使用操作

1 開(kāi)關(guān)機(jī)操作

● 長(zhǎng)按電源/ESC鍵2秒可進(jìn)行開(kāi)機(jī)、關(guān)機(jī)操作。

● 本儀器具備自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，此功能可關(guān)閉，自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間可設(shè)置；啟動(dòng)自動(dòng)關(guān)機(jī)功能后，當(dāng)儀器閑置一定的時(shí)間后將會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)。

● 本儀器具備低電量自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，當(dāng)電池電量耗盡時(shí)，會(huì)自動(dòng)停止測(cè)試過(guò)程，并自動(dòng)進(jìn)行關(guān)機(jī)操作。

注：以上所有情況，顯示屏都會(huì)顯示相應(yīng)的提示信息。

2 測(cè)試操作

在待機(jī)界面（測(cè)試參數(shù)設(shè)置界面）長(zhǎng)按“測(cè)試”鍵2秒進(jìn)入測(cè)試數(shù)據(jù)顯示界面并啟動(dòng)測(cè)試；在測(cè)試數(shù)據(jù)顯示界面短按“測(cè)試”鍵或“電源/ESC”鍵停止測(cè)試；長(zhǎng)按“測(cè)試”鍵可再次啟動(dòng)測(cè)試。

6.2.3 狀態(tài)欄

狀態(tài)欄位于顯示屏頂部，用于顯示當(dāng)前日期、當(dāng)前時(shí)間、外設(shè)工作狀態(tài)、電池信息等，見(jiàn)下圖：

頂部狀態(tài)欄示意圖

圖標(biāo) 說(shuō)明

儀器控制權(quán)狀態(tài)圖標(biāo)。當(dāng)儀器的控制權(quán)被APP剝奪時(shí)，顯示此圖標(biāo)。（此功能僅限于具有APP功能的儀器）

測(cè)試記錄查看圖標(biāo)。當(dāng)前儀器界面在測(cè)試記錄查詢界面時(shí)，顯示此圖標(biāo)；查看測(cè)試記錄集體數(shù)據(jù)時(shí)，此圖標(biāo)閃爍，以提醒用戶當(dāng)前顯示的是測(cè)試記錄數(shù)據(jù)。

藍(lán)牙連接成功圖標(biāo)。當(dāng)儀器通過(guò)藍(lán)牙接口與外部設(shè)備連接成功后，顯示此圖標(biāo)。

電池充電圖標(biāo)。當(dāng)儀器接入交流電源，且充電功能正常時(shí)，顯示此圖標(biāo)。

電池電量圖標(biāo)。顯示內(nèi)置電池當(dāng)前電量及其充電狀態(tài)。

電池電量低時(shí)，圖標(biāo)閃爍。

電池充電過(guò)程中，外框?yàn)榧t色。

電池充滿時(shí)，外框?yàn)榫G色。

6.2.4 電壓表功能及絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)置

儀器開(kāi)機(jī)后進(jìn)入待機(jī)界面，在此界面下儀器工作在電壓表模式，并且可對(duì)絕緣電阻測(cè)試參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，見(jiàn)下圖：

上下左右鍵可以控制顯示界面光標(biāo)位置，按下確認(rèn)鍵可進(jìn)入數(shù)值修改模式或直接修改參數(shù)設(shè)置。

當(dāng)沒(méi)有進(jìn)入數(shù)值修改狀態(tài)時(shí)，短按“電源/ESC”鍵，可進(jìn)入主菜單界面。

長(zhǎng)按“測(cè)試”鍵2秒，可啟動(dòng)測(cè)試過(guò)程，并進(jìn)入測(cè)試數(shù)據(jù)顯示界面。

● 電壓表：

電壓表功能可自動(dòng)測(cè)量“L(-)”端子和“E(+)”端子輸入的交流電壓值或直流電壓值；

當(dāng)被測(cè)電壓為直流電壓時(shí)，顯示直流電壓符號(hào)及其正負(fù)極性；

當(dāng)被測(cè)電壓為交流電壓時(shí)，顯示交流電壓符號(hào)及其頻率值；當(dāng)交流電壓信號(hào)頻率超范圍時(shí)，其頻率顯示為“----”。

