據(jù)2月24日報(bào)道，佛羅里達(dá)大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)推測出一款名為“VoltSchemer”的新型攻擊技術(shù)，可通過侵入無線充電器，在充電過程中引發(fā)手機(jī)過溫直至火災(zāi)風(fēng)險(xiǎn)。

盡管此類攻擊技術(shù)實(shí)現(xiàn)較困難且需物理接觸無線充電器，但對廣大普通用戶無需過度擔(dān)憂。此次實(shí)驗(yàn)主要旨在揭示此潛在威脅。

VoltSchemer打著新型攻擊技術(shù)的旗號，主要針對目前熱門的無線充電器，通過改變設(shè)備電源的輸出電壓，進(jìn)而引起電磁干擾，使智能手機(jī)無法正常發(fā)聲或執(zhí)行其他相關(guān)功能。

QI標(biāo)準(zhǔn)已對充電安全性有所保障，已設(shè)定當(dāng)電量充裕時(shí)即停止充電。然而，VoltSchemer趁虛而入，利用這一漏洞，使防護(hù)措施形同虛設(shè)。

在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行的測試顯示，VoltSchemer攻擊能使三星Galaxy S8手機(jī)溫度上升至81攝氏度；同時(shí)，還會影響到充電器外表其它金屬物質(zhì)，如放置于其上的夾子亦可升溫至280攝氏度，輕松熔化閃存盤，甚至引發(fā)過熱及數(shù)據(jù)丟失等問題。