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電源模塊耐壓測(cè)試的方法是什么?ATECLOUD-POWER測(cè)試系統(tǒng)助力絕緣耐壓測(cè)試

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-10-18 15:50 ? 次閱讀
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耐壓測(cè)試不僅可以檢驗(yàn)電源模塊、電器設(shè)備等承受過(guò)壓的能力,而且還可以檢測(cè)設(shè)備的絕緣性能。在電氣設(shè)備的使用過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)電壓突然上升的情況,并且長(zhǎng)期使用設(shè)備會(huì)老化,絕緣能力會(huì)減弱,容易造成危險(xiǎn)。因此耐壓測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。

電源模塊耐壓測(cè)試的原理是什么?

給被測(cè)設(shè)備絕緣體施加一個(gè)高于正常工作的電壓,持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間,如果其絕緣性能足夠好,那么加在上面的電壓只會(huì)產(chǎn)生很小的漏電流。如果在規(guī)定時(shí)間內(nèi),其漏電流保持在規(guī)定范圍內(nèi),那么這個(gè)被測(cè)設(shè)備就可以在正常的運(yùn)行條件下安全運(yùn)行。

電源模塊耐壓測(cè)試的方法

測(cè)試設(shè)備:交流電源、電子負(fù)載、功率表、高壓測(cè)試儀

測(cè)試條件:依SPEC.要求:耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和 CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值

具體測(cè)試方法如下:

1.依SPEC.設(shè)定好耐壓 WITHSTANDING VOLTAGE,操作時(shí)間 TIME,CUT OFF CURRENT值

2.將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接,進(jìn)行耐壓測(cè)試,觀察是否有產(chǎn)生電弧 ARCING,及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過(guò)大

3.耐壓測(cè)試后,確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常

注意事項(xiàng):

1.測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件,待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好

2.耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求

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ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)

ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試絕緣耐壓的優(yōu)勢(shì)

納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)是一款0代碼開發(fā)、指令封裝的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單,容易上手,并且權(quán)限管理功能可以針對(duì)不同管理層進(jìn)行數(shù)據(jù)隔離,使測(cè)試數(shù)據(jù)更有保障。

1. 無(wú)編程模式,操作簡(jiǎn)單,可以快速搭建好測(cè)試流程。項(xiàng)目搭建好后,在該系統(tǒng)中新增方案,在運(yùn)行界面便可一鍵運(yùn)行,進(jìn)行測(cè)試。

2. 數(shù)據(jù)洞察功能支持測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多樣化圖表展示,數(shù)據(jù)直觀可見,進(jìn)行多維度智能分析。

3. 用戶可以自定義數(shù)據(jù)報(bào)告,選擇word或著excel格式導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行查看。

4. 該系統(tǒng)兼容性強(qiáng),內(nèi)含2000+儀器型號(hào),用戶可自由選擇對(duì)應(yīng)的儀器型號(hào);58+測(cè)試項(xiàng)目,并且項(xiàng)目可擴(kuò)展。

5. 批量測(cè)試功能可幫助用戶提高測(cè)試速度和效率,大大縮短測(cè)試時(shí)間和周期。

6. 電源模塊測(cè)試系統(tǒng)可遠(yuǎn)程控制,移動(dòng)端可以隨時(shí)查看測(cè)試情況,監(jiān)控測(cè)試進(jìn)程。

審核編輯:湯梓紅
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