開(kāi)關(guān)電源的開(kāi)關(guān)管擊穿是指在開(kāi)關(guān)管工作過(guò)程中，由于某些原因?qū)е麻_(kāi)關(guān)管內(nèi)部出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象。開(kāi)關(guān)管擊穿的原因主要有以下幾個(gè)方面：

1. 過(guò)高的電壓：電壓過(guò)高是導(dǎo)致開(kāi)關(guān)管擊穿的主要原因之一。當(dāng)電壓超過(guò)開(kāi)關(guān)管的額定承受電壓時(shí)，電壓梯度在開(kāi)關(guān)管中會(huì)引發(fā)高程度的電場(chǎng)，導(dǎo)致電子被加速形成大量能量強(qiáng)的電子空化區(qū)，從而導(dǎo)致電弧放電現(xiàn)象的發(fā)生。
2. 過(guò)大的電流：電流過(guò)大是導(dǎo)致開(kāi)關(guān)管擊穿的另一個(gè)主要原因。當(dāng)電流超過(guò)開(kāi)關(guān)管的額定承受電流時(shí)，電流密度會(huì)升高，電流激發(fā)的電壓降驟升高，電流密度會(huì)超過(guò)材料的極限，從而引發(fā)局部放電，進(jìn)而形成電弧放電。
3. 過(guò)高的溫度：溫度過(guò)高也是導(dǎo)致開(kāi)關(guān)管擊穿的重要原因之一。當(dāng)開(kāi)關(guān)管長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作，或者在高負(fù)載下工作時(shí)，由于電流導(dǎo)致的瞬時(shí)功率損耗會(huì)引起開(kāi)關(guān)管內(nèi)部溫度升高。當(dāng)溫度超過(guò)開(kāi)關(guān)管所能承受的溫度極限時(shí)，開(kāi)關(guān)管內(nèi)部器件結(jié)構(gòu)和材料的物理特性會(huì)發(fā)生變化，導(dǎo)致?lián)舸?/li>
4. 過(guò)高的壓升率：開(kāi)關(guān)管工作過(guò)程中，電壓急劇升高會(huì)導(dǎo)致電壓升率過(guò)大。過(guò)高的壓升率將會(huì)在開(kāi)關(guān)管的電場(chǎng)分布中引發(fā)高電場(chǎng)區(qū)，從而加速電子的能量形成局部擊穿點(diǎn)。
5. 過(guò)大的載荷：開(kāi)關(guān)管正常工作下，應(yīng)能夠承受其設(shè)計(jì)定額載荷。但在長(zhǎng)時(shí)間高負(fù)載或過(guò)負(fù)載的情況下，開(kāi)關(guān)管的電流密度和功率密度過(guò)大，將使開(kāi)關(guān)管內(nèi)部形成高電場(chǎng)，進(jìn)而引發(fā)電壓擊穿現(xiàn)象。
6. 介質(zhì)缺陷：開(kāi)關(guān)管內(nèi)部的介質(zhì)，如電阻、絕緣層等出現(xiàn)缺陷，例如電阻發(fā)生短路、絕緣層出現(xiàn)微小孔洞或裂紋等，都會(huì)導(dǎo)致局部場(chǎng)強(qiáng)增加，引發(fā)電壓擊穿。
7. 設(shè)計(jì)不合理：開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)不合理也會(huì)導(dǎo)致開(kāi)關(guān)管擊穿。例如，在設(shè)計(jì)過(guò)程中未能充分考慮到電壓突變、電壓梯度、電流過(guò)載等因素，導(dǎo)致開(kāi)關(guān)管耐壓能力不足，容易造成擊穿。