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虹科案例:自動(dòng)化故障插入測(cè)試-分動(dòng)箱

虹科測(cè)試測(cè)量 ? 2022-01-07 14:57 ? 次閱讀
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科產(chǎn)品支持ECU測(cè)試自動(dòng)化故障插入過(guò)程,幫助汽車制造商在更短的時(shí)間內(nèi)運(yùn)行更多的測(cè)試用例。如今,測(cè)試發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元 (ECU),尤其是與安全相關(guān)的模型,與軟件測(cè)試和硬件測(cè)試同樣重要——這是因?yàn)?ECU 需要更多的智能來(lái)控制制動(dòng)、防止翻車并確保將電源應(yīng)用于在折衷的駕駛模式下使用正確的車輪。Magna Powertrain、Delphi和 Continental等汽車制造商對(duì)其產(chǎn)品的安全運(yùn)行測(cè)試也有同樣的擔(dān)憂。

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在本文中,我們將重點(diǎn)介紹汽車分動(dòng)箱。分動(dòng)箱是一種機(jī)械/電子設(shè)備,可監(jiān)控車輪打滑情況并確保向未打滑的車輪供電。

作為設(shè)計(jì)過(guò)程的一部分,制造商運(yùn)行一系列測(cè)試,以確??刂破浞謩?dòng)箱的軟件以可預(yù)測(cè)和安全的方式對(duì)系統(tǒng)故障(例如開路、短路和交叉/串聯(lián)電阻連接)做出反應(yīng)。最終,這會(huì)提高客戶滿意度并降低保修成本。在一個(gè)例子中,制造商開發(fā)了一種測(cè)試夾具,允許他們手動(dòng)注入故障。雖然這個(gè)裝置很有效,但必須手動(dòng)切換故障非常耗時(shí)——這限制了它們可以在特定單元上運(yùn)行的測(cè)試用例的數(shù)量。此外,手動(dòng)夾具通常需要更頻繁的維護(hù),從而進(jìn)一步減慢測(cè)試時(shí)間。最后,它也容易出現(xiàn)操作員錯(cuò)誤,這會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。所以虹科推出了許多產(chǎn)品解決方案。這些產(chǎn)品包括用于硬件在環(huán) (HIL) 仿真應(yīng)用和可編程電阻器的故障插入單元 (FIU) 開關(guān)解決方案。FIU 開關(guān)模塊可用于將電氣故障引入系統(tǒng),該系統(tǒng)通常會(huì)復(fù)制由于腐蝕、短路/開路和其他電氣故障而可能發(fā)生的各種情況,這些情況會(huì)隨著年齡、損壞甚至安裝錯(cuò)誤而發(fā)生。使用虹科故障插入模塊來(lái)自動(dòng)化故障注入過(guò)程,它們可以在更短的時(shí)間內(nèi)運(yùn)行更多的測(cè)試用例,結(jié)果是他們的測(cè)試更具可重復(fù)性、全面性,它們可以在開發(fā)周期的早期發(fā)現(xiàn)和修復(fù)問(wèn)題。1a2dbc50-6e2c-11ec-86cf-dac502259ad0.gif?查找故障分動(dòng)箱用于將動(dòng)力從車輛變速器分配到前軸和后軸。一個(gè)例子是雙速主動(dòng)分動(dòng)箱或 ATC。ATC 功能包括多片濕式離合器、機(jī)電換檔驅(qū)動(dòng)和鏈條驅(qū)動(dòng)前輸出。該系統(tǒng)保證了前后輪之間的動(dòng)態(tài)扭矩分配,并且可以進(jìn)行調(diào)整,以在各種地形和惡劣天氣下提供所需的車輛性能特性。作為 TCCM(分動(dòng)箱控制機(jī)構(gòu))的一部分,分動(dòng)箱電子控制單元 (ECU) 控制分動(dòng)箱的操作。它連接到分動(dòng)箱中的傳感器和執(zhí)行器,以及與車輛控制器局域網(wǎng) (CAN) 的接口。當(dāng)駕駛員換檔時(shí),分動(dòng)箱 ECU 接收命令,然后確定它是否可以執(zhí)行此換檔。成功執(zhí)行換檔后,分動(dòng)箱 ECU 將此報(bào)告給網(wǎng)絡(luò)。在操作中,可能會(huì)發(fā)生許多不同的故障。例如,考慮將分動(dòng)箱中的執(zhí)行器和傳感器連接到控制模塊的八芯電纜。這些連接可能會(huì)開路或與相鄰導(dǎo)體短路,此外,隨著汽車?yán)匣?,高電阻連接和高電阻短路可能會(huì)發(fā)展,這些可能導(dǎo)致分動(dòng)箱在現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)故障。