探針間距是指在電路板測(cè)試過(guò)程中，探針之間的中心到中心距離。在理想情況下，電路板應(yīng)使用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的100mil彈簧探針進(jìn)行測(cè)試。這種探針設(shè)計(jì)低成本且可靠，適用于探測(cè)中心到中心距離為100mil或更大的電路點(diǎn)。

然而，有時(shí)候電路板上的器件間距可能不符合100mil的標(biāo)準(zhǔn)。在這種情況下，可以使用標(biāo)準(zhǔn)的探針設(shè)計(jì)來(lái)適配較小的間距。例如，可以使用75mil間距的探針設(shè)計(jì)，或者甚至更小的50mil間距或更近的間距，以滿足實(shí)際需求。

需要注意的是，隨著探針尺寸的減小，成本會(huì)增加，并且獲得高可靠性也變得更加困難。較小的探針尺寸可能需要更高的制造精度和材料要求，以確保其可靠性和穩(wěn)定性。因此，在選擇探針尺寸時(shí)，需要權(quán)衡成本和可靠性之間的關(guān)系，并根據(jù)實(shí)際情況做出合理的選擇。

審核編輯：黃飛