一、概述

客戶反饋一款規(guī)格為1206 精度1% 阻值100kΩ的厚膜電阻，在電路板上使用一個(gè)月后出現(xiàn)阻值減小，導(dǎo)致采樣偏差。為查明原因，需要我司代為對(duì)該電阻進(jìn)行了詳細(xì)的失效分析。

二、樣品信息

電阻規(guī)格：1206，1%，100kΩ

樣品數(shù)量：2件（從同一串聯(lián)線路拆卸）

三、異常品分析

外觀檢查

對(duì)客戶提供的樣品進(jìn)行目視檢查，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)完整，外觀無明顯異常。

阻值測(cè)量

使用LCR電橋在1V電壓下測(cè)量阻值，結(jié)果顯示2件樣品的阻值均符合規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)。

高壓測(cè)試

鑒于客戶在負(fù)載條件下發(fā)現(xiàn)阻值偏低，使用高壓絕緣測(cè)試儀對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高壓測(cè)量：

在85V電壓下，樣品1的阻值明顯下降。

當(dāng)電壓升至150V時(shí)，樣品1的阻值下降更為顯著。

樣品2在不同電壓下的阻值變化不大。

表面處理后測(cè)量

對(duì)樣品進(jìn)行清洗，并剝離表面保護(hù)層后再次測(cè)量阻值。結(jié)果與未處理前相比無明顯差異：低壓測(cè)量阻值正常，高壓測(cè)量阻值仍偏低。

修阻線檢查

檢查修阻線內(nèi)部，未發(fā)現(xiàn)異常的電阻膏殘留。如果存在殘留，可能在高壓下引起漏電現(xiàn)象。

阻抗層成分分析

對(duì)阻抗層進(jìn)行成分分析，未發(fā)現(xiàn)成分異常，排除了阻值層表面存在異常物質(zhì)導(dǎo)致高壓下并聯(lián)現(xiàn)象的可能性。

未使用品測(cè)試

從客戶提供的未使用品中抽取100件，分別在低壓（1V）和高壓（85V/150V）條件下進(jìn)行阻值測(cè)試，結(jié)果均保持穩(wěn)定。

四、失效原因分析

綜合以上分析，推斷導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要原因是電阻體的劣化。厚膜電阻的阻值層由導(dǎo)體（氧化釕）和絕緣體（玻璃釉）混合形成，其導(dǎo)電面積對(duì)電阻性能至關(guān)重要。若導(dǎo)電面積過小，會(huì)導(dǎo)致：

電阻體提前劣化：內(nèi)部絕緣部分的絕緣性下降。

高壓下漏電：在低壓環(huán)境下不明顯，但在高壓條件下會(huì)導(dǎo)致絕緣體漏電，造成阻值下降。

為驗(yàn)證上述推斷，對(duì)產(chǎn)品電阻體進(jìn)行了深入分析：

設(shè)計(jì)與修阻因素：導(dǎo)電面積過小可能源于設(shè)計(jì)問題或修阻過程。但從樣品的阻抗層觀察，長度和寬度均符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，未見明顯異常。

厚度比較：對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行側(cè)面切片，與同行其他品牌比較，發(fā)現(xiàn)該電阻體的厚度確實(shí)偏薄。

五、異常復(fù)現(xiàn)試驗(yàn)

對(duì)客戶提供的未使用品和其他品牌的電阻進(jìn)行高壓老化測(cè)試：

測(cè)試條件：高壓老化100小時(shí)。

測(cè)試結(jié)果：

客戶未使用品在老化后出現(xiàn)明顯的阻值漂移。

在低壓下阻值正常，高壓下阻值偏低。

其他品牌產(chǎn)品未出現(xiàn)類似現(xiàn)象。

六、結(jié)論

通過上述分析，確定電阻失效的原因是電阻體導(dǎo)電面積過小，導(dǎo)致產(chǎn)品提前劣化，耐高壓能力不足。

審核編輯 黃宇