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【直播精彩回顧】虹科基本元件可靠性測(cè)試方案——為智能制造提供元件級(jí)穩(wěn)定保障

虹科測(cè)試測(cè)量 ? 2023-06-09 09:56 ? 次閱讀
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01

來(lái)料檢驗(yàn)入門(mén)

公司在采購(gòu)物料到貨之后會(huì)有一個(gè)檢驗(yàn)的過(guò)程,需要驗(yàn)證產(chǎn)品符不符合當(dāng)初采購(gòu)的要求,產(chǎn)品數(shù)量是否準(zhǔn)確,產(chǎn)品參數(shù)等各方面是否合格的,然后才會(huì)錄入系統(tǒng)、交付需求部門(mén)。保證來(lái)料合規(guī)主要有以下幾個(gè)目的:(1)確保物料的技術(shù)參數(shù)、規(guī)格、良品率各方面符合采購(gòu)合同上的規(guī)定;(2)及早發(fā)現(xiàn)缺陷問(wèn)題,便于明確界定責(zé)任,快速溯源問(wèn)題點(diǎn),減少排查時(shí)間;(3)避免不良品進(jìn)入生產(chǎn)線(xiàn),造成生產(chǎn)浪費(fèi),此外亦減少退貨和維修成本;(4)提高產(chǎn)品一致性,減少故障概率,從而提高客戶(hù)對(duì)產(chǎn)品的信任度。

因此,當(dāng)企業(yè)要自己來(lái)規(guī)?;厣a(chǎn)設(shè)備,尤其是當(dāng)設(shè)備涉及精密、高速或者高頻信號(hào)時(shí),對(duì)基本元器件是有必要做來(lái)料檢驗(yàn)的,因?yàn)樵谶@種設(shè)備中,往往關(guān)鍵的RC元件位置會(huì)較多,對(duì)性能劣化的容忍度也較低,使用不良元器件很容易導(dǎo)致產(chǎn)品最終無(wú)法達(dá)到設(shè)計(jì)指標(biāo)。

來(lái)料檢測(cè)的分類(lèi)可以按照檢驗(yàn)范圍和檢驗(yàn)內(nèi)容分為以下幾類(lèi):


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02

可靠性測(cè)試方案設(shè)計(jì)

可靠性測(cè)試基本流程和思路可以分為以下幾步,首先測(cè)定初始參數(shù),如電阻值、電容值、電感值等,看下他們和標(biāo)稱(chēng)的誤差。在這一步,我們其實(shí)就已經(jīng)針對(duì)關(guān)鍵功能做了檢驗(yàn)。然后進(jìn)行極限條件測(cè)試,看元件在標(biāo)稱(chēng)的極限條件下是否能正常工作。第三步,我們需要來(lái)加速這些元器件的壽命消耗,通過(guò)極限條件、長(zhǎng)時(shí)間工作來(lái)加速他壽命的損耗,提前把他的質(zhì)量缺陷暴露出來(lái),最后再次測(cè)定參數(shù),通過(guò)故障率來(lái)評(píng)估這批元件的質(zhì)量。除了基本的參數(shù)測(cè)定,測(cè)試最核心的部分就是如何去加速元器件的壽命損耗,常規(guī)的方法包括施加持續(xù)或者快速變化的高低溫環(huán)境以及滿(mǎn)負(fù)荷條件的持續(xù)工作。

可靠性測(cè)試所需設(shè)備和工具一般分為如下幾類(lèi),首先是用于老化元器件的溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱和程控電源,以及測(cè)定參數(shù)需要用到的儀器,如高精度的電阻表和高阻儀、LCR測(cè)試儀等。效率輔助工具方面,可以選擇樣品載板、開(kāi)關(guān)矩陣和多路復(fù)用等。


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在測(cè)試方案設(shè)計(jì)中,我們還需要考慮測(cè)試對(duì)象本身的特性,負(fù)載應(yīng)該加電壓還是電流,加多少?老化環(huán)境條件,溫濕度設(shè)多少,以及是否需要?jiǎng)討B(tài)變化?老化時(shí)間,持續(xù)多長(zhǎng)時(shí)間,一輪還是多輪?抽樣范圍,每批每種參數(shù)的元件抽多少?一般來(lái)說(shuō),這些都是需要多次的測(cè)試結(jié)果,綜合我們期望的產(chǎn)品可靠性,并且結(jié)合常用合作方物料的實(shí)際情況來(lái)決定,或者后期根據(jù)積累的經(jīng)驗(yàn)慢慢修改優(yōu)化的。

03

可靠性測(cè)試系統(tǒng)

