chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

KDYD-JZ介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀器性能分析及應(yīng)用

王經(jīng)理 ? 來(lái)源:jf_34092796 ? 作者:jf_34092796 ? 2025-02-21 17:09 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

KDYD-JZ介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀是武漢凱迪正大設(shè)計(jì)用于測(cè)定無(wú)機(jī)金屬氧化物、板材、瓷器、云母、玻璃和塑料等材料介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的多用途測(cè)試儀器。
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是衡量絕緣材料性能的重要物理特性,武漢凱迪正大設(shè)計(jì)用于測(cè)量這些參數(shù)的KDYD-JZ介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀在科研、工業(yè)和生產(chǎn)中具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。KDYD-JZ通過(guò)測(cè)量介質(zhì)損耗系數(shù)(即損耗角正切值tanδ)和介電常數(shù),為分析材料的性能提供科學(xué)依據(jù)。武漢凱迪正大將其測(cè)量范圍覆蓋從高頻到中頻的廣泛頻率范圍,適用于對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料等絕緣材料性能的研究。

wKgZO2e4Qi2AGw1oAAK6gzSGVqw727.png


KDYD-JZ技術(shù)參數(shù):
1、Q值測(cè)量
a. Q值測(cè)量范圍:5~999
b. Q值量程分檔:30、100、300、999、自動(dòng)換擋
c.標(biāo)稱誤差
頻率范圍:10kHz~10MHz;
固有誤差:≤5%±滿度值的2%;工作誤差:≤7%±滿度值的2%;
頻率范圍:10MHz~52MHz
固有誤差:≤7%±滿度值的2%;工作誤差:107%±滿度值的2%。

2、電容測(cè)量
a.測(cè)量范圍:1~460pF(460pF以上的電容測(cè)量見(jiàn)使用規(guī)則);
b.電容量調(diào)節(jié)范圍
主調(diào)電容器:40~500pF;
準(zhǔn)確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%;
微調(diào)電容量:-3pF~0~+3pF;
準(zhǔn)確度:±0.2pF.

3、振蕩頻率
a.振蕩頻率范圍:10kHz~100MHz;
b.頻率分檔:
10~99 kHz 100~999 kHz
1 .0~9.99 MHz 10~52MHz。
c.頻率誤差:2×10-4±1個(gè)字

4、Q合格指示預(yù)置功能,預(yù)置范圍:5~999。

5、儀器正常工作條件
a.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對(duì)濕度:<80%;
c.電源:220V±22V, 50Hz±2.5Hz。

6、試樣尺寸
圓片形:厚度2±0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε<12時(shí)),Φ25~35mm(ε=12~30時(shí)),Φ15~20mm(ε>30時(shí))

7、其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7㎏;
c.尺寸外形:(l×b×h)mm:380×132×280。

KDYD-JZ采用先進(jìn)的自動(dòng)換擋技術(shù),確保測(cè)量的精確性和穩(wěn)定性。其電容測(cè)量功能,能夠準(zhǔn)確地調(diào)節(jié)主調(diào)電容器和微調(diào)電容器,滿足不同材料的測(cè)量要求。此外,儀器的頻率誤差達(dá)到2×10-4±1個(gè)字,保證了測(cè)量結(jié)果的可靠性。
在實(shí)際應(yīng)用中,該儀器能夠測(cè)量1~460pF的電容值,適用于不同介電常數(shù)的絕緣材料。其試樣尺寸要求通常為厚度2±0.5mm、直徑為Φ30~40mm(ε<12時(shí))、Φ25~35mm(ε=12~30時(shí))、Φ15~20mm(ε>30時(shí))。這些設(shè)計(jì)充分考慮了不同材料的特性,確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 測(cè)試儀器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    470

    瀏覽量

    34948
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    變壓器綜合測(cè)試儀怎么使用

    / 負(fù)載損耗測(cè)試” 等,可單項(xiàng)目測(cè)試或選擇 “綜合測(cè)試” 一鍵完成多參數(shù)檢測(cè)。 啟動(dòng)測(cè)試程序 :確認(rèn)接線和參數(shù)無(wú)誤后,點(diǎn)擊 “啟動(dòng)” 按鈕
    發(fā)表于 11-13 15:43

