如果使用傳統(tǒng)的示波器,一般使用疊加顯示波形功能。疊加顯示功能可以盡可能利用示波器的垂直分辨率,使測(cè)試波形占據(jù)整個(gè)屏幕,觀察波形的細(xì)節(jié)。然而,當(dāng)您需要同時(shí)觀察兩個(gè)或兩個(gè)以上的信號(hào)時(shí),多個(gè)波形將疊加在一起。一些工程師選擇縮小波形,分別占據(jù)顯示區(qū)域的一部分進(jìn)行觀測(cè),以便同時(shí)觀察而不相互干擾,這將導(dǎo)致整個(gè)示波器的垂直分辨率降低振幅分辨率。
假設(shè)同時(shí)觀察兩個(gè)信號(hào),波形縮小到理想信號(hào)的50%,則分辨率降低到50%左右,如果觀察四個(gè)信號(hào),則降低到全屏顯示的25%。
為了解決工程師的這個(gè)問(wèn)題,泰克示波器啟動(dòng)了分區(qū)顯示功能。使用此功能,您可以分割示波器屏幕的顯示區(qū)域,每個(gè)區(qū)域顯示一個(gè)通道的波形,以確保每個(gè)波形不會(huì)干擾,并且不會(huì)犧牲其垂直分辨率。
泰克示波器系列采用Tek049芯片,這是泰克最新開發(fā)的ASIC(專用集成電路)。它是一個(gè)高度集成的系統(tǒng)(SOC)混合信號(hào)ASIC,包含4億個(gè)晶體管和20億個(gè)連接,形成4個(gè)內(nèi)部ADCS(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)和集成DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)。
手動(dòng)光標(biāo)測(cè)試功能(多種光標(biāo)模式)
光標(biāo)測(cè)試功能是工程師常用的示波器功能。信號(hào)的時(shí)間差或振幅差可以快速手動(dòng)測(cè)試。大多數(shù)工程師將使用光標(biāo)測(cè)試的基本功能,但泰克示波器的高級(jí)光標(biāo)測(cè)試功能鮮為人知:
1.利用泰克示波器的光標(biāo)測(cè)試功能,可以測(cè)量波形、水平、垂直、水平和垂直,大大擴(kuò)大了光標(biāo)測(cè)試的應(yīng)用范圍。例如,選擇波形光標(biāo)測(cè)試可以測(cè)試光標(biāo)1和光標(biāo)2的水平和垂直參數(shù)以及兩個(gè)光標(biāo)參數(shù)的變化δ,并且可以設(shè)置光標(biāo)聯(lián)動(dòng),從而快速方便地比較其他周期波形和初始測(cè)試位置的參數(shù)。
2.如果選擇波形,可以設(shè)置兩個(gè)光源來(lái)測(cè)試不同波形之間的時(shí)間順序關(guān)系。如圖所示,可以很容易地測(cè)試通道1的**個(gè)上升邊緣和通道2的第三個(gè)上升邊緣之間的時(shí)間差。
3.如果選擇水平和垂直模式,可以在水平和垂直模式下指定不同的測(cè)試源,以便于測(cè)試兩種不同通道波形的水平和垂直關(guān)系。
審核編輯黃宇
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