目前業(yè)內(nèi)傳統(tǒng)型的企業(yè)在可靠性測(cè)試方面,采用的是一種效率相對(duì)低下的笨方法,通過(guò)手動(dòng)接線(xiàn)進(jìn)行測(cè)試,只能指定小的抽取樣本數(shù)。這種方法的缺點(diǎn)是,一方面手動(dòng)連接、讀數(shù)可能會(huì)出現(xiàn)人為失誤,引起測(cè)量結(jié)果失真,另一方面,采樣數(shù)少了,樣本有時(shí)候就無(wú)法準(zhǔn)確描述元件批次整體的真實(shí)情況。測(cè)試流程也是比較簡(jiǎn)單的環(huán)節(jié)循環(huán),比如先高溫烤20個(gè)小時(shí),拿出來(lái)測(cè)一測(cè)參數(shù),測(cè)完一輪之后又繼續(xù)烤20小時(shí),循環(huán)這個(gè)流程。有時(shí)候?yàn)榱耸r(shí)省事,直接高溫烤100個(gè)小時(shí)再進(jìn)行測(cè)量。這種測(cè)試流程無(wú)法監(jiān)測(cè)到環(huán)節(jié)中的精確信息,如元件是從多少個(gè)小時(shí)開(kāi)始劣化的。而往往這些信息,對(duì)評(píng)估產(chǎn)品的壽命是會(huì)有很大的幫助的。

一部分企業(yè)在可靠性測(cè)試時(shí)還需要依賴(lài)第三方實(shí)驗(yàn)室,甚至直接要供應(yīng)方自己做一個(gè)自查報(bào)告。但不管是供應(yīng)方還是第三方出的報(bào)告,真實(shí)性都是存在疑問(wèn)的。在運(yùn)輸或者存放元件的過(guò)程中,由于環(huán)境不達(dá)標(biāo)而產(chǎn)生的自然老化,對(duì)于元件的品質(zhì)會(huì)有一定程度下降,也會(huì)導(dǎo)致之前的監(jiān)測(cè)報(bào)告失效。此外,依賴(lài)第三方進(jìn)行檢測(cè),不僅會(huì)增加時(shí)間成本,同時(shí)也受限于第三方提供的檢測(cè)項(xiàng)目。

對(duì)前文提到的這些行業(yè)測(cè)試常見(jiàn)的缺點(diǎn),虹科推出了多功能自動(dòng)化解決方案,包括了一系列針對(duì)不同細(xì)分需求的測(cè)試系統(tǒng)套件,如大型機(jī)柜式的這種大規(guī)模測(cè)試系統(tǒng),針對(duì)高校、實(shí)驗(yàn)室的交鑰匙一站式系統(tǒng)方案,也有靈活的可模塊化擴(kuò)容,一套就能同時(shí)支持電阻、電感、電容的可靠性測(cè)試方案。除了硬件,虹科解決方案也包括了可選的定制軟件開(kāi)發(fā)服務(wù)。

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虹科基本元件可靠性測(cè)試方案的自動(dòng)化體現(xiàn)在哪里呢?

(1)全流程程控,可無(wú)人值守

在放入待測(cè)元件之后,即可通過(guò)程序設(shè)置好整個(gè)可靠性測(cè)試的步驟,包括待測(cè)件上電時(shí)間,預(yù)通電和滿(mǎn)負(fù)載分別是多少電流電壓,開(kāi)啟、調(diào)整或者關(guān)閉溫濕度箱時(shí)間,以及在測(cè)試過(guò)程中,用內(nèi)置的多路復(fù)用去逐通道測(cè)量的時(shí)間等等。配置好測(cè)試條件后即可一鍵啟動(dòng)讓系統(tǒng)自動(dòng)跑這套流程。

(2)自動(dòng)報(bào)警和切斷保護(hù),閾值可調(diào)

測(cè)試中途如果有元器件失效了,系統(tǒng)會(huì)根據(jù)設(shè)置好的電流電壓閾值自動(dòng)檢測(cè)這個(gè)失效,然后斷開(kāi)對(duì)應(yīng)測(cè)試通道和測(cè)試電源的連接,避免影響其它元件的繼續(xù)測(cè)試。

(3)全過(guò)程隨時(shí)測(cè)量,實(shí)時(shí)反饋

在元件失效在完成自動(dòng)切斷保護(hù)之余,系統(tǒng)也提供自動(dòng)報(bào)警功能。報(bào)警有多種形式,包括了現(xiàn)場(chǎng)級(jí)的小屏幕和指示燈以及遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)反饋,這樣既能滿(mǎn)足實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程監(jiān)控和調(diào)整,也允許現(xiàn)場(chǎng)巡邏人員點(diǎn)檢時(shí),就近獲取測(cè)試信息。

(4)開(kāi)放API,可集成至企業(yè)系統(tǒng)

系統(tǒng)提供二次開(kāi)發(fā)的程序接口允許客戶(hù)自己來(lái)寫(xiě)整個(gè)系統(tǒng)的控制程序,從而實(shí)現(xiàn)從用戶(hù)的角度保證程序的安全可控。

(5)接受規(guī)模擴(kuò)展、功能定制

虹科自主研發(fā)的基本元件老化測(cè)試系統(tǒng)提供一定程度上的規(guī)模擴(kuò)展,以及功能上的調(diào)整和定制,如有任何需求,歡迎聯(lián)系虹科。

虹科最新一代基本元件老化測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵參數(shù)如下。

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以上是虹科基本元件可靠性測(cè)試方案的課程回顧,如果您對(duì)虹科方案感興趣或有更多定制需求,歡迎聯(lián)系虹科!

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