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跌落測試試驗(yàn)條件能力介紹

上海季豐電子 ? 來源:季豐 ? 2023-03-27 14:47 ? 次閱讀
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季豐嘉善實(shí)驗(yàn)室包裝跌落試驗(yàn)機(jī) & 定向跌落測試機(jī)現(xiàn)已投入使用,歡迎有跌落測試需求的朋友們前來咨詢、委案!

01跌落測試

跌落測試主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。具體來說,是將未包裝/包裝的產(chǎn)品的一角,三邊,六面自由落體,角是任一角,三邊對應(yīng)最短邊,第二短邊,最長邊,六面的順序是最小面積第二小面,最大面積。

02跌落試驗(yàn)的目的

跌落試驗(yàn)的目的是確定產(chǎn)品在搬運(yùn),運(yùn)輸,存儲以及使用的過程期間抵抗投擲,受壓,跌落的適應(yīng)性能,其中包括卡通箱,產(chǎn)品的包裝方式是否完善和符合要求達(dá)到包裝保護(hù)產(chǎn)品的目的或者是確定安全要求用的最低牢固等級。

03跌落測試試驗(yàn)的條件

跌落測試試驗(yàn)條件:試驗(yàn)表面,釋放高度,釋放方法,確定3個(gè)參數(shù)后可利用試驗(yàn)儀器,對產(chǎn)品進(jìn)行的跌落測試。

04造成跌落失效的原因

跌落常造成的失效有外包裝炸裂、漆膜破損、金屬變形、塑料破裂、元器件脫焊等機(jī)械損傷,造成這些損傷的原因就是跌落沖擊有沖擊力大、作用時(shí)間短的特點(diǎn)。

05為什么要做包裝跌落實(shí)驗(yàn)

包裝從很高的高度跌落的概率非常小。

多數(shù)包裝從低高度處會摔落許多次,而相對較少的包裝在較高高度處會摔落多次。

與單包裝相比,組合包裝受到的跌落次數(shù)更少且高度更低。

多數(shù)包裝都是基于其更穩(wěn)定方向運(yùn)輸,面跌落占跌落總數(shù)的一半以上。

包裝越重,跌落高度越低。

包裝越大,跌落高度越低。

包裝帶提手可能降低跌落高度。

帶有提醒標(biāo)簽如易碎、小心輕放等可能會降低跌落次數(shù),但作用不是很明顯。

季豐包裝跌落設(shè)備能力如下:

adb484f4-cb28-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

定向跌落測試:

除了包裝我們還可以做成品定向跌落測試:真空吸盤治具,最大吸 附重量 2kg,滿足產(chǎn)品菱、角、面測試,備有 0°、 45°、90°三種固定模式,最大可跌落產(chǎn)品尺寸:W200xL210xD20mm,可滿足手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、電 子書、電子詞典、遙控器等跌落測試。

測試設(shè)備&能力:

addc58bc-cb28-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

治具示意圖(不僅限圖示,更多治具開發(fā)中):

ae20d988-cb28-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

樣品示意圖:

參考標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 6587-2012電子測量儀器通用規(guī)范5.9.4 & 5.10.1

GB/T2423.8-1995/IEC:1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

GB/T4857.5-1992/ISO2248:1985包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法

IEC60068-2-32電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

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原文標(biāo)題:跌落測試試驗(yàn)?zāi)芰榻B

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