● 絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)置

① 測(cè)試模式：將光標(biāo)移動(dòng)至此位置，按鍵“確認(rèn)”鍵，進(jìn)入數(shù)值修改狀態(tài)，測(cè)試模式選擇項(xiàng)閃爍顯示；此時(shí)可以使用“上”鍵或“下”鍵修改測(cè)試模式。

絕緣電阻IR：常規(guī)絕緣電阻測(cè)試模式；根據(jù)設(shè)定的測(cè)試時(shí)間自動(dòng)判斷是否進(jìn)行DAR測(cè)試和PI測(cè)試。

吸收比DAR：吸收比測(cè)試模式；

極化指數(shù)PI：極化指數(shù)測(cè)試模式；

步進(jìn)電壓SV：步進(jìn)電壓測(cè)試模式。

② 測(cè)試電壓：將光標(biāo)移動(dòng)至此位置，按鍵“確認(rèn)”鍵，進(jìn)入數(shù)值修改狀態(tài)，測(cè)試電壓值閃爍顯示；此時(shí)可以使用“上”鍵或“下”鍵修改測(cè)試電壓值。

具備6個(gè)固定電壓測(cè)試檔位，分別是：100V、250V、500V、1000V、2500V、5000V。

選擇自定義測(cè)試電壓模式時(shí)，短按“上”鍵或“下”鍵電壓調(diào)整步長(zhǎng)為10V；長(zhǎng)按短按“上”鍵或“下”鍵并且保持3秒以上時(shí)，電壓調(diào)整步長(zhǎng)為50V。

③ 短路電流：將光標(biāo)移動(dòng)至此位置，按鍵“確認(rèn)”鍵，進(jìn)入數(shù)值修改狀態(tài)，短路電流值閃爍顯示；此時(shí)可以使用“上”鍵或“下”鍵修改短路電流值。

④ 測(cè)試時(shí)間：將光標(biāo)移動(dòng)至此位置，按鍵“確認(rèn)”鍵，進(jìn)入數(shù)值修改狀態(tài)，短路電流值閃爍顯示；此時(shí)可以使用“上”鍵或“下”鍵修改短路電流值。

各種測(cè)試模式下的測(cè)試時(shí)間獨(dú)立保存互不影響，便于下次使用。

絕緣電阻IR：常規(guī)絕緣電阻測(cè)試模式；當(dāng)設(shè)置的測(cè)試時(shí)間大于等于DAR測(cè)試所需時(shí)間時(shí)，將自動(dòng)進(jìn)行DAR測(cè)試，并在測(cè)試完成后顯示DAR相關(guān)結(jié)果。

吸收比DAR：測(cè)試時(shí)間不可設(shè)置，固定為1分鐘。

極化指數(shù)PI：測(cè)試時(shí)間不可設(shè)置，固定為10分鐘。

⑤ 擊穿保護(hù)：將光標(biāo)移動(dòng)至此位置，按鍵“確認(rèn)”鍵修改設(shè)置。

開(kāi)啟擊穿保護(hù)功能后，在測(cè)試過(guò)程中一旦試品發(fā)生絕緣擊穿，則儀器自動(dòng)停止測(cè)試過(guò)程并提示“試品擊穿”；否則，儀器在試品發(fā)生絕緣擊穿后繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，儀器液晶屏顯示符號(hào)，以提示用戶試品已發(fā)生絕緣擊穿。

⑥ 電網(wǎng)頻率：將光標(biāo)移動(dòng)至此位置，按鍵“確認(rèn)”鍵修改設(shè)置。

電網(wǎng)頻率參數(shù)用于設(shè)置內(nèi)置硬件濾波器的濾波頻率，從而大大減小電網(wǎng)干擾對(duì)絕緣電阻測(cè)試結(jié)果的影響。

