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金屬鉻在微機電系統(tǒng)中的應(yīng)用

中科院半導(dǎo)體所 ? 來源:芯學(xué)知 ? 2025-08-25 11:32 ? 次閱讀
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文章來源:芯學(xué)知

原文作者:芯啟未來

本文介紹了金屬鉻(Cr)在微機電系統(tǒng)領(lǐng)域中的應(yīng)用。

在微機電系統(tǒng)(MEMS)領(lǐng)域,金屬鉻(Cr)因其獨特的物理化學(xué)性質(zhì)和工藝兼容性而被廣泛應(yīng)用。其物理化學(xué)性質(zhì)表現(xiàn)為:具有較高的熔點約1907°C,良好的機械強度和硬度,楊氏模量范圍在190–230GPa之間,優(yōu)異的化學(xué)穩(wěn)定性,尤其在空氣中能形成致密的氧化鉻鈍化層而抗腐蝕,以及對多種襯底,如硅、二氧化硅、玻璃襯底,展現(xiàn)出極佳的黏附力。這些特性使其成為MEMS中重要的功能材料和工藝輔助材料。

Cr在MEMS中的沉積主要依賴物理氣相沉積(PVD)技術(shù),包括蒸發(fā)和磁控濺射。蒸發(fā)速度快,成本相對較低,但形成的薄膜臺階覆蓋性通常較差,且可能包含較多缺陷導(dǎo)致應(yīng)力控制困難。磁控濺射則更為常用,它能提供更好的薄膜均勻性、可控的應(yīng)力水平以及顯著改善的臺階覆蓋性。鉻膜通常呈現(xiàn)壓應(yīng)力狀態(tài),且本征應(yīng)力常常到GPa級別,通常通過工藝優(yōu)化(如調(diào)節(jié)濺射氣壓、偏壓、退火),應(yīng)力可控制在-500MPa(拉應(yīng)力)至+1GPa(壓應(yīng)力) 之間。

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圖Cr作為玻璃基底沉積Au的黏附層

在MEMS器件中,鉻的典型應(yīng)用主要基于其核心特性:優(yōu)異的黏附性和化學(xué)穩(wěn)定性使其成為不可替代的黏附層,廣泛應(yīng)用于金(Au)、鉑(Pt)等貴金屬電極或互連線與硅、二氧化硅、氮化硅等基底之間,顯著提高這些功能層的附著力和可靠性。其次,其良好的抗蝕性使其成為優(yōu)質(zhì)的硬掩模材料,在深硅刻蝕或玻璃襯底的濕法刻蝕工藝中作為掩膜。第三,Cr的生物相容性和化學(xué)惰性也使其適用于某些生物MEMS器件的電極或表面功能化層。最后,在光刻掩模版中,由透明基板和不透明的鉻(Cr)薄膜組成,Cr層作為遮光層,在曝光過程中,特定波長(如G-line, I-line, DUV, EUV)的光線照射到掩模版上,光線可以透過沒有鉻覆蓋的石英區(qū)域,但被鉻層阻擋。

Cr的厚度根據(jù)其在MEMS中的功能靈活設(shè)計,作為黏附層厚度為10-50nm,過厚(>50nm)可能增加界面應(yīng)力或降低電導(dǎo)率;作為硬掩膜厚度為100-300nm,需根據(jù)腐蝕深度,確保厚度足以阻擋刻蝕劑;作為光刻掩模版厚度為70-100nm,阻擋紫外光,需保證高光學(xué)密度。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:MEMS中的金屬材料:鉻

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導(dǎo)體所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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