chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

機床垂直度測量方法

中圖儀器 ? 2022-11-16 10:40 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

垂直度的測量是直線度測量在二維方向上的延伸。垂直度測量由正交軸的兩組直線度測量組成,詳見下面垂直度測量光路原理構件圖,其中直線度反射鏡作為共同的參考基準,在測量過程中保持原位,且不進行調(diào)整;光學角尺用于至少在其中一次直線度測量中,允許調(diào)整激光束與軸的準直。垂直度誤差=光學直角尺誤差-斜度θ1-斜度θ2。

激光干涉儀可以實現(xiàn)機床線性、角度、直線度、垂直度、平面度等幾何量的檢測。

poYBAGN0Qw6AdMaoAAG_PqV8IDg008.png

如機器軸垂直度誤差測量(數(shù)控機床、坐標測量機等),SJ6000激光干涉儀垂直度測量是通過比較直線度值從而確定兩個標稱正交坐標軸的非直角度,即在同一基準上對兩個標稱正交軸分別進行直線度的測量。然后對兩個軸的直線度進行比較,得出兩個軸的垂直度。共同的參考基準通常指的是兩次測量時反射鏡的光學準直軸,在兩次測量過程中既不移動、也不調(diào)整,光學直角尺測量中,允許調(diào)整激光束與直線度的準直,而不動直線度反射鏡。

典型情況下對于1.5米長的機器軸,像使用激光干涉儀這樣的光學方法是好選擇,因為傳統(tǒng)的實物基準,如直角尺(金屬或大理石等)的長度一般局限于1米的范圍內(nèi)。

SJ6000激光干涉儀應用范圍廣:
①可以實現(xiàn)線性、角度、直線度、垂直度、平面度等幾何量的檢測;
②結合軟件系統(tǒng),可以用于速度,加速度,振動分析以及穩(wěn)定度等分析;
③可實時監(jiān)控精密加工機床等機器的動態(tài)數(shù)據(jù),進行動態(tài)特性分析。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 測量
    +關注

    關注

    10

    文章

    5428

    瀏覽量

    115523
  • 機床
    +關注

    關注

    1

    文章

    648

    瀏覽量

    31888
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    快問快答:您的產(chǎn)品,到底適合哪種氣密性測量方法?

    當您的產(chǎn)品需要防水防塵,氣密性測量就成了質(zhì)量控制的關鍵環(huán)節(jié)。但面對市面上的多種測量方法,如何選擇最適合的技術方案?答案不在于哪種方法最先進,而在于哪種方法最匹配您的實際需求。Ⅰ.選擇框
    的頭像 發(fā)表于 09-02 09:04 ?370次閱讀
    快問快答:您的產(chǎn)品,到底適合哪種氣密性<b class='flag-5'>測量方法</b>?

    碳化硅襯底 TTV 厚度測量方法的優(yōu)劣勢對比評測

    測量方法提供參考依據(jù)。 引言 在第三代半導體材料領域,碳化硅(SiC)襯底憑借出色的性能,成為高功率、高頻電子器件制造的關鍵基礎材料。晶圓總厚度變化(TTV)作為
    的頭像 發(fā)表于 08-09 11:16 ?705次閱讀
    碳化硅襯底 TTV 厚度<b class='flag-5'>測量方法</b>的優(yōu)劣勢對比評測

    改善光刻圖形垂直方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

    深入探討白光干涉儀在光刻圖形測量中的應用。 改善光刻圖形垂直方法 優(yōu)化光刻膠性能 光刻膠的特性直接影響圖形垂直
    的頭像 發(fā)表于 06-30 09:59 ?339次閱讀
    改善光刻圖形<b class='flag-5'>垂直</b><b class='flag-5'>度</b>的<b class='flag-5'>方法</b>及白光干涉儀在光刻圖形的<b class='flag-5'>測量</b>

    一文解析射頻信號功率測量方法

    在無線通信中,功率測量是一個關鍵環(huán)節(jié)。無論是日常使用的手機信號,還是復雜的雷達系統(tǒng),都需要精確測量信號的功率。功率過大可能干擾其他設備,過小又會影響通信質(zhì)量。本文將介紹幾種常見的射頻信號功率測量方法,幫助大家理解如何準確
    的頭像 發(fā)表于 06-26 10:14 ?1450次閱讀
    一文解析射頻信號功率<b class='flag-5'>測量方法</b>

    噪聲的測量方法詳細干貨

    隨著近幾年電路集成規(guī)模和信號頻率的日益提高以及對低功耗的追求,導致信號環(huán)境日趨復雜,相對應測量小信號的精度要求不斷提高,測量儀器的噪聲大小成為重要的參數(shù)指標。而噪聲是幅值很低的信號,觀測需要有效的方法,本期介紹噪聲的
    的頭像 發(fā)表于 06-19 09:19 ?746次閱讀
    噪聲的<b class='flag-5'>測量方法</b>詳細干貨