    同惠TH2830系列LCR測(cè)試儀性能實(shí)測(cè)

    ,詳細(xì)分析其基本功能、測(cè)量精度、測(cè)試速度及應(yīng)用表現(xiàn),全面評(píng)估該儀器的實(shí)際測(cè)量能力。 ? 一、儀器概況 TH2830系列LCR測(cè)試儀支持多種測(cè)
    的頭像 發(fā)表于 09-17 16:33 ?524次閱讀
    同惠TH2830系列LCR<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b><b class='flag-5'>性能</b>實(shí)測(cè)

    介質(zhì)損耗及電阻率測(cè)試儀的嵌入式系統(tǒng)架構(gòu)與抗干擾設(shè)計(jì)

    介質(zhì)損耗及電阻率測(cè)試儀的精準(zhǔn)檢測(cè)能力,不僅依賴于核心的電氣測(cè)量模塊與溫控系統(tǒng),更離不開(kāi)穩(wěn)定可靠的嵌入式系統(tǒng)作為“中樞神經(jīng)”。嵌入式系統(tǒng)承擔(dān)著數(shù)據(jù)采集、運(yùn)算處理等核心功能,其架構(gòu)設(shè)計(jì)與抗干擾設(shè)計(jì)共同
    的頭像 發(fā)表于 09-02 13:57 ?341次閱讀
    油<b class='flag-5'>介質(zhì)</b><b class='flag-5'>損耗</b>及電阻率<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>的嵌入式系統(tǒng)架構(gòu)與抗干擾設(shè)計(jì)

    激光法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀:現(xiàn)代材料熱性能分析的高效工具

    概述激光法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀是一種基于瞬態(tài)測(cè)量原理的高精度熱物性分析儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、能源技術(shù)、電子封裝、航空航天等領(lǐng)域。該儀器通過(guò)激光脈沖照射樣品表面,利用紅外探測(cè)器記錄樣品背面溫度隨時(shí)
    的頭像 發(fā)表于 06-24 11:18 ?357次閱讀
    激光法導(dǎo)熱系數(shù)<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>:現(xiàn)代材料熱<b class='flag-5'>性能</b><b class='flag-5'>分析</b>的高效工具

    PCB的介質(zhì)損耗角是什么“∠”?

    ,是個(gè)宏觀物理量。介質(zhì)損耗置于交流電場(chǎng)中的介質(zhì),以內(nèi)部發(fā)熱(溫度升高)形式表現(xiàn)出來(lái)的能量損耗。通常用希臘字母 ε 表示,是描述介質(zhì)在電場(chǎng)中響
    發(fā)表于 04-21 10:49

    4月22日北京|國(guó)產(chǎn)化全鏈路模塊測(cè)試儀器大會(huì)

    隨著5G、物聯(lián)網(wǎng)、通信等技術(shù)的快速發(fā)展、國(guó)際環(huán)境復(fù)雜多變,傳統(tǒng)測(cè)試儀器因體積龐大、功能單一、擴(kuò)展性差等問(wèn)題難以滿足高頻、高精度、多場(chǎng)景的測(cè)試需求,在此背景下,“國(guó)產(chǎn)化全鏈路模塊測(cè)試儀器大會(huì)”將于4月
    的頭像 發(fā)表于 04-18 16:44 ?605次閱讀
    4月22日北京|國(guó)產(chǎn)化全鏈路模塊<b class='flag-5'>測(cè)試儀器</b>大會(huì)

    絕緣油介質(zhì)損耗測(cè)試儀看完你就懂了

    測(cè)試儀
    特高壓電力
    發(fā)布于 :2025年04月14日 09:04:14

    用HD6000異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量介質(zhì)損耗角方法

    多系絕緣性好的材料,廣泛的用于電子及電工行業(yè)。使用時(shí)不希望絕緣材料本身能量損耗大,因而測(cè)量出介質(zhì)損耗因數(shù)就能評(píng)價(jià)材料的介質(zhì)本身能量
    的頭像 發(fā)表于 04-02 09:40 ?770次閱讀
    用HD6000異頻<b class='flag-5'>介質(zhì)</b><b class='flag-5'>損耗</b><b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>測(cè)量<b class='flag-5'>介質(zhì)</b><b class='flag-5'>損耗</b>角方法