為確保分動(dòng)箱在故障條件下安全運(yùn)行,分動(dòng)箱制造商在他們的控制實(shí)驗(yàn)室中模擬這些故障。硬件在環(huán)測(cè)試已成為一種非常流行的測(cè)試電子控制單元的方法,例如當(dāng)今汽車中使用的分動(dòng)箱 ECU。HIL 模擬器可以提供車輛的所有輸入和輸出,而無(wú)需實(shí)際構(gòu)建原型車輛。它為 ECU 制造商節(jié)省了大量資金,不僅因?yàn)樗麄儾槐刂圃煸蛙?,還因?yàn)樗麄兛梢栽趯?shí)驗(yàn)室而不是在測(cè)試軌道或測(cè)功機(jī)上進(jìn)行詳盡的測(cè)試。他們甚至可以測(cè)試分動(dòng)箱 ECU,而無(wú)需實(shí)際了解分動(dòng)箱的機(jī)械結(jié)構(gòu)。在此模式下,HIL 測(cè)試系統(tǒng)除了模擬車輛的其余部分外,還模擬分動(dòng)箱。為了測(cè)試分動(dòng)箱 ECU 軟件,設(shè)計(jì)人員開發(fā)了許多不同的操作場(chǎng)景。這些包括車輛啟動(dòng)、關(guān)閉和駕駛場(chǎng)景,旨在讓分動(dòng)箱控制模塊完成其步伐。例如,在一種情況下,分動(dòng)箱被命令到其所需位置。其他場(chǎng)景運(yùn)用各種其他產(chǎn)品特性(各種換檔場(chǎng)景、冷啟動(dòng)曲線、電壓曲線等)。當(dāng)有問(wèn)題的制造商首次開始進(jìn)行此類測(cè)試時(shí),他們構(gòu)建了一個(gè)測(cè)試夾具,如下圖所示,稱為分線盒,用于手動(dòng)插入故障。接線盒插入分動(dòng)箱與其控制模塊之間,技術(shù)人員將手動(dòng)切換故障進(jìn)出。如前所述,這限制了它們?cè)谌魏谓o定時(shí)間范圍內(nèi)可以運(yùn)行的測(cè)試用例的數(shù)量,需要更頻繁的維護(hù),更慢的測(cè)試時(shí)間,并且還容易出現(xiàn)操作員錯(cuò)誤,這可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。雖然這種方法是一種有效的入門方法,但很明顯還有很大的改進(jìn)空間。1a86b3e6-6e2c-11ec-86cf-dac502259ad0.png?可以說(shuō),手動(dòng)插入故障最大的問(wèn)題是運(yùn)行一系列測(cè)試需要很長(zhǎng)時(shí)間。使用分線盒,運(yùn)行一個(gè)測(cè)試用例最多需要8分鐘。由于他們運(yùn)行了數(shù)千個(gè)測(cè)試用例,從一開始就很明顯他們必須找到一種方法來(lái)減少測(cè)試時(shí)間。以這種方式手動(dòng)插入故障的另一個(gè)缺點(diǎn)是它們只能插入短路和開路。為了更徹底地測(cè)試分動(dòng)箱 ECU,他們還需要能夠插入電阻故障以及硬開路和短路。以這種方式手動(dòng)插入故障的第三個(gè)問(wèn)題是接線盒是硬接線的,因此不是很靈活。為了測(cè)試不同的分動(dòng)箱ECU或不同的產(chǎn)品配置,測(cè)試工程部門必須建造一個(gè)新的分線盒或重新連接現(xiàn)有的分線盒。這樣做既費(fèi)錢又費(fèi)時(shí)。在評(píng)估了多家供應(yīng)商的開關(guān)系統(tǒng)后,該客戶認(rèn)為虹科代理的Pickering Interfaces 產(chǎn)品是一個(gè)很有前途的解決方案。他們購(gòu)買了一個(gè)裝有多個(gè) PXI 總線模塊(我們的 PXI 30A 故障插入開關(guān)模塊,(型號(hào) 40-191),如圖二所示)的 19 插槽 PXI 機(jī)箱,以模擬短路和開路。該模塊為高電流故障插入提供了強(qiáng)大的解決方案。它使用固態(tài)開關(guān)元件,能夠在單通道上承載 40A 或在所有通道上同時(shí)承載 30A。它旨在在測(cè)試夾具和被測(cè)設(shè)備之間插入三種不同的故障條件,包括開路、UUT 連接之間的短路以及對(duì)外部信號(hào)的短路。每個(gè)通道上的固態(tài)繼電器使測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)?/span> UUT 的信號(hào)設(shè)置為開路。故障插入總線允許將任何通道與任何其他通道短路,還可以將任何通道連接到外部信號(hào)(例如電源、點(diǎn)火或接地)以模擬故障條件。該模塊配有兩條故障總線。由于故障并不總是完全開路或硬短路,我們的可編程電阻器模塊(型號(hào) 40-295),如圖三所示,用于模擬高阻故障。該模塊提供多達(dá) 18 個(gè) 8 位分辨率的完全隔離可變電阻器或 10 個(gè) 16 位分辨率的完全隔離可變電阻器。每個(gè)通道的電阻可以設(shè)置在 0 歐姆和 16 MΩ 之間。1ac7eaf0-6e2c-11ec-86cf-dac502259ad0.png

