引言

在電子設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的性能直接決定了系統(tǒng)的好壞，因此ADC測試環(huán)節(jié)是必不可少的。ADC測試通常需要從精度、功耗、傳輸速度等多個方面進行評估，以確保其能夠滿足設(shè)計需求與實際應(yīng)用中對準確性和可靠性的需求。如何從噪聲干擾、信號失真、環(huán)境波動等諸多影響因素中實現(xiàn)準確的ADC測試？音頻分析儀A10為工程師們提供了一個不錯的ADC測試解決方案。

三大核心優(yōu)勢

出色的硬件測試設(shè)備

傳統(tǒng)信號源精度不足？A10作為一款專為研發(fā)設(shè)計的測試設(shè)備，集高精度信號源與分析儀于一身，更配備了專為ADC測試打造的ADCtest功能，幅度精度可達±0.03dB，殘余THD+N（20kHz BW）小于-117dB，以此提供穩(wěn)定的測試信號，并且支持頻率范圍5Hz～204kHz的模擬信號，能夠滿足工程師們的大部分測試需要。

豐富的測試指標，支持一鍵參數(shù)分析

除了ADCtest測試功能以外，設(shè)備還提供信噪比（SNR）、信納比（SINAD）、有效位數(shù)（ENOB）等多種指標測試功能。工程師可以根據(jù)測試需要選擇不同的測試項，或者直接設(shè)置測試模板一鍵實現(xiàn)多個指標的自動測試。

信噪比（SNR）：反映了在一個通信系統(tǒng)中，信號在傳輸與處理過程中受到噪聲干擾的程度；

信納比（SINAD）：反映了信號幅度與其他所有頻譜成分（包含諧波但不包含直流）信號之間的比例關(guān)系，能夠很好的反映ADC的整體動態(tài)性能；

有效位數(shù)（ENOB）：一個ADC的分辨率通常是由用來表示模擬值的位數(shù)規(guī)定的。例如，一個12位的ADC，在理想情況下，其有效位數(shù)幾乎為12。然而，在實際應(yīng)用中，由于真實的信號存在噪聲，以及真實電路的不完美性會引入額外的噪聲和失真，這些因素都會減少ADC的精度位數(shù)。因此，ENOB作為一個更實際的性能指標，用于描述ADC在特定條件下的有效分辨率。

硬件級防護，守護研發(fā)安全

工程師不僅可以靈活的設(shè)置測試信號的輸出幅度以及頻率， 如圖1所示A10還支持共模電壓的設(shè)置，并提供了Pin腳電壓門限設(shè)置功能，從而更有效地保護測試電路，確保測試的準確性和安全性。

圖1

±0.1mV共模電壓微調(diào)，精準匹配復雜電路偏置需求；

可設(shè)置引腳保護閾值：過壓自動切斷，避免芯片燒毀風險。

產(chǎn)品介紹

圖2?音頻分析儀A10

標配支持SPDIF/TOSLINK/AES/EBU數(shù)字接口；

支持BT/HDMI/I2S/PDM等多種數(shù)字接口擴展；

完整強大的電聲分析儀功能；

免代碼的自動化及全面API接口；

支持LabVIEW,VB.NET,C#.NET；

自動生成各種格式的測試報告；

多達60項測試功能，其中包括示波器，頻譜分析儀，連續(xù)快速掃描等。

想要了解更多關(guān)于ADC測試的內(nèi)容，歡迎咨詢北京度緯科技有限公司,聯(lián)系電話010-64327909。

審核編輯 黃宇