前言

問題由客戶提出，用戶發(fā)現(xiàn)在STM32F103器件上。用戶在產(chǎn)品中使能了IWDG，在使用過程中發(fā)現(xiàn)當(dāng)MCU被復(fù)位后，有時(shí)程序跑不下去；跟蹤代碼發(fā)現(xiàn)程序死在輪詢PLL_RDY處。用戶反饋說用的就是ST庫中的范例代碼，懷疑STM32F103有設(shè)計(jì)問題 。

調(diào)研

排查硬件供電無問題，用示波器測量NRST發(fā)現(xiàn)復(fù)位信號正常，用STM32CubeMX生成最小系統(tǒng)代碼（時(shí)鐘配置+IWDG）反復(fù)驗(yàn)證，未發(fā)現(xiàn)此問題，開始懷疑用戶代碼。

客戶聲稱開發(fā)是基于ST提供的SPL庫中自帶的demo，使用SPL中的范例代碼加上IWDG復(fù)位，確實(shí)可以復(fù)現(xiàn)此問題：通過調(diào)試器跟蹤代碼發(fā)現(xiàn)問題發(fā)生時(shí)HSE_RDY位被異常置位（用戶平臺無外掛高速時(shí)鐘源）。

通過分析代碼，發(fā)現(xiàn)SPL庫【標(biāo)準(zhǔn)外設(shè)固件庫】在配置時(shí)鐘時(shí)先會直接使能HSE，并對HSE_RDY位進(jìn)行檢測。在復(fù)位MCU若干次后HSE_RDY可能位會被置位，從而導(dǎo)致時(shí)鐘配置程序按照基于HSE的狀態(tài)來進(jìn)行接下來的配置。而SPL中的demo是跑在STM32F1評估板上，而評估板外帶高速時(shí)鐘源，故沒有此問題。

結(jié)論

在MCU復(fù)位后，HSE_ON雖默認(rèn)無效，但反復(fù)對其進(jìn)行使能操作會導(dǎo)致MCU內(nèi)部的噪聲積累，造成時(shí)鐘檢測電路誤判，并從寄存器反映出來。

- 對STM32F103來說，一旦HSE_RDY被置位，只要不斷電，無論怎樣復(fù)位MCU,HSE_RDY都不會被清除（即使失能HSE_ON） 。

- 對STM32F030單片機(jī)進(jìn)行類似操作，也會發(fā)現(xiàn)同樣問題。不同之處在于在HSE_RDY被置位后復(fù)位MCU，HSE_RDY位會被清除，但是一旦HSE_ON被置位，HSE_RDY同樣可能會出現(xiàn)被置位問題 。

處理

由于用戶不使用外部HSE,即并不需要對是否有外接高速晶振進(jìn)行判斷，故修改用戶代碼不再使能HSE。反復(fù)測試后問題不復(fù)現(xiàn) 。

建議

1 、要了解HSE_RDY位是用來檢測是否有外部時(shí)鐘存在的必要條件，而非充分條件。

2、使用STM32時(shí)，盡量按照實(shí)際設(shè)計(jì)對軟件做出相應(yīng)修改，切勿圖省事而帶來問題。