一、概述

客戶反饋一款規(guī)格為1206 精度1% 阻值100kΩ的厚膜電阻，在電路板上使用一個月后出現(xiàn)阻值減小，導致采樣偏差。為查明原因，需要我司代為對該電阻進行了詳細的失效分析。

二、樣品信息

電阻規(guī)格：1206，1%，100kΩ

樣品數(shù)量：2件（從同一串聯(lián)線路拆卸）

三、異常品分析

外觀檢查

對客戶提供的樣品進行目視檢查，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)完整，外觀無明顯異常。

阻值測量

使用LCR電橋在1V電壓下測量阻值，結(jié)果顯示2件樣品的阻值均符合規(guī)格標準。

高壓測試

鑒于客戶在負載條件下發(fā)現(xiàn)阻值偏低，使用高壓絕緣測試儀對產(chǎn)品進行高壓測量：

在85V電壓下，樣品1的阻值明顯下降。

當電壓升至150V時，樣品1的阻值下降更為顯著。

樣品2在不同電壓下的阻值變化不大。

表面處理后測量

對樣品進行清洗，并剝離表面保護層后再次測量阻值。結(jié)果與未處理前相比無明顯差異：低壓測量阻值正常，高壓測量阻值仍偏低。

修阻線檢查

檢查修阻線內(nèi)部，未發(fā)現(xiàn)異常的電阻膏殘留。如果存在殘留，可能在高壓下引起漏電現(xiàn)象。

阻抗層成分分析

對阻抗層進行成分分析，未發(fā)現(xiàn)成分異常，排除了阻值層表面存在異常物質(zhì)導致高壓下并聯(lián)現(xiàn)象的可能性。

未使用品測試

從客戶提供的未使用品中抽取100件，分別在低壓（1V）和高壓（85V/150V）條件下進行阻值測試，結(jié)果均保持穩(wěn)定。

四、失效原因分析

綜合以上分析，推斷導致產(chǎn)品失效的主要原因是電阻體的劣化。厚膜電阻的阻值層由導體（氧化釕）和絕緣體（玻璃釉）混合形成，其導電面積對電阻性能至關(guān)重要。若導電面積過小，會導致：

電阻體提前劣化：內(nèi)部絕緣部分的絕緣性下降。

高壓下漏電：在低壓環(huán)境下不明顯，但在高壓條件下會導致絕緣體漏電，造成阻值下降。

為驗證上述推斷，對產(chǎn)品電阻體進行了深入分析：

設(shè)計與修阻因素：導電面積過小可能源于設(shè)計問題或修阻過程。但從樣品的阻抗層觀察，長度和寬度均符合行業(yè)標準，未見明顯異常。

厚度比較：對產(chǎn)品進行側(cè)面切片，與同行其他品牌比較，發(fā)現(xiàn)該電阻體的厚度確實偏薄。

五、異常復現(xiàn)試驗

對客戶提供的未使用品和其他品牌的電阻進行高壓老化測試：

測試條件：高壓老化100小時。

測試結(jié)果：

客戶未使用品在老化后出現(xiàn)明顯的阻值漂移。

在低壓下阻值正常，高壓下阻值偏低。

其他品牌產(chǎn)品未出現(xiàn)類似現(xiàn)象。

六、結(jié)論

通過上述分析，確定電阻失效的原因是電阻體導電面積過小，導致產(chǎn)品提前劣化，耐高壓能力不足。

審核編輯 黃宇