一、光刻工藝概述
光刻工藝是半導(dǎo)體制造的核心技術(shù),通過光刻膠在特殊波長光線或者電子束下發(fā)生化學(xué)變化,再經(jīng)過曝光、顯影、刻蝕等工藝過程,將設(shè)計(jì)在掩膜上的圖形轉(zhuǎn)移到襯底上,是現(xiàn)代半導(dǎo)體、微電子、信息產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ),直接決定了這些技術(shù)的發(fā)展水平。
二、顯影在光刻工藝中的位置與作用
位置:顯影是光刻工藝中的一個(gè)重要步驟,在曝光之后進(jìn)行。
作用:其作用是將曝光產(chǎn)生的潛在圖形,通過顯影液作用顯現(xiàn)出來。具體而言,是洗去光刻膠中被曝光(正性光刻膠)或未被曝光(負(fù)性光刻膠)的部分,從而在晶圓上得到所需的圖案。
三、顯影技術(shù)的工作原理
正性光刻膠
當(dāng)正膠受到曝光時(shí),光敏基團(tuán)發(fā)生光化學(xué)反應(yīng),會生成酸性基團(tuán),放出氮?dú)?,酸性基團(tuán)與顯影液反應(yīng),光刻膠的結(jié)構(gòu)被破壞,因此曝光后的光刻膠便被洗去。由于曝光后的光刻膠含有很多酸性基團(tuán),所以顯影液一般為微堿性的溶液。
負(fù)性光刻膠
當(dāng)負(fù)膠受到曝光時(shí),由于光敏基團(tuán)的反應(yīng),光刻膠中的聚合物分子會交聯(lián)為網(wǎng)狀結(jié)構(gòu),使得曝光后的光刻膠在結(jié)構(gòu)上更加穩(wěn)定和不易溶解。顯影液會溶解掉未被曝光(未交聯(lián))的光刻膠,而曝光區(qū)域的光刻膠則保持不變。
四、顯影技術(shù)中常用的試劑或材料
顯影液
對于正性光刻膠,由于曝光區(qū)域生成酸性基團(tuán),顯影液一般采用微堿性溶液;不同的光刻膠、分辨率、膠厚會選擇不同的顯影液。浸泡式顯影往往對顯影液的溫度、濃度、流動性等指標(biāo)有要求,以控制顯影效果。
五、顯影技術(shù)的關(guān)鍵操作要點(diǎn)
顯影方式對顯影效果的影響
浸泡式顯影
操作:晶圓完全浸沒在顯影液中一段固定的時(shí)間。
效果:過程簡單,可以獲得均勻的顯影效果,因?yàn)檎麄€(gè)晶圓都被顯影液均勻地覆蓋。
缺點(diǎn):通常用于實(shí)驗(yàn)室和研究環(huán)境,因?yàn)樗枰罅康娘@影液且顯影液可能被污染,尤其是在連續(xù)顯影多個(gè)晶圓的情況下,不適合大規(guī)模生產(chǎn)。
控制因素:溫度,時(shí)間,濃度,顯影液流動性,同一種顯影液,溫度越高,濃度越大,攪拌越劇烈,顯影速率越快。
噴灑式顯影
操作:使用專門的設(shè)備,將顯影液以霧化的形式均勻地噴灑到晶圓表面。
效果:高效且節(jié)省顯影液,能夠提供非常均勻的顯影效果(晶圓一邊噴灑一邊轉(zhuǎn)動)。
關(guān)鍵工藝參數(shù)對顯影的影響
關(guān)鍵的工藝參數(shù)包含了PEB(曝光后烘烤)溫度、顯影液溫度、顯影時(shí)間和HB(堅(jiān)膜)溫度等,它們對顯影效果有著不同程度影響,需要精確控制這些參數(shù)才能確保正常顯影并減少返工率。
六、顯影技術(shù)在不同應(yīng)用場景下的特點(diǎn)或差異
實(shí)驗(yàn)室和研究環(huán)境
浸泡式顯影相對可行,因?yàn)樗僮骱唵?,不需要?fù)雜的設(shè)備,并且能滿足小批量、對均勻度有要求的研究性實(shí)驗(yàn),雖然其耗費(fèi)顯影液且有污染風(fēng)險(xiǎn),但在實(shí)驗(yàn)室少量晶片處理場景下尚可接受。
大規(guī)模生產(chǎn)環(huán)境
噴灑式顯影優(yōu)勢明顯,由于其高效且節(jié)省顯影液的特點(diǎn),可以降低成本、節(jié)省資源,能夠滿足大規(guī)模生產(chǎn)對速度和效率以及資源有效利用方面的要求。
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