圖二:PXI30A故障插入開關(guān)模塊,型號(hào)40-191

1b936b26-6e2c-11ec-86cf-dac502259ad0.png 圖三:PXI可編程電阻器模塊,型號(hào)40-295圖四顯示了切換系統(tǒng)如何連接 HIL 模擬器、被測(cè)試的分動(dòng)箱 ECU 和分動(dòng)箱(如果實(shí)際分動(dòng)箱需要作為測(cè)試的一部分)。1c60556e-6e2c-11ec-86cf-dac502259ad0.png?切換系統(tǒng)用于注入所有潛在故障。例如,要注入開關(guān)故障,他們只需打開線路。為了短接兩條線路,他們將兩條線路中的每一條連接到故障插入模塊,并將兩個(gè)信號(hào)連接到模塊的故障總線之一。為了模擬對(duì)電源或接地的短路,他們將信號(hào)線連接到故障總線之一,然后將該總線連接到接地或外部電壓。為了將電阻故障注入分動(dòng)箱和分動(dòng)箱 ECU 之間運(yùn)行的信號(hào)線之一,控制計(jì)算機(jī)將命令開關(guān)系統(tǒng)接通 40-295 可編程電阻器模塊上的可變電阻器之一。接下來(lái),他們以謹(jǐn)慎的步驟改變電阻:0Ω、5Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1,000Ω,依此類推,直到達(dá)到 1 MΩ,或者直到線路的反應(yīng)就像開路一樣。一旦插入故障,他們就會(huì)運(yùn)行一個(gè)或多個(gè)駕駛場(chǎng)景并收集測(cè)試數(shù)據(jù)。他們收集的最重要的數(shù)據(jù)之一是系統(tǒng)正在繪制的電流。異常高的電流肯定是出現(xiàn)問(wèn)題的跡象。不過(guò),他們也會(huì)查看許多其他參數(shù)。這些包括由分動(dòng)箱 ECU 和整個(gè)系統(tǒng)行為產(chǎn)生的 CAN 信號(hào)和電信號(hào)。通過(guò)自動(dòng)化故障插入,運(yùn)行單個(gè)測(cè)試用例所需的時(shí)間從平均 8 分鐘減少到大約 4 分鐘——當(dāng)您考慮到典型的測(cè)試運(yùn)行可能包括 20,000 個(gè)測(cè)試用例并且需要更多時(shí)間時(shí),這是一個(gè)巨大的節(jié)省一個(gè)多月才能完全運(yùn)行。它還允許制造商減少運(yùn)行完整測(cè)試所需的時(shí)間。通過(guò)手動(dòng)插入,技術(shù)人員或測(cè)試工程師必須在場(chǎng)才能切換故障進(jìn)出。然而,現(xiàn)在只有在進(jìn)行有風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試時(shí)才需要工作人員在場(chǎng),因?yàn)榇蠖鄶?shù)測(cè)試都是在不需要監(jiān)督的情況下進(jìn)行的。有趣的是,節(jié)省的時(shí)間不一定用于縮短測(cè)試運(yùn)行時(shí)間,而是用于在相同的時(shí)間內(nèi)運(yùn)行更多的測(cè)試用例,例如包含電阻故障的測(cè)試用例。使用測(cè)試時(shí)間來(lái)提高測(cè)試有效性表明公司對(duì)軟件質(zhì)量和可靠性的重視。1a2dbc50-6e2c-11ec-86cf-dac502259ad0.gif

