《晶閘管可控硅SCR》這個標題看起來很像是關鍵詞堆砌，實際上晶閘管、可控硅、SCR指的是同一個器件。

晶閘管，也稱為可控硅整流器(Silicon Controlled Rectifier ，SCR)。晶閘管通常由三個電極組成：陽極A（正極端子）、陰極K（負極端子）和柵極。柵極是控制端子，主電流在陽極和陰極之間流動。

晶閘管是電流型控制半導體器件。晶閘管分為單向晶閘管和雙向晶閘管。單向可控硅 控制極G和陰極K之間的 電阻比較小 ，通過施加給控制極G和陰極K之間的正向脈沖觸發(fā)電流來控制陽極A和陰極K之間的導通(一般觸發(fā)電流小于等于150mA,觸發(fā)電壓2V-3V)。

可控硅的特點是 一觸即發(fā) ,在G和K之間加上電流后，A和K導通，即使去除 G和K之間的 電流 ，陽極A和陰極K 也會維持導通 ，如果要關斷A 和 K，就要減小 A、K 之間的電流至足夠小，使得該電流小于維持電流才行(維持電流一般約為250mA-500mA）。

實際應用中，常以雙晶閘管模塊的形態(tài)出現(xiàn)，如圖2所示SCR品牌為Semikron，型號為SKKT 106/16 E , 參數(shù)如下供參考：平均通態(tài)電流106A；最大柵極觸發(fā)電流150mA；面板安裝安裝；重復峰值反向電壓1600V；浪涌電流額定值2250A；最大柵極觸發(fā)電流150mA；最大柵極觸發(fā)電壓3V；最大保持電流250mA。

晶閘管SCR的檢測

晶閘管SCR常見失效現(xiàn)象是開路或 短路 。

常見的損壞原因如下：

1、因器件過熱或短路所致；

2、柵極驅動能力不足或過流也會導致?lián)p壞；

3、陽極A和陰極K之間過電壓；

晶閘管SCR檢測方法：

1、使用萬用表測量，柵極G和陰極K之間電阻 較小為正常 ，否則為異常；

2、使用萬用表測量，陽極A和陰極K之間電阻 很大為正常 ，較小為異常;

3、在工作狀態(tài)下測量：使用示波器測量，觀察電壓、電流波形；

4、可以使用指針表 x1Ω 檔在 G、K之間施加一個正向觸發(fā)電流，同時使用數(shù)字萬用表二極管檔，紅表筆接A，黑表筆接K，觀察導通情況；或者使用另一塊指針表x10kΩ擋，黑表筆接 A，紅表筆接 K，同時觀察觸發(fā)導通阻值情況。