    TOS93系列高壓測(cè)試儀器使用操作說(shuō)明書(shū)

    TOS93系列高壓測(cè)試儀器使用操作說(shuō)明書(shū)
    發(fā)表于 03-14 17:52 ?0次下載

    高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的硬件電路中,如何降低電磁干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

    在硬件電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,每一個(gè)細(xì)微的環(huán)節(jié)都對(duì)產(chǎn)品的性能起著至關(guān)重要的作用,尤其是在高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀這樣的高精度設(shè)備中。為了確保測(cè)試儀
    的頭像 發(fā)表于 02-25 09:08 ?580次閱讀
    高頻介電常數(shù)及<b class='flag-5'>介質(zhì)</b><b class='flag-5'>損耗</b><b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>的硬件電路中,如何降低電磁干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

    熱變形微卡軟化點(diǎn)測(cè)試儀:材料性能檢測(cè)的關(guān)鍵儀器

    在材料科學(xué)領(lǐng)域,熱變形微卡軟化點(diǎn)測(cè)試儀發(fā)揮著舉足輕重的作用。它是一種用于精確測(cè)定材料在特定條件下熱變形溫度以及微卡軟化點(diǎn)的專業(yè)儀器。和晟HS-XRW-300MA熱變形維卡軟化點(diǎn)溫度測(cè)定儀從原理上看
    的頭像 發(fā)表于 02-24 13:36 ?691次閱讀
    熱變形微卡軟化點(diǎn)<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>:材料<b class='flag-5'>性能</b>檢測(cè)的關(guān)鍵<b class='flag-5'>儀器</b>

    信而泰網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀校準(zhǔn)解決方案:精準(zhǔn)測(cè)試,性能無(wú)憂

    影響儀表精度的因素 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀是用于對(duì)數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)及其相關(guān)設(shè)備性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的儀表,可以模擬網(wǎng)絡(luò)終端產(chǎn)生流量,進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試,對(duì)網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)進(jìn)行
    的頭像 發(fā)表于 01-13 14:04 ?1111次閱讀
    信而泰網(wǎng)絡(luò)<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>校準(zhǔn)解決方案:精準(zhǔn)<b class='flag-5'>測(cè)試</b>,<b class='flag-5'>性能</b>無(wú)憂

    相對(duì)介電常數(shù)與介質(zhì)損耗的關(guān)系

    相對(duì)介電常數(shù)與介質(zhì)損耗之間存在一定關(guān)系,但并非絕對(duì)的正比或反比關(guān)系,而是受到多種因素的影響。以下是對(duì)這種關(guān)系的分析: 一、基本概念 相對(duì)介電常數(shù) :表征介質(zhì)材料的介電性質(zhì)或極化性質(zhì)的物
    的頭像 發(fā)表于 01-10 10:09 ?3345次閱讀

    OTDR與光纖測(cè)試儀的區(qū)別

    ) : OTDR是一種用于測(cè)量光纖鏈路特性的儀器,它通過(guò)發(fā)送一個(gè)光脈沖并測(cè)量反射回來(lái)的光信號(hào)來(lái)確定光纖的長(zhǎng)度、損耗和故障位置。OTDR基于光時(shí)域反射原理,可以提供光纖鏈路的詳細(xì)損耗分布圖。 光纖
    的頭像 發(fā)表于 12-30 17:54 ?2538次閱讀

    6419,6419A光纖應(yīng)變分布測(cè)試儀

    6419,6419A光纖應(yīng)變分布測(cè)試儀 價(jià)格實(shí)惠,性能出眾 6419/A光纖應(yīng)變分布測(cè)試儀能夠同時(shí)測(cè)試光纖光纜的應(yīng)變分布、損耗分布及各距離點(diǎn)
    的頭像 發(fā)表于 12-19 17:07 ?938次閱讀
    6419,6419A光纖應(yīng)變分布<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>