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三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x與二次元測(cè)量?jī)x的精度比較:接觸式與非接觸式測(cè)量的優(yōu)劣分析

武漢易測(cè)儀器的涂掌柜 ? 2025-02-07 16:40 ? 次閱讀
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1. 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x(CMM)

測(cè)量方式:接觸式測(cè)量,通常使用探針接觸被測(cè)物體表面。

精度:CMM的測(cè)量精度通常較高,尤其是在測(cè)量復(fù)雜幾何形狀和尺寸時(shí)。其重復(fù)精度也較好,因?yàn)榻佑|式測(cè)量受環(huán)境因素(如光照、表面反射等)影響較小。

應(yīng)用:適用于高精度要求的場(chǎng)合,如精密加工、汽車(chē)制造等領(lǐng)域。

2.二次元影像測(cè)量?jī)x(OMM)

測(cè)量方式:非接觸式測(cè)量,通過(guò)光學(xué)成像和圖像處理技術(shù)進(jìn)行測(cè)量。

精度:影像測(cè)量?jī)x的精度通常低于CMM,尤其是在測(cè)量復(fù)雜三維形狀時(shí)。非接觸式測(cè)量容易受到光照、表面反射、鏡頭畸變等因素的影響,導(dǎo)致測(cè)量不確定性較大。

應(yīng)用:適用于對(duì)精度要求相對(duì)較低的場(chǎng)合,一般圖紙注明公差0.01mm左右。如電子元件、塑料制品等。

3. 精度比較

接觸式 vs 非接觸式:接觸式測(cè)量(如CMM)通常比非接觸式測(cè)量(如2.5D影像測(cè)量?jī)x)具有更高的精度和重復(fù)性,因?yàn)榻佑|式測(cè)量直接獲取物體表面的物理數(shù)據(jù),減少了光學(xué)誤差和環(huán)境干擾。

不確定性:非接觸式測(cè)量的不確定性較大,主要由于光學(xué)系統(tǒng)的局限性和環(huán)境因素的影響。

4.兩種設(shè)備使用總結(jié)

三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x在測(cè)量精度(包括重復(fù)精度)上通常優(yōu)于影像測(cè)量?jī)x,尤其是在高精度要求的應(yīng)用中。然而,二次元影像測(cè)量?jī)x在速度和某些非接觸式測(cè)量的應(yīng)用場(chǎng)景中具有優(yōu)勢(shì)。選擇哪種測(cè)量設(shè)備應(yīng)根據(jù)具體的測(cè)量需求和應(yīng)用場(chǎng)景來(lái)決定。

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