)現(xiàn)修復(fù)成本越高;從修改的效率來講,越早處理會越快。一個(gè)優(yōu)秀的開發(fā)者,自測的Bug一定會多于測試發(fā)現(xiàn)的Bug,也就是輪到測試的時(shí)候Bug數(shù)量相當(dāng)少。

3.2 疑難問題思考

時(shí)間和進(jìn)度太緊張,排期緊湊。

對自己代碼過于自信,自認(rèn)為有很強(qiáng)的健壯性,不忍心去修改。

認(rèn)為這是測試的責(zé)任,多度依賴測試。

不知如何有效的做好自測,覆蓋全面。

開發(fā)冒煙測試對于QA創(chuàng)建指定的用例理解不透徹,執(zhí)行簡約。

3.3 思維轉(zhuǎn)變

代碼質(zhì)量、項(xiàng)目質(zhì)量均是我們的責(zé)任。

測試和開發(fā)人員思考問題不同,開發(fā)是在制造軟件,測試是在破壞軟件,想辦法去找出問題。

任何功能都有正常場景和異常場景,多數(shù)使用等價(jià)類和邊界值去選擇數(shù)據(jù),覆蓋全面。

不要相信任何開發(fā)的代碼是無Bug。

走出具體實(shí)現(xiàn)時(shí)用的開發(fā)思維,站在需求和用戶的角度去自測是否通過,假如自己是用戶去測試你的功能。

3.4 不仔細(xì)認(rèn)真自測帶來的痛處和隱患

需求遺漏:一旦被用戶發(fā)現(xiàn)此問題,用戶印象會大打折扣,可能直接從開始使用即放棄使用,將帶來非常大的客戶流失。

功能事故:主流程功能沒有測試到位,或者異常場景沒有測試到位,導(dǎo)致線上頻繁報(bào)錯(cuò),體驗(yàn)極度不好,直接認(rèn)為就是事故。

需求延期上線:如果自測不充分,測試花大量的時(shí)間去溝通低等級bug,甚至主流程走不下去,這樣無疑會給開發(fā)帶來返工、重復(fù)測試、耗時(shí)、需求延期、項(xiàng)目延期等一系列問題。

3.5 制定自測報(bào)告規(guī)范

功能模塊介紹及背景介紹

功能、背景介紹

使用用戶群體介紹

環(huán)境信息

版本號

Hosts、代碼發(fā)布分支

預(yù)發(fā)or正式

功能設(shè)計(jì)文檔以及UI設(shè)計(jì)圖等

數(shù)據(jù)庫數(shù)據(jù)同步、環(huán)境配置、開關(guān)設(shè)定等

梳理好的自測點(diǎn)

編寫代碼時(shí)候記錄的業(yè)務(wù)點(diǎn)和測試點(diǎn)

需求變更的自測點(diǎn)

正向、逆向、異常場景測試點(diǎn)

兼容性

開發(fā)此功能是否會對其他功能造成影響,一行代碼是否會引發(fā)新的問題出現(xiàn)

自測實(shí)際結(jié)果:

高等級Bug數(shù)量、影響冒煙核心流程

中等級Bug數(shù)量、串聯(lián)流程鏈路

低等級Bug數(shù)量、頁面展示UI效果

開發(fā)冒煙自測階段覆蓋率

一輪、集成階段覆蓋率

期望結(jié)果:

符合測試SOP規(guī)定準(zhǔn)出標(biāo)準(zhǔn)

冒煙自測以及集成階段覆蓋率標(biāo)準(zhǔn)

測試階段Bug數(shù)量的控制

上線后Bug數(shù)量的控制,質(zhì)量月復(fù)盤滿足數(shù)量控制標(biāo)準(zhǔn)

四、總結(jié)

缺陷漏測發(fā)生后我們需要深入分析漏測的Bug,思考哪方面做的不夠,是業(yè)務(wù)邏輯理解誤差?用例評測遺漏?技術(shù)方案存在不合理?思考設(shè)計(jì)用例方向出現(xiàn)了偏差?多問一些幾個(gè)為什么,換位思考角度想問題,合理設(shè)計(jì)評測。確保類似的Bug能被預(yù)防提前發(fā)現(xiàn)暴露出來,從而盡可能的降低缺陷的產(chǎn)生,提高產(chǎn)品質(zhì)量。在每個(gè)不同階段做好用例測試計(jì)劃執(zhí)行,增加精細(xì)化測試以及探索性測試環(huán)節(jié),需要開拓新的測試思想思維,走出慣用常規(guī)的測試思想。同時(shí)也要站在開發(fā)側(cè)、編寫代碼設(shè)計(jì)的思維邏輯去考慮,降低可能在測試階段出現(xiàn)Bug漏測、遺漏的出現(xiàn),開發(fā)側(cè)也需嚴(yán)格執(zhí)行自測和覆蓋率SOP要求準(zhǔn)出。 *文/Viki

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    <b class='flag-5'>漏</b>感磁集成設(shè)計(jì),陽光電源的思路是什么?

