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技術(shù)迭代，驅(qū)動挑戰(zhàn)

用芯智測，啟智未來

立足根本，測試為先

TIF 2023是一個融合性、持續(xù)性的全方位共創(chuàng)交流平臺。

我們邀請半導體，汽車行業(yè)的領導者與泰克公司的測試專家匯聚一堂，共同見證新形態(tài)和新生態(tài)下，如何從測試維度及大數(shù)據(jù)來加速新技術(shù)的迭代！

論壇時間：2023年6月29-30日

+

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2023泰克創(chuàng)新論壇

今日分論壇日程安排

會議日程

9:00

-

9:20

開幕致辭

Chris Bohn

Tektronix全球總裁

9:20

-

9:50

主題演講：經(jīng)歷分享|火星與未知生命領域的探索

Jordan P. Evans

NASA航天工程師

9:50

-

10:20

主題演講：探究AI終身學習、超圖靈計算和設備端計算

Hava Siegelmann

馬薩諸塞大學計算機科學系教授

10:20

-

10:50

主題演講：自動駕駛未來誰將掌舵？

Chris Gerdes

斯坦福大學機械工程學 名譽教授 & 斯坦福汽車研究中心（CARS）聯(lián)合主任

10:50

-

11:20

800V電驅(qū)SiC測試挑戰(zhàn)

黃正峰

Tektronix資深業(yè)務拓展經(jīng)理

11:20

-

11:50

電動車直流快充的前景展望

Nathan Yang / Denis Solomon

FLO EV首席產(chǎn)品官 / Tektronix汽車市場領導者

11:50

-

13:30

午間休閑時刻：參觀泰克古董博物館

13:30

-

14:00

智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應用測試方案

劉劍

Tektronix資深技術(shù)經(jīng)理

14:00

-

14:30

電池直流內(nèi)阻：源表測試三步法

Liz Makley

Tektronix應用工程師

14:45

-

15:45

無刷直流電機的全新測試技術(shù)分享

Srikrishna N.H

Tektronix功率解決方案首席工程師

15:45

-

15:50

反饋與抽獎

2023泰克創(chuàng)新論壇

論壇內(nèi)容摘要

汽車高速總線及三電系統(tǒng)測試

800V電驅(qū)SiC測試挑戰(zhàn)

新能源汽車800V新架構(gòu)發(fā)展趨勢下，SiC已經(jīng)成為必需選擇的新型功率器件，泰克帶您從測試的角度來看寬禁帶技術(shù)帶來的諸多挑戰(zhàn)，例如：

? 如何篩選不同廠家的SiC器件及必要性

? 如何解決目前寬禁帶器件應用測試和驅(qū)動測試的難題

? 如何能充分發(fā)揮SiC器件的性能等

（注：本議題為6月29日線下峰會課程回顧）

電動車直流快充的前景展望

隨著電動車越來越成為主流，行業(yè)必須建立一個便捷可靠的電動車充電網(wǎng)絡，以確保電動車的普及。本次會議將與一位EVSE（電動車充電設備）原始設備制造商/充電服務提供商進行討論，探討直流快速充電（DCFC）的最新進展，最令人興奮的技術(shù)以及對未來出行方式的影響。

智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應用測試方案

智能網(wǎng)聯(lián)汽車的核心是新一代電子電氣架構(gòu)，在新的架構(gòu)下高速總線的應用越來越廣泛，如何準確的測試和評估這些高速總線也變得愈發(fā)有挑戰(zhàn)。在此章節(jié)，您不僅可以了解到泰克針對以下車載高速總線應用的對應解決方案，還可以了解到泰克在實際場景中的一些應用案例分享：

?車載以太網(wǎng)1000BASE-T1測試方案

?MIPI D-PHY及C-PHY傳感接口測試方案

?PCIe Gen4/5外設接口及車內(nèi)SERDES測試方案等

此外，泰克還可提供各類高速接口的測試建議和白皮書以及豐富的調(diào)試工具，幫助工程師加速了解掌握各類高速接口測試、應對復雜車載環(huán)境、建立自主測試和驗證能力，助力新一代電子電氣平臺在智能網(wǎng)聯(lián)汽車的不斷升級。

（注：本議題為6月29日線下峰會課程回顧）

電池直流內(nèi)阻：源表測試三步法

隨著全球?qū)﹄姵仉娦镜男枨蟛粩嘣黾?，確保每個電池電芯的質(zhì)量對制造商至關(guān)重要。在生產(chǎn)過程中進行了許多電氣測試，其中最有用的測試之一是對電池的內(nèi)阻或阻抗進行表征。在本次講座中，我們將討論電池阻抗對性能的影響以及測量電池阻抗的不同方法。然后，我們將展示如何使用Keithley 24xx圖形系列觸摸屏SMUs上的新DCIR TSP應用程序，僅用三個步驟中設進行直流內(nèi)阻測量。

無刷直流電機的全新測試技術(shù)分享

傳統(tǒng)上，電機設計師使用定制的嵌入式控制軟件和具有用于場定向控制（FOC）的FPGA的硬件來測量直-象-零（dq0）變量。本次演講介紹了一種替代方法，避免了通常需要的復雜和昂貴的操作，例如訪問控制器板上的探測點，使用機械傳感器來計算扭矩和速度值，并獲取機械功率和系統(tǒng)/總體效率。

我們提出了一種有效的方法來測量傳感器和無傳感器系統(tǒng)的dq0分量和驅(qū)動矢量。您將看到如何結(jié)合克拉克和帕克變換與控制器電路行為相關(guān)聯(lián)。因此，電機設計師能夠通過使用D和Q分量來可視化給定電氣輸入時產(chǎn)生的最佳扭矩，并獲得電機效率的指示。使用示波器的游標功能，dq0可以以采樣率為基準看作一個旋轉(zhuǎn)坐標系。對于無傳感器系統(tǒng)，使用反電勢法和（濾波的）電信號精確計算偏移角度。dqo信號用于優(yōu)化控制器算法。相量圖同時顯示定子和轉(zhuǎn)子矢量。結(jié)果是一種簡化了電機設計師和驗證工程師操作復雜度和成本的測量方法。

dq0直接與系統(tǒng)（電機-機械）效率相關(guān)，因此需要計算電氣和機械功率。本演講涵蓋了DQ0和機械功率值的測量。

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欲知更多產(chǎn)品和應用詳情，您還可以通過如下方式聯(lián)系我們：

郵箱：china.mktg@tektronix.com

網(wǎng)址：www.tek.com.cn

電話：400-820-5835(周一至周五900)

將您的靈感變?yōu)楝F(xiàn)實

我們提供專業(yè)的測量洞見信息，旨在幫助您提高績效以及將各種可能性轉(zhuǎn)化為現(xiàn)實。
泰克設計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案，從而突破復雜性的層層壁壘，加快您的全局創(chuàng)新步伐。我們攜手共進，一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準確地創(chuàng)造和實現(xiàn)技術(shù)進步。

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