⑦ 濾波設(shè)置：將光標(biāo)移動(dòng)至此位置，按鍵“確認(rèn)”鍵，進(jìn)入數(shù)值修改狀態(tài)，濾波設(shè)置值閃爍顯示；此時(shí)可以使用“上”鍵或“下”鍵修改濾波設(shè)置值。

此設(shè)置項(xiàng)用于設(shè)置軟件濾波器的濾波參數(shù)，軟件濾波器可被關(guān)閉。軟件濾波器采用滑動(dòng)濾波算法進(jìn)行測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)的濾波，其滑動(dòng)窗口長(zhǎng)度單位為秒鐘；滑動(dòng)窗口長(zhǎng)度可設(shè)置為5S、10S、15S，設(shè)置的滑動(dòng)窗口越長(zhǎng)測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)達(dá)到真實(shí)值所需的時(shí)間越長(zhǎng)。

6.2.5 主菜單操作

主菜單中可選擇“絕緣測(cè)試”、“記錄查詢”、“時(shí)鐘設(shè)置”和“系統(tǒng)設(shè)置”四個(gè)子菜單。

絕緣測(cè)試：進(jìn)入絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)計(jì)界面；

在主菜單界面短按“測(cè)試”鍵可快速進(jìn)入；

記錄查詢：用于查看、編輯和導(dǎo)出已保存的測(cè)試數(shù)據(jù)；

時(shí)鐘設(shè)置：用于設(shè)置儀器內(nèi)置實(shí)時(shí)時(shí)鐘；

系統(tǒng)設(shè)置：可查看儀器基本信息、儀器設(shè)置、固件升級(jí)等。

6.2.6 絕緣電阻測(cè)試

安全提示：

● 在進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試接線前應(yīng)確認(rèn)試品是否帶電；即使試品已經(jīng)斷電，試品上也可能帶有感應(yīng)電。如果感應(yīng)電壓過(guò)高將會(huì)威脅操作人員的人身安全，此時(shí)必須按照安全規(guī)程規(guī)定進(jìn)行操作。

● 可以利用儀器自帶電壓表功能測(cè)量試品帶電情況，被測(cè)電壓值應(yīng)在電壓表規(guī)定的測(cè)量范圍內(nèi)。當(dāng)被測(cè)電壓值過(guò)高時(shí)，儀器內(nèi)部將會(huì)嚴(yán)重發(fā)熱甚至導(dǎo)致儀器燒毀。

● 測(cè)試停止或測(cè)試完成后，將儀器切換至電壓表模式，以便于查看試品帶電情況；當(dāng)試品放電完成后方可拆除測(cè)試線。

在絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)置界面長(zhǎng)按“測(cè)試”2秒，則會(huì)進(jìn)入測(cè)試數(shù)據(jù)顯示界面并啟動(dòng)測(cè)試，見(jiàn)下圖：

在此界面短按“測(cè)試”鍵或“電源/ESC”鍵將手動(dòng)停止測(cè)試；長(zhǎng)按“測(cè)試”鍵2秒將再次啟動(dòng)測(cè)試。在啟動(dòng)測(cè)試初期，高壓電源處于軟啟動(dòng)狀態(tài)；在停止測(cè)試初期，儀器將對(duì)外部試品放電；此時(shí)狀態(tài)指示燈為紅色且快速閃爍，蜂鳴器發(fā)出急促的 “嗶…嗶…嗶…”訊響音。當(dāng)進(jìn)入正常測(cè)試狀態(tài)時(shí)，狀態(tài)指示燈為紅色且每秒閃爍1次，蜂鳴器每秒發(fā)出1次 “嗶…”訊響音。

