探針去嵌準備工作

1：一臺R&S 網(wǎng)絡分析儀

2：高頻探針

3：高頻探針出廠S參數(shù)

"去嵌"是一種高頻測試中常用的技術，旨在消除測量中探針或連接線等外部元件的影響，以便更準確地測量被測試器件的性能。下面是進行"去嵌"的基本步驟：

獲取S參數(shù)：首先，需要獲取探針的S參數(shù)。這些S參數(shù)描述了探針在不同頻率下的傳輸特性，包括反射系數(shù)和傳輸損耗等。

測量被測試器件：使用探針對被測試器件進行測量。這些測量結果會包含探針和被測試器件的組合效果，無法準確反映出被測試器件的真實性能。

應用S參數(shù)：將探針的S參數(shù)應用于測量數(shù)據(jù)。通過將探針的影響從測量數(shù)據(jù)中去除，可以得到被測試器件在沒有探針影響的情況下的性能。

分析結果：分析去嵌后的測量數(shù)據(jù)，這將提供更準確、更可靠的關于被測試器件本身特性的信息。

以下為去嵌過程實際操作

使用R&S 網(wǎng)絡分析儀導入探針測得的S參數(shù)

GSG探針去嵌過程

步驟1：

點擊Offset Embed進入去嵌模塊

步驟2：

選擇單端探針模塊（根據(jù)所需去嵌的探針規(guī)格進行選擇）

步驟3：

先導入Port1端口

步驟4：

選擇探針本身的S參數(shù)數(shù)據(jù)（以GSG-600um探針為例），后綴-1探針文件

步驟5：

**Port1完成后，選擇Port2端口**

步驟6：

**選擇探針本身的S參數(shù)數(shù)據(jù)（以GSG-600um探針為例），選擇后綴-2探針文件**

步驟7：

以上操作都已完成后，勾選激活，即可顯示去嵌后的探針參數(shù)

步驟8：

去嵌完成，插損全部歸零，基本都在0.1dB范圍內

步驟9：

探針插損，去嵌后與去嵌前的數(shù)據(jù)對比，插損基本都已歸零

步驟10：

探針回損，去嵌后與去嵌前對比，回損與之前幾乎保持一致

結論

采用探針去嵌技術，能夠顯著提升高頻測試的準確性和便捷性。我們的方法十分簡便，只需在出廠時獲得的探針S參數(shù)的支持下，即可進行操作。

通過先對探針進行校準，獲取其S參數(shù)，我們能夠深入了解探針在測試中的影響。這些S參數(shù)涵蓋了探針的傳輸特性，包括損耗和反射等信息。將這些參數(shù)應用于實際測量數(shù)據(jù)中，可以消除探針帶來的誤差，確保我們測量的是被測試器件的真實性能。

我們的方法不僅節(jié)省時間，還大大提高了測試的精確性。無論是射頻電路還是微波器件，都能從中受益。

審核編輯：劉清