文章來(lái)源:學(xué)習(xí)那些事
原文作者:前路漫漫
本文介紹了半導(dǎo)體封裝工藝流程的主要步驟。
概述
半導(dǎo)體的典型封裝工藝流程包括芯片減薄、芯片切割、芯片貼裝、芯片互連、成型固化、去飛邊毛刺、切筋成型、上焊錫、打碼、外觀檢查、成品測(cè)試和包裝出庫(kù),涵蓋了前段(FOL)、中段(EOL)、電鍍(plating)、后段(EOL)以及終測(cè)(final test)等多個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
芯片減薄
首先是芯片減薄,芯片減薄環(huán)節(jié)這對(duì)應(yīng)著實(shí)際操作中的背面減?。╞ack grinding)。具體而言,就是把從晶圓廠產(chǎn)出的晶圓進(jìn)行背面研磨處理,將晶圓的厚度精準(zhǔn)減薄至封裝所要求的范圍。在實(shí)施磨片操作時(shí),為了保護(hù)晶圓正面的電路區(qū)域(active area),需要在正面貼上膠帶,然后同步進(jìn)行背面的研磨工作。當(dāng)研磨完成后,小心地去掉膠帶,并對(duì)晶圓的厚度進(jìn)行精確測(cè)量。
背面減薄
芯片切割
接下來(lái)是芯片切割步驟,也就是晶圓切割(wafer saw),該步驟又細(xì)分為三個(gè)子步驟:晶圓安裝(wafer mount)、晶圓切割及清洗(wafer wash)。第一步是將晶圓牢固地粘貼在藍(lán)膜(mylar)之上,確保即使在后續(xù)的切割過(guò)程中,晶圓也不會(huì)出現(xiàn)散落的情況。第二步,通過(guò)鋸片(saw blade)將整片晶圓細(xì)致地切割成一個(gè)個(gè)獨(dú)立的方塊(dice),以便為后續(xù)的芯片貼裝(die attach)等工序做好準(zhǔn)備。第三步的晶圓清洗,主要是為了清除在切割過(guò)程中產(chǎn)生的各類(lèi)粉塵,避免這些粉塵進(jìn)入到后續(xù)的工序中,影響產(chǎn)品質(zhì)量。
芯片貼裝
完成芯片切割后,緊接著進(jìn)行第一次外觀檢查,即第二道光檢(2nd optical inspection)。這一步驟主要是在顯微鏡下對(duì)切割后的晶圓進(jìn)行全面的外觀檢查,仔細(xì)查看是否存在廢品。當(dāng)檢查完畢且確認(rèn)無(wú)廢品后,便進(jìn)入到芯片貼裝環(huán)節(jié)(die attach)。芯片貼裝又可細(xì)分為點(diǎn)銀漿(write epoxy)、芯片粘接及銀漿固化(epoxy cure)這三個(gè)具體步驟。銀漿需要在極為低溫的-50℃環(huán)境下妥善保存,在使用之前,要先進(jìn)行回溫處理,以徹底除去其中的氣泡,之后才可以進(jìn)行點(diǎn)銀漿的操作。在銀漿固化時(shí),需要將溫度保持在175℃,并持續(xù)1小時(shí),同時(shí)為了避免銀漿被氧化,該過(guò)程需要在氨氣環(huán)境中進(jìn)行。
芯片互連
芯片互連是將芯片焊區(qū)與電子封裝外殼的O引線或基板上的金屬布線焊區(qū)相連接,實(shí)現(xiàn)芯片功能的制造技術(shù)。其服務(wù)對(duì)象包括芯片與芯片間、芯片與封裝襯底間以及器件與基板間的物理連接。
芯片互連的常見(jiàn)方法包括引線鍵合(leadbonding,LB;又稱(chēng)打線鍵合)技術(shù)、載帶自動(dòng)鍵合(TAB)技術(shù)和倒裝芯片鍵合(flip chipbonding,F(xiàn)CB)技術(shù)三種。其中,倒裝芯片鍵合技術(shù)又稱(chēng)C4--可控塌陷芯片互連技術(shù)。
成型固化
完成芯片互連后,進(jìn)入到成型固化步驟,這其中包含了注塑(molding)和模后固化(post mold cure)兩個(gè)部分。注塑所使用的塑封料呈現(xiàn)為黑色塊狀,與銀漿類(lèi)似,在使用前需要進(jìn)行低溫存儲(chǔ),使用時(shí)則要先進(jìn)行回溫處理。塑封料具有特殊的特性,在高溫環(huán)境下,它會(huì)先處于熔融狀態(tài),然后逐漸硬化,通常經(jīng)過(guò)60~120秒之后就會(huì)成型。在進(jìn)行注塑操作時(shí),先將引線框(L/F)放置于模具之中,確保每個(gè)芯片都準(zhǔn)確位于相應(yīng)的腔體中,合模后,把塊狀塑封料放入模具孔內(nèi)。在高溫的作用下,塑封料會(huì)迅速熔化并流入腔體,從底部開(kāi)始逐漸覆蓋芯片。模后固化是指在注塑之后,將產(chǎn)品置于(175±5)℃的溫度環(huán)境下,經(jīng)過(guò)大約8小時(shí)的時(shí)間,對(duì)塑封料進(jìn)行充分固化,這樣做的目的是為了更好地保護(hù)IC的內(nèi)部結(jié)構(gòu),并有效消除內(nèi)部應(yīng)力。
