同惠LCR測試儀TH2851作為一款高精度阻抗分析儀器，在電子元件測試中廣泛應(yīng)用。本文將詳細(xì)介紹如何使用該儀器測量電感參數(shù)，并解析關(guān)鍵設(shè)置要點(diǎn)與注意事項，幫助用戶獲得準(zhǔn)確可靠的測試結(jié)果。

一、測試前準(zhǔn)備與連接
1. 環(huán)境校準(zhǔn)與硬件連接
確保儀器預(yù)熱至少30分鐘，避免溫度漂移影響精度。
使用四端對（4T）測試夾具連接被測電感元件（DUT），降低接觸電阻至<0.1Ω，提升測量穩(wěn)定性。
檢查電源與接地線連接是否牢固，避免電磁干擾。
2. 系統(tǒng)校準(zhǔn)與夾具配置
進(jìn)入“System→Calibration”菜單，選擇“Full Calibration”，依次完成開路、短路及負(fù)載校準(zhǔn)。
若使用特殊夾具（如TH26086），需按說明進(jìn)行對應(yīng)校準(zhǔn)，確保系統(tǒng)補(bǔ)償精度。
二、關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置與測量流程
1. 測量模式與參數(shù)配置
選擇“C-LCR”測量模式，根據(jù)應(yīng)用場景設(shè)定測試頻率（如音頻選1kHz，射頻選10MHz）。
設(shè)置AC信號電平為0.1V~1V，避免過驅(qū)動導(dǎo)致非線性誤差；高頻測量時建議將平均次數(shù)設(shè)為10次，降低隨機(jī)噪聲影響。
2. 觸發(fā)測量與結(jié)果記錄
確認(rèn)DUT連接無誤后，按“Start”鍵或點(diǎn)擊觸摸屏圖標(biāo)觸發(fā)測量。
讀取顯示數(shù)值（如L=12.34mH±0.5%），并可通過USB/PC導(dǎo)出數(shù)據(jù)進(jìn)一步分析。
三、高級功能與優(yōu)化技巧
1. 動態(tài)特性分析（曲線掃描）
啟用“掃描模式”并設(shè)置頻率范圍（如100Hz~1MHz，點(diǎn)數(shù)≥100），實(shí)時繪制L-f曲線。
結(jié)合“軌跡對比”功能，分析曲線突變點(diǎn)（如接觸不良導(dǎo)致的阻抗跳變），評估元件穩(wěn)定性。
2. 等效電路建模（ECA）
選擇“3元件模型”（R-L串聯(lián)），輸入實(shí)測參數(shù)自動擬合，解析寄生電阻與電感值，指導(dǎo)元件選型優(yōu)化。
四、注意事項與故障排除
1. 接觸電阻優(yōu)化
定期清潔鍍金觸點(diǎn)，測量前短暫按壓夾具消除機(jī)械接觸不穩(wěn)定，避免接觸不良引入誤差。
2. 高頻干擾抑制
使用金屬屏蔽盒隔離外部電磁干擾，避免在強(qiáng)磁場環(huán)境中操作。
若測量值異常波動，檢查接地線、信號線連接是否松動，或重新進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。
總結(jié)
通過合理配置測試參數(shù)、嚴(yán)格校準(zhǔn)流程與注意事項，同惠LCR測試儀TH2851可高效完成電感參數(shù)測量。用戶需根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場景靈活調(diào)整設(shè)置，結(jié)合高級分析功能挖掘數(shù)據(jù)價值，確保測試過程精準(zhǔn)可靠。掌握本文所述方法，將為元件研發(fā)與質(zhì)量檢測提供有力支持。

審核編輯 黃宇