    電源效率測量方法

    本課程講義用于將向大家介紹測量開關電源 轉換效率的兩種不同方法。 第一種方法使用一個瓦特表和兩個萬用表; 第二種方法介紹在沒有瓦特表的情況下如何進行
    發(fā)表于 05-12 16:13

    普源示波器時間精度測量方法詳解

    普源示波器作為電子測試領域的重要工具,能夠準確捕捉和分析電路中的電壓和電流波形,其時間精度測量在電子電路設計和故障診斷中扮演著至關重要的角色。本文將詳細介紹普源示波器時間精度的測量方法,包括測量
    的頭像 發(fā)表于 04-03 18:02 ?804次閱讀
    普源示波器時間精度<b class='flag-5'>測量方法</b>詳解

    四種不同類型電機電容測量方法,其精度適合更多專業(yè)應用

    在電機的運行和維護中,電容的測量是一個至關重要的環(huán)節(jié)。電容不僅影響電機的啟動性能,還直接關系到電機的工作效率和壽命。本文將介紹幾種常用的電機電容測量方法,幫助您更好地進行電機維護。
    的頭像 發(fā)表于 03-14 16:41 ?1946次閱讀
    四種不同類型電機電容<b class='flag-5'>測量方法</b>,其精度適合更多專業(yè)應用

    順絡貼片電感的感值測量方法與注意事項

    順絡貼片電感作為電子元件中的關鍵部件,其感值的準確測量對于電路的穩(wěn)定性和性能至關重要。以下將介紹幾種常用的測量方法以及測量時需要注意的事項。 一、測量方法 1、LCR表
    的頭像 發(fā)表于 02-18 14:41 ?1034次閱讀
    順絡貼片電感的感值<b class='flag-5'>測量方法</b>與注意事項

    惠斯通電橋的電阻測量方法

    惠斯通電橋是一種能準確方便地測量直流電阻的儀器,其電阻測量方法主要基于電橋平衡的原理。以下是惠斯通電橋測量電阻的詳細步驟: 一、準備階段 選擇合適的儀器 :確保自組電橋電路板、檢流計、電阻箱(如
    的頭像 發(fā)表于 02-13 15:11 ?2646次閱讀

    全長直線和米直線如何測量

    (或其垂面)的傾斜角,通過數(shù)據(jù)處理求出直線誤差值。這種方法適用于大、中型零件垂直截面內(nèi)的直線誤差測量。 二、米直線
    發(fā)表于 01-16 14:19

    常見的三維測量方法和工具

    三維測量是用于獲取物體三維幾何信息的技術,它在工業(yè)制造、建筑、考古、醫(yī)學等領域有著廣泛的應用。以下是一些常見的三維測量方法和工具的概述,以及它們的特點和應用場景: 激光掃描技術(Laser
    的頭像 發(fā)表于 12-30 15:02 ?1718次閱讀

    透鏡成像實驗與測量方法

    透鏡成像實驗與測量方法是光學實驗中非常重要的內(nèi)容,以下是對這一主題的介紹: 一、透鏡成像實驗 實驗目的 探究凸透鏡成像的規(guī)律。 理解凸透鏡成像原理及成像特點。 實驗器材 光具座:用于支撐和固定實驗
    的頭像 發(fā)表于 12-25 16:57 ?1568次閱讀

    硅拋光片的主要技術指標、測試標準及硅片加工參數(shù)的測量方法

    本文主要討論硅拋光片的主要技術指標、測試標準以及硅片主要機械加工參數(shù)的測量方法。 硅片機械加工參數(shù) 硅拋光片的主要技術指標和測試標準可以參照SEMI標準、ASTM標準以及其他相關標準。 1.1 硅片
    的頭像 發(fā)表于 12-07 09:39 ?1979次閱讀
    硅拋光片的主要技術指標、測試標準及硅片加工參數(shù)的<b class='flag-5'>測量方法</b>

    符合GBT 5700-2023 照明測量方法的設備介紹

    符合GBT 5700-2023標準中對測試設備的要求以及照明測量方法的設備(照度計、亮度計)介紹,德國GMC-I高美測儀旗下的子品牌GOSSEN的光學測試設備推薦:光測量系統(tǒng)MAVOMASTER系列
    的頭像 發(fā)表于 11-13 11:07 ?1282次閱讀
    符合GBT 5700-2023 照明<b class='flag-5'>測量方法</b>的設備介紹