去飛邊毛刺
在注塑工序完成后,產(chǎn)品表面往往會(huì)殘留多余的塑封材料,此時(shí)便需進(jìn)入去飛邊毛刺環(huán)節(jié),對(duì)應(yīng)實(shí)際生產(chǎn)中的去溢料(de-flash)工藝。該步驟通過(guò)組合式處理方法,先利用弱酸溶液對(duì)器件進(jìn)行浸泡,使溢料部分發(fā)生適度化學(xué)溶蝕,削弱其與主體結(jié)構(gòu)的結(jié)合力;再借助高壓水沖洗,以強(qiáng)勁的水流沖擊力將溶蝕后的溢料徹底清除,從而讓管體周?chē)耙€間的多余物質(zhì)完全剝離,使產(chǎn)品外觀達(dá)到潔凈規(guī)整的標(biāo)準(zhǔn),為后續(xù)加工奠定良好基礎(chǔ)。
上焊錫
緊接著的上焊錫工序,專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)稱(chēng)為電鍍(plating),這是提升器件性能與可靠性的關(guān)鍵步驟。電鍍工藝運(yùn)用電化學(xué)或化學(xué)沉積原理,在引線框表面構(gòu)建起一層均勻致密的金屬鍍層。這層防護(hù)層如同堅(jiān)固的鎧甲,能夠有效抵御潮濕空氣、高溫等外界環(huán)境因素對(duì)器件的侵蝕;同時(shí)顯著改善元器件與印刷電路板(PCB)之間的焊接適配性,降低接觸電阻,增強(qiáng)導(dǎo)電性能。
當(dāng)前,電鍍技術(shù)主要分為無(wú)鉛電鍍與鉛錫合金電鍍兩大類(lèi)型。無(wú)鉛電鍍采用純度超99.95%的高純度錫作為鍍層材料,憑借環(huán)保優(yōu)勢(shì)與優(yōu)異的電氣性能,成為符合ROHS環(huán)保指令要求的主流工藝,廣泛應(yīng)用于各類(lèi)電子產(chǎn)品制造。而鉛錫合金電鍍,因其合金成分中含15%的鉛與85%的錫,因不符合環(huán)保規(guī)范,在綠色制造趨勢(shì)下已逐漸退出市場(chǎng)。
完成電鍍后,還需進(jìn)行電鍍退火(post annealing bake)處理。將經(jīng)過(guò)無(wú)鉛電鍍的產(chǎn)品置于(150±5)℃的高溫環(huán)境中烘烤特定時(shí)長(zhǎng),這一過(guò)程能夠有效釋放電鍍層內(nèi)部應(yīng)力,抑制晶須生長(zhǎng)風(fēng)險(xiǎn)。晶須作為金屬鍍層表面自發(fā)形成的針狀晶體,若任其生長(zhǎng),可能引發(fā)短路等嚴(yán)重電氣故障,通過(guò)退火工藝可從根本上消除此類(lèi)潛在隱患,確保產(chǎn)品長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行 。
打碼
之后是打碼步驟,即激光打字(laser mask),該步驟是指利用激光技術(shù),將產(chǎn)品名稱(chēng)、生產(chǎn)日期、批次等重要信息清晰地刻到產(chǎn)品的背面或正面。
切筋成型
再之后是切筋成型步驟,即切筋/成型(trim & form)。切筋是指將一整條片的引線框精確切割成單獨(dú)的單元,而成型則是指對(duì)切筋之后的IC產(chǎn)品進(jìn)行引腳成型處理,使其達(dá)到工藝要求的特定形狀,最后將成型后的產(chǎn)品放置到管或者盤(pán)中。然后是第三次外觀檢查,即第四道光檢(final visual inspection),這是在低倍放大鏡下,對(duì)產(chǎn)品的外觀進(jìn)行全面檢查,主要針對(duì)后段工藝可能產(chǎn)生的注塑缺陷、電鍍?nèi)毕菀约扒薪?成型缺陷等問(wèn)題進(jìn)行仔細(xì)排查。
成品測(cè)試與包裝出庫(kù)
完成外觀檢查后,進(jìn)入成品測(cè)試環(huán)節(jié),對(duì)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)進(jìn)行全面且嚴(yán)格的測(cè)試,確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
最后是包裝出庫(kù)步驟,將通過(guò)測(cè)試的產(chǎn)品進(jìn)行精心包裝,然后按照相關(guān)流程出庫(kù),準(zhǔn)備交付客戶(hù)使用。
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