三本工業(yè)測(cè)量?jī)x器獲悉工業(yè)ct是在射線檢測(cè)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，其基本原理是當(dāng)經(jīng)過準(zhǔn)直且能量I0的射線束穿過被檢物時(shí)，根據(jù)各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數(shù)從不同，探測(cè)器接收到的透射能量I也不同。

按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像，重復(fù)上述過程又可獲得一個(gè)新的斷層圖像，當(dāng)測(cè)得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當(dāng)單能射線束穿過非均勻物質(zhì)后，其 衰減遵從比爾定律： 即式中 、 為已知量，未知量為μ。

一幅M×N個(gè)像素組成的圖像，必須有M×N個(gè)獨(dú)立的方程才能解出衰減系數(shù)矩陣內(nèi)每一點(diǎn)的μ值。當(dāng)射線從各個(gè)方向透射被檢物體，通過掃描探測(cè)器可得到MXN個(gè)射線計(jì)數(shù)和值，按照一定的圖像重建算法，即可重建出MXN個(gè)μ值組成的二維工業(yè)ct灰度圖像。