近場電磁干擾（EMI）測試是電磁兼容性（EMC）輻射發(fā)射預(yù)兼容測試的關(guān)鍵部分。EMI測試機構(gòu)利用經(jīng)過精確校準的天線和EMI接收機，在3米或10米的距離上對設(shè)備進行測試，這被稱為遠場測量。電磁場的特性主要由被測設(shè)備（DUT）及其與接收機和天線的距離決定。遠場輻射發(fā)射測量能夠準確判斷被測設(shè)備是否符合相關(guān)的EMC/EMI標準。

然而，遠場測試存在局限性，它無法明確指出嚴重的輻射問題是由通信接口（如USB、LAN）、殼體縫隙、連接電纜還是電源線引起的。在這種情況下，需要使用頻譜分析儀和近場探頭通過近場測試來定位發(fā)射源。近場測試是一種相對量測試，它需要將被測設(shè)備的測試結(jié)果與基準設(shè)備的測試結(jié)果進行比較，以預(yù)測被測設(shè)備通過一致性測試的可能性。需要注意的是，將近場測試結(jié)果與EMI標準測試極限進行比較是沒有意義的，因為測試讀數(shù)受多種因素影響，包括探頭位置和被測設(shè)備的形狀等。

本應(yīng)用指南將介紹各種近場探頭的特點，并解釋它們在定位、評估可能的發(fā)射源以及進行故障診斷方面的特殊優(yōu)勢：搜尋電磁干擾源，用于電磁干擾的故障診斷和設(shè)計驗證。

近場探頭簡介

電磁場由電場（E場）和磁場（H場）組成。工程師可以使用各種探頭來檢測每種場中的發(fā)射。

磁場探頭

磁場發(fā)射源通常來自芯片組引腳、印刷電路板導(dǎo)線、電源線或信號線，或沒有良好接地的金屬蓋。磁場探頭的感應(yīng)元件是一個與發(fā)射導(dǎo)線或電線電感耦合的簡易線圈。當磁場探頭的回路與載流電線對齊時，它為頻譜分析儀提供最大輸出電壓。在診斷EMI故障時，工程師需要在被測設(shè)備的表面旋轉(zhuǎn)和移動探頭，以確定探頭在功率讀數(shù)達到最大值時的位置，同時避免遺漏重要的發(fā)射源。

電場探頭

電場主要來源于未使用負載端接的電纜和電線，以及通向高阻抗邏輯電路的印刷電路板導(dǎo)線（可能是邏輯集成電路的高阻抗輸入或三相輸出）。最簡單的電場探頭實際上是一個小型天線。電場探頭能夠方便地探測空中信號，例如蜂窩下行鏈路信號。這些大功率空中信號可能需要增加衰減，以防頻譜分析儀過載。不過，增加衰減將會影響頻譜分析儀的靈敏度。

選擇探頭類型

在遠場測試中，被測設(shè)備和天線之間的距離決定了場強的大小。當探頭靠近發(fā)射源時，電流、電壓、形狀和材料等特性將成為決定場強的主要因素。如果輻射來自高電壓、弱電流的電路或元器件，那么電場在EMI近場中將起到主要作用。如果部分被測設(shè)備中電流很強而電壓較低，那么磁場將起到主要作用。在近場測試中，當探頭逐漸遠離被測設(shè)備時，磁場衰落的速度比電場更快。因此，磁場探頭更多地用于在近場測試中定位發(fā)射目標。

選擇磁場探頭

選擇近場測試探頭時，需要考慮幾個重要因素，包括探頭靈敏度、分辨率和頻率響應(yīng)等。

靈敏度：與頻譜分析儀不同，近場探頭的靈敏度不是一個絕對值。因此，工程師需要將頻譜分析儀和探頭視為一個整體系統(tǒng)來測試其靈敏度。整個系統(tǒng)應(yīng)能夠輕松地探測到很小的發(fā)射，并有足夠的裕量來觀測硬件變動前后發(fā)射的變化。

分辨率：探頭的分辨率對于定位發(fā)射源至關(guān)重要。通常來說，探頭的靈敏度和分辨率是一對矛盾體。例如，尺寸越大的磁場探頭，靈敏度往往越高，探測發(fā)射的區(qū)域越大，但其分辨率會越低，從而難以準確地分辨發(fā)射源。因此，最好是先使用尺寸較大、靈敏度較高的探頭來執(zhí)行EMI測試，捕獲和確定發(fā)射源的大致區(qū)域，然后使用尺寸較小但分辨率較高的探頭來確定發(fā)射源的準確位置。為此，推薦您配備多種探頭。

頻率響應(yīng)：頻率響應(yīng)是一個經(jīng)常會被忽略的重要因素。頻率響應(yīng)是給定探頭在測量相同幅度、不同頻率的信號時得到的幅度差。當使用天線測試磁場時，更重要的是精確測量場強，而不是測量頻率響應(yīng)。在進行近場測試的過程中，探頭的角度以及探頭與被測設(shè)備之間的距離都會改變，因此使測量場強的絕對值失去了意義。數(shù)據(jù)結(jié)果的比較非常重要，它可以幫助工程師找到產(chǎn)生最大發(fā)射的頻率點。例如，如果頻率響應(yīng)在一個特定頻率上出現(xiàn)很大衰減，那么在該頻率上的高發(fā)射可能遠遠低于信號分析儀上的發(fā)射，因而被忽視。

其它特性：探頭的形狀和多樣性也是選擇探頭時需要考慮的重要因素。除了上面介紹的常規(guī)的電場和磁場探頭之外，工程師可能還需要一些專用探頭，用來實施先進的EMI故障診斷。專用探頭通常用于尋找并屏蔽可能的發(fā)射源。例如：工程師可能需要借助專用的探頭，才能發(fā)現(xiàn)耦合到電纜或電線，并輻射到被測設(shè)備其他部分的發(fā)射。如果干擾信號通過電纜發(fā)射，那么使用常規(guī)的磁場和電場探頭是很難探測到這些干擾信號的。

結(jié)論

近場電磁干擾 (EMI) 測試是電磁兼容性 (EMC) 輻射發(fā)射預(yù)兼容測試中的一個重要工具。用戶可考慮各種近場探頭在定位和測試可能的發(fā)射源以及診斷其故障等方面的不同優(yōu)勢，選擇最適合的近場探頭執(zhí)行這一測試。

審核編輯 黃宇