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待機功耗測試的“隱秘陷阱”:為什么你的測試結(jié)果可能不準確?

ZLG致遠電子 ? 2025-07-22 11:37 ? 次閱讀
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在家電、LED等行業(yè),待機功耗測試看似簡單——選擇一臺高精度設(shè)備即可。但實際上,許多工程師都在無意中踩中測試“陷阱”:插排上的小紅燈、接線方式的選擇、量程檔位的設(shè)定...這些細節(jié)影響著你的測試結(jié)果是否真實可信。



測試前提

要保證測試設(shè)備的精度,需從以下三個方面考慮:

1、分辨率:測量的“放大鏡”

分辨率決定了設(shè)備對模擬信號的“分辨能力”,我們用它來量化刻度。在14bit分辨率下,刻度數(shù)量為21?即16384個,最小測量刻度為當前量程的1/16384。分辨率可以設(shè)置得很高,但基于實際需求與生產(chǎn)環(huán)境綜合考慮,選擇合適的值才是妥當?shù)?。分辨率是高精度的必要條件,但不是充分條件——它是高精度的要素,但無法決定精度。

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2、測量準確度:真正的“精度指標”測量準確度即狹義上講的精度。以致遠儀器PA310H為例:基本精度 = 0.1%讀數(shù) + 0.05%量程。

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實際計算示例:當前電壓量程設(shè)定為150V,輸入50Hz、100V信號時,誤差值為±(150V × 0.05% + 100V × 0.1%) = ±0.175V。當測量值與真實值差距在0.175V之內(nèi)時,便可認為符合精度要求。
3、校準:精度的“守護神”在致遠儀器生產(chǎn)校準管理系統(tǒng)的管理下,設(shè)備從生產(chǎn)、組裝到出貨必須完成生產(chǎn)測試和校準兩個關(guān)鍵流程。生產(chǎn)測試驗證設(shè)備基本功能是否正常;校準流程則在特定環(huán)境下驗證設(shè)備并計算校準系數(shù),保證測量精度。致遠儀器依托強大的計量校準實驗室,校準過程中涉及的所有參考物質(zhì)必須經(jīng)過校準或第三方標定,且僅限在有效期內(nèi)使用,以保證設(shè)備精度的溯源性。

實戰(zhàn)測試:避開這些常見陷阱

1、量程選擇不當

待機功耗測試時負載電流很小,通常在mA級別。要正確測試mA級電流,不僅對儀器基本精度有要求,對電流量程檔位選擇也有很高要求。

以致遠儀器PA系列功率計為例,精度誤差為“0.1%讀數(shù)精度 + 0.05%量程精度”。讀數(shù)精度由機器本身性能決定,而量程精度帶來的誤差隨我們選擇的量程大小而變化。

2、外部干擾源引入待機功耗電流很小,實際測試容易引入干擾。最常見的錯誤是使用帶指示燈的插排,插排上的小紅燈會產(chǎn)生微小電流,對mA級待機電流測試造成較大誤差。因此測試時要格外注意,同時選擇干擾較小的場所進行測試,否則會引起不確定誤差。

3、U、I的取點位置

由于電流表內(nèi)接法和外接法的差異,會影響測量準確性,需要根據(jù)實際情況選擇正確方式。

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內(nèi)接法:電壓表測量值 = 負載電壓 + 電流表壓降

外接法:電流表測量值 = 負載電流 + 電壓表分流

功率計輸入阻抗約2MΩ,在220V市電下,流過電壓測量端的電流為0.11mA。對于mA級的待機電流,這個分流誤差不可忽視,因此需要選擇電流表內(nèi)接法。

4、電流通道接入位置電流串在L線或N線也會影響精度。設(shè)備內(nèi)部板卡屏蔽殼與機殼間存在雜散電容(空間中兩個絕緣導體存在電容),若電流通道接入高端,會產(chǎn)生泄漏電流(圖中紅色標記線)。因此電流測量輸入應(yīng)串在共模電壓較低的地方(低端)。

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測試檢查清單

為確保待機功耗測試的準確性,需要盡量滿足以下條件:設(shè)備選擇:精度高、量程小的設(shè)備;環(huán)境要求:避免使用帶負載的插排和干擾源;接線方式:采用電流表內(nèi)接法;通道位置:電流串接在N線(低端)。

總結(jié)

待機功耗測試看似簡單,實則處處有學問。每個細節(jié)的疏忽都可能導致測試結(jié)果失真,影響產(chǎn)品的能效評估和合規(guī)性判定。掌握正確的測試方法,選擇合適的測試設(shè)備,讓每一次測量都更加可信、更有價值。

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