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技術(shù)迭代，驅(qū)動(dòng)挑戰(zhàn)

用芯智測，啟智未來

立足根本，測試為先

TIF 2023是一個(gè)融合性、持續(xù)性的全方位共創(chuàng)交流平臺。

我們邀請半導(dǎo)體，汽車行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者與泰克公司的測試專家匯聚一堂，共同見證新形態(tài)和新生態(tài)下，如何從測試維度及大數(shù)據(jù)來加速新技術(shù)的迭代！

論壇時(shí)間：2023年6月29-30日

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2023泰克創(chuàng)新論壇

今日分論壇日程安排

會(huì)議日程

9:00

-

9:20

開幕致辭

Chris Bohn

Tektronix全球總裁

9:20

-

9:50

主題演講：經(jīng)歷分享|火星與未知生命領(lǐng)域的探索

Jordan P. Evans

NASA航天工程師

9:50

-

10:20

主題演講：探究AI終身學(xué)習(xí)、超圖靈計(jì)算和設(shè)備端計(jì)算

Hava Siegelmann

馬薩諸塞大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)系教授

10:20

-

10:50

主題演講：自動(dòng)駕駛未來誰將掌舵？

Chris Gerdes

斯坦福大學(xué)機(jī)械工程學(xué) 名譽(yù)教授 & 斯坦福汽車研究中心（CARS）聯(lián)合主任

10:50

-

11:20

800V電驅(qū)SiC測試挑戰(zhàn)

黃正峰

Tektronix資深業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理

11:20

-

11:50

電動(dòng)車直流快充的前景展望

Nathan Yang / Denis Solomon

FLO EV首席產(chǎn)品官 / Tektronix汽車市場領(lǐng)導(dǎo)者

11:50

-

13:30

午間休閑時(shí)刻：參觀泰克古董博物館

13:30

-

14:00

智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應(yīng)用測試方案

劉劍

Tektronix資深技術(shù)經(jīng)理

14:00

-

14:30

電池直流內(nèi)阻：源表測試三步法

Liz Makley

Tektronix應(yīng)用工程師

14:45

-

15:45

無刷直流電機(jī)的全新測試技術(shù)分享

Srikrishna N.H

Tektronix功率解決方案首席工程師

15:45

-

15:50

反饋與抽獎(jiǎng)

2023泰克創(chuàng)新論壇

論壇內(nèi)容摘要

汽車高速總線及三電系統(tǒng)測試

800V電驅(qū)SiC測試挑戰(zhàn)

新能源汽車800V新架構(gòu)發(fā)展趨勢下，SiC已經(jīng)成為必需選擇的新型功率器件，泰克帶您從測試的角度來看寬禁帶技術(shù)帶來的諸多挑戰(zhàn)，例如：

? 如何篩選不同廠家的SiC器件及必要性

? 如何解決目前寬禁帶器件應(yīng)用測試和驅(qū)動(dòng)測試的難題

? 如何能充分發(fā)揮SiC器件的性能等

（注：本議題為6月29日線下峰會(huì)課程回顧）

電動(dòng)車直流快充的前景展望

隨著電動(dòng)車越來越成為主流，行業(yè)必須建立一個(gè)便捷可靠的電動(dòng)車充電網(wǎng)絡(luò)，以確保電動(dòng)車的普及。本次會(huì)議將與一位EVSE（電動(dòng)車充電設(shè)備）原始設(shè)備制造商/充電服務(wù)提供商進(jìn)行討論，探討直流快速充電（DCFC）的最新進(jìn)展，最令人興奮的技術(shù)以及對未來出行方式的影響。

智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應(yīng)用測試方案

智能網(wǎng)聯(lián)汽車的核心是新一代電子電氣架構(gòu)，在新的架構(gòu)下高速總線的應(yīng)用越來越廣泛，如何準(zhǔn)確的測試和評估這些高速總線也變得愈發(fā)有挑戰(zhàn)。在此章節(jié)，您不僅可以了解到泰克針對以下車載高速總線應(yīng)用的對應(yīng)解決方案，還可以了解到泰克在實(shí)際場景中的一些應(yīng)用案例分享：

