在現(xiàn)代電子測量領(lǐng)域，多設(shè)備協(xié)同測試已成為半導(dǎo)體研發(fā)、自動(dòng)化生產(chǎn)等場景的標(biāo)配。吉時(shí)利2600系列數(shù)字源表憑借其觸發(fā)同步功能，為復(fù)雜測試系統(tǒng)提供了納秒級(jí)時(shí)序控制能力。本文將系統(tǒng)解析該功能的配置方法，幫助工程師構(gòu)建高精度、高效率的測試解決方案。

一、觸發(fā)同步的核心架構(gòu)與原理
吉時(shí)利2600的觸發(fā)同步機(jī)制基于硬件與軟件的深度融合，支持三種核心觸發(fā)模式：
1.硬件觸發(fā)：通過TRIGIN/OUT端口實(shí)現(xiàn)設(shè)備間直接信號(hào)交互，適用于多通道并行測試（如IV曲線同步掃描）。TTL電平觸發(fā)可實(shí)現(xiàn)低于10ns的延遲，確保各通道激勵(lì)與采集完全同步。
2.軟件觸發(fā)：利用SCPI命令或IVI-COM API遠(yuǎn)程控制觸發(fā)事件，適用于集成到Python/LabVIEW自動(dòng)化測試流程。例如，在電池循環(huán)測試中，可通過軟件觸發(fā)實(shí)現(xiàn)充放電切換與數(shù)據(jù)采集的精確時(shí)序。
3.外部時(shí)鐘同步：支持10MHz參考時(shí)鐘輸入，可與示波器、任意波形發(fā)生器等設(shè)備共享同一時(shí)鐘源，消除分布式系統(tǒng)的時(shí)間漂移。此模式在高速信號(hào)完整性測試中尤為關(guān)鍵。
二、觸發(fā)同步配置四步法
步驟1：硬件連接與信號(hào)配置
根據(jù)觸發(fā)源選擇連接端口：
內(nèi)部觸發(fā)：使用儀器背板TRIG IN/OUT環(huán)路
外部觸發(fā)：連接第三方設(shè)備（如Agilent 33500B信號(hào)發(fā)生器）的TTL輸出至2600 TRIG IN
設(shè)置觸發(fā)信號(hào)電平：通過前面板菜單或程控命令配置TTL高電平（≥2V）或低電平（≤0.8V）有效。
步驟2：觸發(fā)事件定義
打開儀器Web界面"Trigger Setup"菜單，選擇觸發(fā)事件類型：
源輸出事件（Source ON/OFF）
測量完成事件（如電壓/電流閾值監(jiān)測）
軟件命令觸發(fā)（發(fā)送*TRG指令）
設(shè)置觸發(fā)延遲時(shí)間：可調(diào)整范圍0ns至10ms，用于補(bǔ)償信號(hào)傳輸延遲。
步驟3：多設(shè)備時(shí)序校準(zhǔn)
使用示波器監(jiān)測TRIG OUT信號(hào)波形，驗(yàn)證主從設(shè)備觸發(fā)脈沖的上升沿對(duì)齊誤差。
在分布式系統(tǒng)中，確保所有設(shè)備參考同一10MHz時(shí)鐘源，避免累積時(shí)間偏移。
步驟4：觸發(fā)序列編程（高級(jí)功能）
通過SCPI命令流實(shí)現(xiàn)復(fù)雜觸發(fā)邏輯：
此功能適用于多階段測試場景，如MOSFET開關(guān)特性分析中的柵極脈沖時(shí)序控制。
三、實(shí)戰(zhàn)案例：半導(dǎo)體參數(shù)測試同步方案
在C-V特性測試中，需同步源表電壓掃描與LCR表阻抗測量：
1. 配置2600為觸發(fā)源，設(shè)置"Source ON"事件觸發(fā)Agilent E4980A LCR表
2. 通過GPIB總線發(fā)送SCPI命令同步啟動(dòng)兩臺(tái)儀器
3. 利用示波器驗(yàn)證源表輸出階梯電壓與LCR表采樣脈沖的時(shí)間差小于20ns
此方案可消除寄生電容導(dǎo)致的測量誤差，提升數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。
四、關(guān)鍵注意事項(xiàng)
電磁兼容性：避免觸發(fā)線靠近大功率信號(hào)線，建議使用屏蔽電纜
時(shí)鐘同步優(yōu)先級(jí)：多設(shè)備系統(tǒng)必須共享同一參考時(shí)鐘，優(yōu)先選擇2600的10MHz輸入端口
延遲校準(zhǔn)：定期使用時(shí)間間隔計(jì)數(shù)器驗(yàn)證觸發(fā)延遲設(shè)置，補(bǔ)償溫度漂移影響

吉時(shí)利2600的觸發(fā)同步功能為精密測試提供了靈活而強(qiáng)大的工具鏈。通過深入理解其硬件架構(gòu)與軟件接口，工程師能夠構(gòu)建從納秒級(jí)時(shí)序控制到分布式系統(tǒng)同步的完整解決方案，滿足前沿科研與工業(yè)生產(chǎn)的嚴(yán)苛需求。

審核編輯 黃宇