半導體電磁兼容測試的必備裝備---TEM小室
GB/T 42968.2-2024《集成電路電磁抗擾度測量 第2部分：輻射抗擾度測量 TEM小室和寬帶TEM小室法》國家標準于2024年10月26日發(fā)布，并自同日起實施。該標準旨在為集成電路的電磁兼容性測試提供指導，特別是針對輻射抗擾度的評估。通過使用TEM（橫電磁波）小室進行測量，可以有效的評價半導體器件在特定電磁環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
華瑞高出品的HTM-3A TEM小室將工作頻率范圍擴展到現有設備之外，同時允許對集成電路進行高達 3GHz頻率的輻射發(fā)射和抗擾度測試。將半導體芯片安裝在固定到位的測試夾具板上，安裝好后，可以根據GB/T 42968.2、IEC61967-2和IEC61967-8、SAE1752-3和IEC62132-8進行3GHz的測量。它配置為可容納IEC61967-2中規(guī)定的標準100mm x 100mm的測試夾具板，華瑞高的HTM-3A TEM小室可以完美的替代美國FCC的FCC-TEM-JM7D。
華瑞高的HTM-3A TEM小室可用于輻射發(fā)射和抗擾度測試，需要不到1毫瓦的輸入功率即可實現每米10V的電場，需要大約8瓦的輸入功率即可實現每米1000V的電場。
深圳市華瑞高電子技術有限公司作為一家電磁兼容設備校準裝置的生產廠家，我們有著相關豐富的電磁兼容測試校準經驗，對于電磁兼容的測試設備和測試規(guī)范的理解也比較深刻，歡迎一同溝通交流！
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