?車載以太網(wǎng)1000BASE-T1測試方案

?MIPI D-PHY及C-PHY傳感接口測試方案

?PCIe Gen4/5外設(shè)接口及車內(nèi)SERDES測試方案等

此外，泰克還可提供各類高速接口的測試建議和白皮書以及豐富的調(diào)試工具，幫助工程師加速了解掌握各類高速接口測試、應(yīng)對復(fù)雜車載環(huán)境、建立自主測試和驗(yàn)證能力，助力新一代電子電氣平臺在智能網(wǎng)聯(lián)汽車的不斷升級。

（注：本議題為6月29日線下峰會(huì)課程回顧）

電池直流內(nèi)阻：源表測試三步法

隨著全球?qū)﹄姵仉娦镜男枨蟛粩嘣黾?，確保每個(gè)電池電芯的質(zhì)量對制造商至關(guān)重要。在生產(chǎn)過程中進(jìn)行了許多電氣測試，其中最有用的測試之一是對電池的內(nèi)阻或阻抗進(jìn)行表征。在本次講座中，我們將討論電池阻抗對性能的影響以及測量電池阻抗的不同方法。然后，我們將展示如何使用Keithley 24xx圖形系列觸摸屏SMUs上的新DCIR TSP應(yīng)用程序，僅用三個(gè)步驟中設(shè)進(jìn)行直流內(nèi)阻測量。

無刷直流電機(jī)的全新測試技術(shù)分享

傳統(tǒng)上，電機(jī)設(shè)計(jì)師使用定制的嵌入式控制軟件和具有用于場定向控制（FOC）的FPGA的硬件來測量直-象-零（dq0）變量。本次演講介紹了一種替代方法，避免了通常需要的復(fù)雜和昂貴的操作，例如訪問控制器板上的探測點(diǎn)，使用機(jī)械傳感器來計(jì)算扭矩和速度值，并獲取機(jī)械功率和系統(tǒng)/總體效率。

我們提出了一種有效的方法來測量傳感器和無傳感器系統(tǒng)的dq0分量和驅(qū)動(dòng)矢量。您將看到如何結(jié)合克拉克和帕克變換與控制器電路行為相關(guān)聯(lián)。因此，電機(jī)設(shè)計(jì)師能夠通過使用D和Q分量來可視化給定電氣輸入時(shí)產(chǎn)生的最佳扭矩，并獲得電機(jī)效率的指示。使用示波器的游標(biāo)功能，dq0可以以采樣率為基準(zhǔn)看作一個(gè)旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系。對于無傳感器系統(tǒng)，使用反電勢法和（濾波的）電信號精確計(jì)算偏移角度。dqo信號用于優(yōu)化控制器算法。相量圖同時(shí)顯示定子和轉(zhuǎn)子矢量。結(jié)果是一種簡化了電機(jī)設(shè)計(jì)師和驗(yàn)證工程師操作復(fù)雜度和成本的測量方法。

dq0直接與系統(tǒng)（電機(jī)-機(jī)械）效率相關(guān)，因此需要計(jì)算電氣和機(jī)械功率。本演講涵蓋了DQ0和機(jī)械功率值的測量。

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欲知更多產(chǎn)品和應(yīng)用詳情，您還可以通過如下方式聯(lián)系我們：

郵箱：china.mktg@tektronix.com

網(wǎng)址：www.tek.com.cn

電話：400-820-5835(周一至周五900)

將您的靈感變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)

我們提供專業(yè)的測量洞見信息，旨在幫助您提高績效以及將各種可能性轉(zhuǎn)化為現(xiàn)實(shí)。
泰克設(shè)計(jì)和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案，從而突破復(fù)雜性的層層壁壘，加快您的全局創(chuàng)新步伐。我們攜手共進(jìn)，一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。

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