    擴(kuò)展結(jié)構(gòu)概述

    擴(kuò)展結(jié)構(gòu)(Source/Drain Extension,SDE)在控制 MOS 器件的短溝道效應(yīng)中起到重要作用。SDE(源擴(kuò)展結(jié)構(gòu))引入了一個(gè)淺的源擴(kuò)展區(qū),以連接溝道和源區(qū)域
    的頭像 發(fā)表于 05-27 12:01 ?663次閱讀
    源<b class='flag-5'>漏</b>擴(kuò)展結(jié)構(gòu)概述

    想知道油箱在滿油,少油和缺油時(shí)電路的變化分析

    想知道油箱在滿油,少油和缺油時(shí)電路的變化分析
    發(fā)表于 04-09 23:01

    DLP2000可以用于AR顯示,想知道是否能用于光柵光波導(dǎo)類的AR眼鏡?

    DLP2000可以用于AR顯示,想知道是否能用于光柵光波導(dǎo)類的AR眼鏡?
    發(fā)表于 02-25 08:33

    26650 鋰電池:你想知道的都在這

    26650 鋰電池憑借其自身的優(yōu)勢,在眾多領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,相信它還會有更廣闊的應(yīng)用前景和更出色的表現(xiàn)。如果你對 26650 鋰電池還有其他疑問,歡迎在評論區(qū)留言交流。
    的頭像 發(fā)表于 02-05 17:57 ?2888次閱讀
    26650 鋰電池:<b class='flag-5'>你想知道</b>的都在這

    ADC128S102WGRQV想知道輸入阻抗具體有多大?

    ADC128S102WGRQV想知道輸入阻抗具體有多大?多少KOhms?要計(jì)算用,謝謝!我已經(jīng)看過7.3.3章節(jié)。
    發(fā)表于 12-06 08:33

    ESD二極管特點(diǎn)優(yōu)勢有哪些?

    關(guān)于品牌東沃電子(DOWOSEMI)ESD二極管特點(diǎn)和優(yōu)勢就分享到這兒,有客戶想知道東沃ESD 保護(hù)器件市場價(jià)格大概是多少。關(guān)于東沃ESD二極管價(jià)格,因具體型號、參數(shù)、封裝以及采購量的不同而有所差異。
    的頭像 發(fā)表于 11-11 17:09 ?887次閱讀
    ESD二極管特點(diǎn)優(yōu)勢有哪些?

    離子注入工藝的制造流程

    與亞微米工藝類似,源離子注入工藝是指形成器件的源有源區(qū)重?fù)诫s的工藝,降低器件有源區(qū)的串聯(lián)電阻,提高器件的速度。同時(shí)源離子注入也會形成n型和p型阱接觸的有源區(qū),或者n型和p型有源區(qū)電阻,以及n型和p型多晶硅電阻。
    的頭像 發(fā)表于 11-09 10:04 ?1610次閱讀
    源<b class='flag-5'>漏</b>離子注入工藝的制造流程

    大研智造廠家面對面 關(guān)于激光焊錫機(jī)、錫球焊設(shè)備高頻問題QA,你想知道的都在這!

    在這個(gè)問答系列中,我們將深入探討激光焊錫機(jī)的各個(gè)方面,從基礎(chǔ)概念到技術(shù)細(xì)節(jié),從設(shè)備構(gòu)成到市場應(yīng)用,再到未來的發(fā)展趨勢。無論您是電子制造行業(yè)的專業(yè)人士,還是對激光焊錫技術(shù)感興趣的學(xué)者,或是正在尋找合適焊接解決方案的企業(yè)家,這些問答都將為您提供寶貴的信息和深刻的見解。我們將一起揭開激光焊錫機(jī)的神秘面紗,探索它如何為現(xiàn)代制造業(yè)帶來革命性的變化。
    的頭像 發(fā)表于 10-31 11:28 ?708次閱讀
    大研智造廠家面對面 <b class='flag-5'>關(guān)于</b>激光焊錫機(jī)、錫球焊設(shè)備高頻問題QA,<b class='flag-5'>你想知道</b>的都在這!

    智能讀碼器Q&amp;amp;A | 常見疑問解答,你想知道的都在這!

    親愛的工程師們:歡迎來到明治傳感器的Q&A系列專欄。明治傳感器一直致力于為客戶提供高精度、高可靠性的傳感器解決方案。然而,在產(chǎn)品的具體使用過程中,難免會遇到一些疑問或問題。為了更好地服務(wù)大家,明治的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)始終保持著高度的責(zé)任心和敬業(yè)精神,第一時(shí)間對客戶的疑問進(jìn)行響應(yīng)和解決。通過長期的實(shí)踐和總結(jié),我們發(fā)現(xiàn)有一些疑問是客戶在使用我們的產(chǎn)品過程中比較常見的。
    的頭像 發(fā)表于 10-22 08:02 ?874次閱讀
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