分析測(cè)試結(jié)果可以想象,這些測(cè)試會(huì)生成大量的測(cè)試數(shù)據(jù),分析這些數(shù)據(jù)是一項(xiàng)艱巨的任務(wù)。他們首先要尋找的是測(cè)試是否對(duì) UUT 造成了任何損壞。沒(méi)有故障會(huì)損壞分動(dòng)箱 ECU 的分動(dòng)箱,因此任何表明該單元已損壞的跡象都會(huì)發(fā)出危險(xiǎn)信號(hào)。如果沒(méi)有一個(gè)測(cè)試用例造成任何損壞,他們就會(huì)開始分析其余的測(cè)試數(shù)據(jù)。在這一點(diǎn)上特別感興趣的是 CAN 信號(hào)和整體系統(tǒng)行為。他們正在尋找的是能夠表明分動(dòng)箱中電機(jī)意外移動(dòng)的數(shù)據(jù)。他們還可能會(huì)檢查分動(dòng)箱 ECU 是否生成了適當(dāng)?shù)脑\斷代碼。分析測(cè)試數(shù)據(jù)是一項(xiàng)團(tuán)隊(duì)工作——團(tuán)隊(duì)不僅包括測(cè)試工程師,還包括設(shè)計(jì)分動(dòng)箱的機(jī)械工程師、電子工程師和軟件開發(fā)人員。通過(guò)團(tuán)隊(duì)合作,他們不僅能夠快速找到關(guān)注的領(lǐng)域,而且能夠更快地完成修復(fù)。1a2dbc50-6e2c-11ec-86cf-dac502259ad0.gif

未來(lái)是自動(dòng)化的雖然客戶的工程團(tuán)隊(duì)對(duì)虹科產(chǎn)品的開關(guān)系統(tǒng)使他們能夠自動(dòng)化測(cè)試的方式非常滿意,但他們意識(shí)到這僅僅是個(gè)開始。例如,他們沒(méi)有為每個(gè)分動(dòng)箱構(gòu)建單獨(dú)的測(cè)試裝置,而是為他們的分動(dòng)箱開發(fā)“通用”測(cè)試系統(tǒng)。使用計(jì)算機(jī)控制的切換系統(tǒng),他們覺(jué)得他們可以做到這一點(diǎn)。制造商必須跨越的另一個(gè)障礙是弄清楚如何減少分析測(cè)試數(shù)據(jù)所需的時(shí)間。自動(dòng)故障插入使他們能夠運(yùn)行更多的測(cè)試,但也增加了他們必須花在分析測(cè)試數(shù)據(jù)上的時(shí)間。在這種情況下,正在努力自動(dòng)分析測(cè)試數(shù)據(jù)。開發(fā)一種能夠自動(dòng)標(biāo)記可能表明存在問(wèn)題的測(cè)試數(shù)據(jù)的工具將為他們節(jié)省大量時(shí)間。在我們客戶的案例中,他們的工程師認(rèn)為他們可以通過(guò)識(shí)別真正測(cè)試相同事物的測(cè)試用例并將它們從測(cè)試程序中刪除來(lái)做到這一點(diǎn)。還應(yīng)該注意的是,在產(chǎn)品測(cè)試策略中經(jīng)常使用在 NPI 中開發(fā)的測(cè)試用例的一個(gè)子集。與 NPI 測(cè)量相比,這種策略提供了一致的測(cè)試結(jié)果,并加快了生產(chǎn)測(cè)試的開發(fā)。虹科產(chǎn)品幫助 Engineering 引入“智能自動(dòng)化”,以在動(dòng)態(tài)車輛條件下測(cè)試其他故障模式(串聯(lián)電阻故障、交叉短路和交叉電阻短路),從而提高產(chǎn)品質(zhì)量。
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    的頭像 發(fā)表于 09-02 10:13 ?659次閱讀
    <b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b>動(dòng)態(tài) | 2025年8月精彩回顧