顯示數(shù)據(jù)說(shuō)明：

● 絕緣電阻圖示

以模擬量圖示的方式顯示當(dāng)前以及最終測(cè)量的絕緣電阻值。

● 測(cè)試參數(shù)設(shè)置

表頭顯示設(shè)置的測(cè)試模式；

Un：設(shè)置的測(cè)試電壓值；

tn：設(shè)置的測(cè)試時(shí)間；

測(cè)試起始日期及時(shí)間。

● 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示及高壓電源狀態(tài)

U：實(shí)時(shí)測(cè)量的輸出直流電壓值；

I：實(shí)時(shí)測(cè)量的輸出直流電流值；

t：測(cè)試時(shí)間計(jì)時(shí)器；

C：試品電容量。

① 當(dāng)實(shí)時(shí)絕緣電阻值超量程時(shí)，此處將顯示“﹥滿量程電阻值”。

② 高壓電源工作狀態(tài)：

圖標(biāo) 說(shuō)明

閃爍顯示此圖標(biāo)表示高壓電源處于工作狀態(tài)。

閃爍顯示此圖標(biāo)表示試品發(fā)生絕緣擊穿，測(cè)試已停止。

顯示此圖標(biāo)表示試品發(fā)生絕緣擊穿燃弧，測(cè)試持續(xù)進(jìn)行中。

CV 顯示此圖標(biāo)表示高壓測(cè)試電源當(dāng)前處于恒壓輸出狀態(tài)。

CC 顯示此圖標(biāo)表示高壓測(cè)試電源當(dāng)前處于恒流輸出狀態(tài)。

顯示此圖標(biāo)表示高壓測(cè)試電源發(fā)生超溫故障，測(cè)試已停止。

③ 在絕緣測(cè)試過(guò)程中顯示當(dāng)前測(cè)試狀態(tài)提示信息，并顯示測(cè)試完成時(shí)的測(cè)試電壓值。

● 最終測(cè)試數(shù)據(jù)

R15s：測(cè)試時(shí)間計(jì)時(shí)器達(dá)到15秒時(shí)的試品絕緣電阻值。

注意：當(dāng)“系統(tǒng)設(shè)置”→“設(shè)備設(shè)置”→“DAR模式”設(shè)置為“R60S/R30S”時(shí)，此處標(biāo)識(shí)將顯示“R30s”并顯示測(cè)試時(shí)間計(jì)時(shí)器達(dá)到30秒時(shí)的試品絕緣電阻值。

R60s：測(cè)試時(shí)間計(jì)時(shí)器達(dá)到60秒時(shí)的試品絕緣電阻值。

R600s：測(cè)試時(shí)間計(jì)時(shí)器達(dá)到600秒時(shí)的試品絕緣電阻值。

DAR：吸收比數(shù)值。

PI ：極化指數(shù)。

注意：

1. R15s、R30s、R60s、R600s、DAR、PI數(shù)值是否顯示，依賴于設(shè)置的測(cè)試模式及測(cè)試時(shí)間是否滿足需求。

2. R15s、R30s、R60s、R600s絕緣電阻值超量程時(shí)，與其相關(guān)的DAR、PI數(shù)值將無(wú)法計(jì)算，并顯示“----”。

3. 在SV測(cè)試模式將顯示R1～R5和U1～U5的數(shù)值。

● 操作功能按鈕

“保存數(shù)據(jù)”用于將當(dāng)前測(cè)試數(shù)據(jù)保存至儀器內(nèi)置存儲(chǔ)器。

6.2.7 記錄查詢

測(cè)試記錄查詢界面具備的功能：

● 查看已保存的測(cè)試記錄；

● 批量刪除已保存的測(cè)試記錄。

“上”鍵、“下”、“左”鍵、“右”鍵用于移動(dòng)光標(biāo)；當(dāng)光標(biāo)處于某條測(cè)試記錄時(shí)，短按“確認(rèn)”鍵可查看其詳細(xì)測(cè)試數(shù)據(jù)；長(zhǎng)按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入編輯模式并勾選當(dāng)前測(cè)試記錄，可選擇多條測(cè)試記錄，并對(duì)其進(jìn)行刪除操作；短按“電源/ESC”鍵退出編輯模式。

