chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

【可靠性試驗分享專欄】關于可靠性,應該了解的那些知識

新陽檢測中心 ? 來源:新陽檢測中心 ? 作者:新陽檢測中心 ? 2023-03-27 15:09 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

1.定義與概念

可靠性試驗是為了保證產品在規(guī)定的時間內,在規(guī)定的條件下,包括運輸、儲存、使用,完成規(guī)定功能的能力而進行的活動。

環(huán)境試驗是將產品暴露在自然或者人工的環(huán)境條件下,模擬產品在實際壞境條件下的性能,并進行評估分析該產品在此環(huán)境作用下,所受到的影響程度及可能發(fā)生失效的機理。

2.作用發(fā)生階段

可靠性試驗在以下各階段發(fā)揮的重要作用。

2.1 研發(fā)階段

對試樣進行環(huán)境分析,找出產品的原材料、結構、工藝、安全性、環(huán)境適應性等各方面存在的潛在故障。經過反復測試預先發(fā)現(xiàn)產品的前期故障,提高產品的可靠性指標。

2.2 產品定型階段

根據(jù)產品技術條件進行型式試驗和鑒定試驗,全面考核產品是否達到客戶的要求和可靠性指標。

2.3 量產階段

監(jiān)控產品在生產過程中的穩(wěn)定程度,通過驗收試驗和其他環(huán)境試驗,評估產品的工藝性能和工藝流程。

3.試驗目的總結

3.1 通過試驗,發(fā)現(xiàn)產品的潛在失效模式;

3.2 探求失效機理;

3.3 優(yōu)化產品設計,監(jiān)控產品工藝流程;

3.4 監(jiān)控工藝流程的更替對產品品質的改變;

3.5 評估產品的使用壽命。

4.檢測服務范圍

poYBAGQhQTaADojFAAB3oUXlEd0387.jpg

新陽檢測中心依托自身的專業(yè)能力,在可靠性測試領域沉淀出以“氣候環(huán)境試驗”“機械環(huán)境試驗”“包裝運輸試驗”以及“材料試驗”四個方面為主的環(huán)境可靠性試驗體系,囊括了“高低溫”“老化”“鹽霧”“振動”“跌落”等多項可靠性試驗。并且,提供可靠性試驗咨詢與方案設計。

pYYBAGQhQTiAKbGCAADmCmub-tU933.jpg

5.檢測標準及項目

5.1

GB/T 2423.1-2008

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A 低溫

5.2

GB/T 2423.22-2012

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

5.3

GB/T 2423.34-2012

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗

5.4

GB/T 2423.102-2008

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 試驗:溫度(低溫/高溫)低氣壓/振動(正弦)綜合

5.5

GB/T 2423.8-1995

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

5.6

GB/T 2423.17-2008

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧

5.7

GB/TT 2423.51-2000

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Ke :流動混合氣體腐蝕試驗

5.8

GB/T 16422.3-2014

塑料 實驗室光源暴露試驗方法 第3部份:熒光紫外燈

5.9

GB/T 28046.4 : 2011

道路車輛電工電子設備環(huán)境條件 氣候負載

5.10

GB/T 28046.3 : 2011

道路車輛電工電子設備環(huán)境條件 機械負載

pYYBAGQhQTqAKHzGAAAGWt94gig834.jpg

新陽檢測中心有話說:

本篇文章介紹了可靠性相關知識,接下來將帶來“可靠性知識百問百答系列”,敬請關注!如需轉載本篇文章,后臺私信獲取授權即可。若未經授權轉載,我們將依法維護法定權利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

新陽檢測中心將繼續(xù)分享關于PCB/PCBA、汽車電子及相關電子元器件失效分析、可靠性評價、真?zhèn)舞b別等方面的專業(yè)知識,點擊關注獲取更多知識分享與資訊信息。

審核編輯黃宇

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 檢測
    +關注

    關注

    5

    文章

    4643

    瀏覽量

    92863
  • 可靠性
    +關注

    關注

    4

    文章

    270

    瀏覽量

    27158
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    元器件可靠性領域中的 FIB 技術

    元器件可靠性領域中的FIB技術在當今的科技時代,元器件的可靠性至關重要。當前,國內外元器件級可靠性質量保證技術涵蓋了眾多方面,包括元器件補充篩選試驗、破壞
    的頭像 發(fā)表于 06-30 14:51 ?158次閱讀
    元器件<b class='flag-5'>可靠性</b>領域中的 FIB 技術

    關于LED燈具的9種可靠性測試方案

    LED燈具的可靠性試驗,與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場,因此無法簡單地沿用傳統(tǒng)燈具的測試方法。那么,LED燈具需要進行哪些可靠性試驗呢?標
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?228次閱讀
    <b class='flag-5'>關于</b>LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b>測試方案

    可靠性測試包括哪些測試和設備?

