一次篩選：芯片可靠性的 “第一道防線”

在集成電路從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的全流程中，一次篩選是保障產(chǎn)品質(zhì)量的核心環(huán)節(jié)。它位于封裝測(cè)試階段前端，通過(guò)多維度的嚴(yán)格測(cè)試，如電性能測(cè)試、環(huán)境應(yīng)力篩選（如高低溫、濕度測(cè)試）以及功能驗(yàn)證等步驟，精準(zhǔn)剔除存在潛在缺陷（如材料瑕疵、工藝誤差導(dǎo)致的性能不達(dá)標(biāo)）的芯片，直接影響產(chǎn)品良率、可靠性及終端應(yīng)用安全。

隨著芯片向高集成度、先進(jìn)制程發(fā)展，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)更復(fù)雜，對(duì)測(cè)試精度、環(huán)境應(yīng)力模擬的要求顯著提升。一次篩選已從簡(jiǎn)單的功能驗(yàn)證，升級(jí)為涵蓋電性能、環(huán)境適應(yīng)性、長(zhǎng)期穩(wěn)定性的綜合評(píng)估體系。

電源芯片一次篩選項(xiàng)目：多維度嚴(yán)苛驗(yàn)證

電源芯片作為電子設(shè)備的 “能量中樞”，其穩(wěn)定性直接決定終端產(chǎn)品（如新能源汽車、通信基站、工業(yè)控制系統(tǒng)）的安全運(yùn)行。針對(duì)電源芯片的一次篩選，需通過(guò) 7 大項(xiàng)目構(gòu)建完整測(cè)試鏈條：

表1

廣電計(jì)量“一站式” 電源芯片一篩解決方案

電源芯片客戶在一次篩選環(huán)節(jié)中，往往面臨測(cè)試方案與產(chǎn)品特性不匹配、多環(huán)節(jié)對(duì)接效率低、嚴(yán)苛環(huán)境下測(cè)試穩(wěn)定性不足等痛點(diǎn)。廣電計(jì)量基于對(duì)電源芯片（涵蓋車規(guī)、工業(yè)、消費(fèi)電子、航天JG等領(lǐng)域）應(yīng)用場(chǎng)景的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，以電性能測(cè)試和老煉試驗(yàn)為核心，構(gòu)建了覆蓋“需求診斷 - 方案定制 - 測(cè)試執(zhí)行 - 數(shù)據(jù)交付”的全流程服務(wù)體系，精準(zhǔn)解決客戶核心訴求。

1.電性能測(cè)試：從方案到量產(chǎn)的全鏈條保障

電性能測(cè)試是判斷芯片功能與參數(shù)是否達(dá)標(biāo)的關(guān)鍵，廣電計(jì)量的優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在 “全流程可控”：

1）技術(shù)評(píng)估：結(jié)合芯片規(guī)格書(shū)（如輸入電壓范圍、輸出精度、紋波要求等），評(píng)估測(cè)試難點(diǎn)（如高頻信號(hào)干擾、微小電流測(cè)量）；

2）方案與平臺(tái)選型：匹配芯片類型（如 DC-DC 轉(zhuǎn)換器、LDO 穩(wěn)壓器）選擇適配的測(cè)試系統(tǒng)（如高精度 STS 8200）；

3）硬件與程序開(kāi)發(fā)：定制測(cè)試硬件（Socket/Kit/Loadboard，確保芯片與測(cè)試系統(tǒng)穩(wěn)定連接），開(kāi)發(fā)自動(dòng)化測(cè)試程序（覆蓋電壓、電流、功耗、動(dòng)態(tài)響應(yīng)等參數(shù)）；

4）量產(chǎn)測(cè)試：通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化流程實(shí)現(xiàn)高效篩選，保障測(cè)試一致性與數(shù)據(jù)可靠性。

案例：為某新能源汽車電源芯片定制測(cè)試方案時(shí)，針對(duì)其寬電壓輸入（8-36V）和高可靠性要求，開(kāi)發(fā)專用Loadboard 適配 STS8200 系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn) 2000 顆 / 天的測(cè)試效率，測(cè)試覆蓋率達(dá) 100%（含過(guò)壓保護(hù)、欠壓鎖定等 18 項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù)）。

2.老煉試驗(yàn)：極端環(huán)境下的可靠性驗(yàn)證

老煉試驗(yàn)是暴露芯片潛在缺陷的 “壓力測(cè)試”，廣電計(jì)量具備完善的硬件開(kāi)發(fā)與試驗(yàn)?zāi)芰Γ?/p>

1）定制化夾具設(shè)計(jì)：根據(jù)芯片封裝形式（如 SOP、QFN、BGA）設(shè)計(jì)專用老煉夾具，確保高溫環(huán)境下的電氣連接穩(wěn)定性；

2）全流程開(kāi)發(fā)能力：從老煉板原理圖設(shè)計(jì)、Layout（布局布線，避免高溫下的信號(hào)干擾），到制版、調(diào)試，直至最終老煉試驗(yàn)；

3）數(shù)據(jù)追溯：記錄老煉過(guò)程中的實(shí)時(shí)參數(shù)（如芯片溫度、工作電流），為后續(xù)分析提供依據(jù)。

為什么選擇廣電計(jì)量？

需求響應(yīng)快：24小時(shí)內(nèi)完成測(cè)試需求評(píng)估，5天內(nèi)出具定制化方案，解決客戶 “測(cè)試方案滯后于研發(fā)進(jìn)度” 的難題；

全流程省心：從測(cè)試夾具開(kāi)發(fā)、程序編寫(xiě)到最終篩選報(bào)告交付，客戶無(wú)需對(duì)接多環(huán)節(jié)，全程 “甩手掌柜” 模式；

數(shù)據(jù)可信度高：所有測(cè)試過(guò)程嚴(yán)格遵循 GJB、AEC-Q 等行業(yè)規(guī)范，數(shù)據(jù)可追溯、可審計(jì)，助力客戶通過(guò)下游廠商審核；

硬件支撐強(qiáng)：配置 STS8200 測(cè)試系統(tǒng)、三溫機(jī)械手+熱流罩、MCC 高溫老化系統(tǒng)、CHROMA 8000電源模塊測(cè)試系統(tǒng)等專業(yè)設(shè)備，兼顧測(cè)試精度與量產(chǎn)效率，滿足電源芯片從低功率到高功率、從小批量到大規(guī)模的全場(chǎng)景需求。

電源芯片的一次篩選，是保障終端設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的 “第一道關(guān)卡”。廣電計(jì)量以專業(yè)的技術(shù)能力、完善的流程管理和先進(jìn)的設(shè)備配置，為電源芯片一篩提供可靠解決方案，助力客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量、降低售后風(fēng)險(xiǎn)，在集成電路產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展中發(fā)揮關(guān)鍵支撐作用。