單擊此圖標(biāo)可勾選當(dāng)前屏幕中的所有測(cè)試記錄。

6.2.8 時(shí)鐘設(shè)置

時(shí)鐘設(shè)置界面見(jiàn)下圖所示：

“左”鍵、“右”鍵用于選擇需要設(shè)置的項(xiàng)目，短按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入數(shù)值修改狀態(tài)，此時(shí)“上”鍵、“下”鍵用于修改數(shù)值。

修改完畢后，單擊完成儀器時(shí)鐘的設(shè)置。

6.2.9 系統(tǒng)設(shè)置

● 設(shè)備信息

可查看設(shè)備軟硬件版本號(hào)、藍(lán)牙系統(tǒng)信息。

● 設(shè)備設(shè)置

單語(yǔ)言機(jī)型沒(méi)有“語(yǔ)言選擇”選項(xiàng)。

● 固件升級(jí)用于升級(jí)設(shè)備固件；

廠家設(shè)置屬于廠內(nèi)調(diào)試用，不對(duì)用戶開(kāi)放。

7測(cè)試模式詳解

7.1 IR測(cè)試模式

常規(guī)絕緣電阻測(cè)試模式；根據(jù)設(shè)定的測(cè)試時(shí)間自動(dòng)判斷是否進(jìn)行DAR測(cè)試和PI測(cè)試。

7.2 DAR吸收比測(cè)試模式

DAR吸收比測(cè)試模式固定測(cè)試時(shí)間為1分鐘，國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)其計(jì)算公式為：

式中： --- 測(cè)試開(kāi)始后第15秒的絕緣電阻值；

--- 測(cè)試開(kāi)始后第60秒的絕緣電阻值。

國(guó)際比較流行的還有以下計(jì)算公式：

式中： --- 測(cè)試開(kāi)始后第30秒的絕緣電阻值；

--- 測(cè)試開(kāi)始后第60秒的絕緣電阻值。

DAR吸收比的計(jì)算模式可通過(guò)“系統(tǒng)設(shè)置”→“設(shè)備設(shè)置”→“DAR模式”進(jìn)行設(shè)置。

7.3 PI極化指數(shù)測(cè)試模式

PI極化指數(shù)測(cè)試固定測(cè)試時(shí)間為10分鐘，其計(jì)算公式為：

式中： --- 測(cè)試開(kāi)始后第60 秒的絕緣電阻值；

--- 測(cè)試開(kāi)始后第600秒的絕緣電阻值。

7.4 SV步進(jìn)電壓測(cè)試模式

SV步進(jìn)電壓測(cè)試模式，將設(shè)定的測(cè)試電壓值以及測(cè)試時(shí)間平分成5等分，即步進(jìn)電壓值及步進(jìn)時(shí)間值。整個(gè)測(cè)試過(guò)程分成5步，并按照計(jì)算出的電壓步進(jìn)值和時(shí)間步進(jìn)值逐步提高測(cè)試電壓值。

本儀器最低輸出電壓值為50V，因此SV步進(jìn)電壓測(cè)試模式，經(jīng)過(guò)計(jì)算的步進(jìn)電壓值應(yīng)大于等于此值；否則，初始步驟按照最低50V電壓值進(jìn)行測(cè)試。

注意：測(cè)試電壓值及測(cè)試時(shí)間值在做5等分計(jì)算時(shí)，為整數(shù)運(yùn)算無(wú)小數(shù)部分為了達(dá)到預(yù)期的測(cè)試效果，測(cè)試電壓值及測(cè)試時(shí)間值最好設(shè)置為5的整數(shù)倍。