    在當今競爭激烈的市場環(huán)境中,產品質量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無論是電子產品、汽車零部件,還是智能家居設備,都需要經過嚴格的可靠性測試,以確保在各種復雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運行,為用戶提供可靠的使用體驗。那么,
    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?348次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>測試包括哪些測試和設備?

    提供半導體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    、低成本的可靠性評估,成為工藝開發(fā)的關鍵工具,本文分述如下: 晶圓級可靠性(WLR)技術概述 晶圓級電遷移評價技術 自加熱恒溫電遷移試驗步驟詳述 晶圓級可靠性(WLR)技術概述
    發(fā)表于 05-07 20:34

    電機微機控制系統(tǒng)可靠性分析

    長期可靠地工作,這一問題牽涉到許多有關系統(tǒng)抗干擾設計、故障自診斷、自恢復等有關可靠性知識和技術。本文著重介紹與可靠性有關的一些概念和電機微機控制系統(tǒng)中常見放障的分析,并指出提高系統(tǒng)
    發(fā)表于 04-29 16:14

    IGBT的應用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問題包括并聯(lián)均流、軟關斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?1039次閱讀
    IGBT的應用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    保障汽車安全:PCBA可靠性提升的關鍵要素

    和穩(wěn)定性。因此,如何提升汽車電子PCBA的可靠性,成為行業(yè)內關注的焦點。本文將分享一些關于汽車電子PCBA可靠性提升的經驗和要點。 首先,設計階段的可靠性考慮至關重要。合理的布局、布線
    的頭像 發(fā)表于 04-14 17:45 ?264次閱讀

    集成電路可靠性試驗項目匯總

    在現(xiàn)代電子產品的研發(fā)與生產過程中,可靠性測試是確保產品質量和性能的關鍵環(huán)節(jié)。可靠性測試可靠性(Reliability)是衡量產品耐久力的重要指標,它反映了產品在規(guī)定條件下和規(guī)定時間內完成規(guī)定功能
    的頭像 發(fā)表于 03-07 15:34 ?518次閱讀
    集成電路<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>試驗</b>項目匯總

    半導體集成電路的可靠性評價

    半導體集成電路的可靠性評價是一個綜合的過程,涉及多個關鍵技術和層面,本文分述如下:可靠性評價技術概述、可靠性評價的技術特點、可靠性評價的測
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?544次閱讀
    半導體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評價

    一文讀懂芯片可靠性試驗項目

    可靠性試驗的定義與重要可靠性試驗是一種系統(tǒng)化的測試流程,通過模擬芯片在實際應用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài),對芯片的性能、穩(wěn)定性和壽
    的頭像 發(fā)表于 02-21 14:50 ?734次閱讀
    一文讀懂芯片<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>試驗</b>項目

    詳解電子產品的可靠性試驗

    可靠性試驗是一種通過模擬產品在實際使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應力因素,來評估電子產品在出廠到使用壽命結束期間質量情況的科學方法。它能夠在短時間內正確評估產品的可靠性,主要目的是激發(fā)潛在失效
    的頭像 發(fā)表于 02-20 12:01 ?587次閱讀
    詳解電子產品的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>試驗</b>

    可靠性溫度循環(huán)試驗至少需要幾個循環(huán)?

    暴露于預設的高低溫交替的試驗環(huán)境中所進行的可靠性試驗。熱循環(huán)試驗適用于揭示評估由剪切應力所引起的“蠕變-應力釋放”疲勞失效機理和可靠性,在焊
    的頭像 發(fā)表于 01-23 15:26 ?571次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>溫度循環(huán)<b class='flag-5'>試驗</b>至少需要幾個循環(huán)?

    季豐RA新添可靠性試驗設備恒溫恒濕箱

    隨著國內半導體科技的不斷進步,各領域AI芯片產品的可靠性和耐用成為了市場競爭的關鍵因素之一。針對非密封芯片在潮濕環(huán)境中的可靠性評估試驗,
    的頭像 發(fā)表于 12-18 14:18 ?474次閱讀

    無鉛焊接的可靠性

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《無鉛焊接的可靠性.pdf》資料免費下載
    發(fā)表于 10-16 10:50 ?5次下載

    PCB高可靠性化要求與發(fā)展——PCB高可靠性的影響因素(上)

    在電子工業(yè)的快速發(fā)展中,印刷電路板(PCB)的可靠性始終是設計和制造的核心考量。隨著集成電路(IC)的集成度不斷提升,PCB不僅需要實現(xiàn)更高的組裝密度,還要應對高頻信號傳輸?shù)奶魬?zhàn)。這些趨勢對PCB
    的頭像 發(fā)表于 10-11 11:20 ?1327次閱讀
    PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>化要求與發(fā)展——PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>的影響因素(上)