    新聞 | 再獲行業(yè)認(rèn)可!IO-Link模塊榮獲維科杯·OFweek 2025工業(yè)自動(dòng)化「優(yōu)秀產(chǎn)品獎(jiǎng)」

    近日,在備受業(yè)界矚目的「維科杯·OFweek2025中國(guó)工業(yè)自動(dòng)化與數(shù)字行業(yè)年度評(píng)選」中,IO-LinkOEM嵌入式開發(fā)模塊憑借技術(shù)創(chuàng)新與應(yīng)用價(jià)值,榮獲「優(yōu)秀產(chǎn)品獎(jiǎng)」。頒獎(jiǎng)理由
    的頭像 發(fā)表于 08-05 17:32 ?1006次閱讀
    <b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b>新聞 | 再獲行業(yè)認(rèn)可!<b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b>IO-Link模塊榮獲維科杯·OFweek 2025工業(yè)<b class='flag-5'>自動(dòng)化</b>「優(yōu)秀產(chǎn)品獎(jiǎng)」

    自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)ATECLOUD推出AI算法功能

    作為納米軟件自主研發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),ATECLOUD 始終致力于為用戶提供高效優(yōu)質(zhì)的測(cè)試解決方案。面對(duì)5G、AI等前沿技術(shù)的迭代發(fā)展,平臺(tái)深度融合新技術(shù)持續(xù)升級(jí)測(cè)試能力,最新推出的A
    的頭像 發(fā)表于 07-22 16:10 ?481次閱讀
    <b class='flag-5'>自動(dòng)化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>平臺(tái)ATECLOUD推出AI算法功能

    矢量信號(hào)發(fā)生器在工業(yè)自動(dòng)化測(cè)試中的應(yīng)用場(chǎng)景

    隨著工業(yè)自動(dòng)化技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)測(cè)試設(shè)備的要求也日益提高。矢量信號(hào)發(fā)生器作為一種先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備,憑借其強(qiáng)大的信號(hào)調(diào)制能力和廣泛的頻率覆蓋范圍,在工業(yè)自動(dòng)化
    的頭像 發(fā)表于 03-26 14:10 ?726次閱讀

    PCI Express Gen5自動(dòng)化多通道測(cè)試方案

    對(duì)高速鏈路(如PCI Express)的全面表征需要對(duì)被測(cè)鏈路的發(fā)送端(Tx)和接收端(Rx)進(jìn)行多差通道的測(cè)量。由于需要在不同通道之間進(jìn)行同軸連接的物理切換,這對(duì)于完全自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境來(lái)說(shuō)是一個(gè)
    的頭像 發(fā)表于 01-16 10:21 ?1479次閱讀
    PCI Express Gen5<b class='flag-5'>自動(dòng)化</b>多通道<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方案

    通用自動(dòng)化測(cè)試軟件 - TAE

    INTEWORK-TAE(Test Automation Executor) 是一款通用的測(cè)試用例自動(dòng)化執(zhí)行框架,用于汽車電子自動(dòng)化測(cè)試,可支持仿真( MIL/SIL/HIL)、
    的頭像 發(fā)表于 01-02 13:42 ?1286次閱讀
    通用<b class='flag-5'>自動(dòng)化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>軟件 - TAE

    串口屏自動(dòng)化測(cè)試

    嚴(yán)謹(jǐn)而高效的自動(dòng)化測(cè)試方案顯得尤為重要。以下是對(duì)串口屏自動(dòng)化測(cè)試策略的深度解析,旨在通過(guò)高質(zhì)量的測(cè)試設(shè)計(jì),嚴(yán)格控制產(chǎn)品設(shè)計(jì)質(zhì)量,推動(dòng)產(chǎn)業(yè)升級(jí)
    的頭像 發(fā)表于 12-27 17:17 ?1744次閱讀