Texas Instruments TMAG5115高速、低抖動(dòng)、霍爾效應(yīng)鎖存器具有快速傳播延遲和低抖動(dòng)。TMAG5115還在整個(gè)溫度范圍內(nèi)具有高靈敏度穩(wěn)定性，并為需要高RPM的應(yīng)用提供了集成保護(hù)功能。低抖動(dòng)和低傳播延遲相結(jié)合有助于提高功效并降低系統(tǒng)級(jí)寄生噪聲。

數(shù)據(jù)手冊(cè)：*附件：Texas Instruments TMAG5115高速低抖動(dòng)霍爾效應(yīng)鎖存器數(shù)據(jù)手冊(cè).pdf

TI TMAG5115鎖存器具有開漏輸出級(jí)，具有15mA灌電流能力。2.5V至26V的寬工作電壓范圍可用于各種工業(yè)和商業(yè)應(yīng)用。針對(duì)輸出短路、過(guò)流和過(guò)熱情況提供內(nèi)部保護(hù)功能。

TMAG5115采用業(yè)界通用的SOT-23封裝。

特性

• 高速數(shù)字雙極鎖存霍爾傳感器
  • 低傳播延遲：5μs
  • 低抖動(dòng)：5μs
  • 帶寬 (BW) ：60kHz
• 支持寬電壓范圍
  • 2.5V至26V
  • 無(wú)需外部穩(wěn)壓器
• 62.5μs快速上電時(shí)間
• 多種BOP靈敏度選項(xiàng)
  • ±1mT
  • ±3mT
• 開漏輸出（15mA灌電流）
• 高精度閾值，在整個(gè)溫度和電壓范圍內(nèi)的最大變化為±1mT
• 保護(hù)特性
  • 輸出短路保護(hù)
  • 輸出電流限制
  • 過(guò)熱保護(hù)
• 寬工作溫度范圍：-40°C至+125°C
• 表面貼裝3引腳SOT-23 2.92mm x 1.30mm小型封裝和占位

簡(jiǎn)化應(yīng)用

輸出狀態(tài)

功能框圖

TMAG5115高速低抖動(dòng)霍爾效應(yīng)鎖存器技術(shù)解析與應(yīng)用指南

一、產(chǎn)品概述與核心特性

TMAG5115是德州儀器(TI)推出的高性能數(shù)字雙極鎖存型霍爾傳感器，具有以下突出特性：

• ?高速響應(yīng)能力?：
  • 超低傳播延遲：5μs
  • 低抖動(dòng)：5μs
  • 帶寬(BW)：60kHz
• ?寬電壓工作范圍?：2.5V至26V，無(wú)需外部穩(wěn)壓器
• ?快速啟動(dòng)時(shí)間?：62.5μs
• ?高精度閾值?：
  • ±3mT標(biāo)準(zhǔn)閾值(±1mT最大偏差)
  • ±1mT高精度閾值(±0.7mT最大偏差)
• ?全面保護(hù)機(jī)制?：
  • 輸出短路保護(hù)
  • 輸出電流限制
  • 過(guò)溫保護(hù)
• ?開漏輸出?：15mA灌電流能力
• ?寬溫工作范圍?：-40°C至125°C
• ?緊湊封裝?：3引腳SOT-23(2.92mm×2.37mm)

二、關(guān)鍵電氣參數(shù)

2.1 基本電氣特性

2.2 磁特性參數(shù)

三、功能原理與工作模式

3.1 磁場(chǎng)方向定義

• ?正磁場(chǎng)?：S極靠近器件標(biāo)記面
• ?負(fù)磁場(chǎng)?：N極靠近器件標(biāo)記面

3.2 輸出狀態(tài)邏輯

• ?B > BOP?：輸出拉低(有效)
• ?B < BRP?：輸出釋放(高阻)
• ?BRP < B < BOP?：保持前一狀態(tài)

3.3 電源管理

• ?啟動(dòng)時(shí)間?：62.5μs后輸出有效
• ?電源序列?：上電期間輸出保持高阻，結(jié)束時(shí)產(chǎn)生指示脈沖

四、應(yīng)用場(chǎng)景與選型指南

4.1 典型應(yīng)用

• 無(wú)繩電動(dòng)工具轉(zhuǎn)速檢測(cè)
• 真空機(jī)器人電機(jī)控制
• 計(jì)算機(jī)風(fēng)扇轉(zhuǎn)速監(jiān)控
• 工業(yè)BLDC電機(jī)換向

4.2 型號(hào)選擇

五、設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)

1. ?磁場(chǎng)強(qiáng)度?：應(yīng)用磁場(chǎng)應(yīng)超過(guò)規(guī)格書最大BOP/BRP值，并考慮溫度漂移
2. ?PCB材料?：避免使用鐵磁性PCB基材
3. ?機(jī)械公差?：確保磁體與傳感器間距穩(wěn)定
4. ?系統(tǒng)驗(yàn)證?：
   • 在不同溫度下測(cè)試磁閾值
   • 驗(yàn)證最大轉(zhuǎn)速下的信號(hào)完整性
   • 進(jìn)行EMC抗擾度測(cè)試